ICT3198線性IC參數(shù)分選測(cè)試儀

ICT3198 線性IC參數(shù)分選測(cè)試儀是繼ICT3100數(shù)字IC品質(zhì)分選測(cè)試儀之后向
國(guó)內(nèi)外市場(chǎng)推出的又一新品。它融合了國(guó)內(nèi)外同類產(chǎn)品的諸多優(yōu)點(diǎn)并有所**。是一種智
能化程度的新一代線性集成電路測(cè)試儀。它可對(duì)通常使用的單運(yùn)放及多運(yùn)放 、比較器等
進(jìn)行快速測(cè)試。

ICT3198線性IC參數(shù)分選測(cè)試儀特點(diǎn)：
1．根據(jù)IC型號(hào)自動(dòng)切換測(cè)試，無(wú)需人工轉(zhuǎn)接線更換測(cè)試盒。
2．具有自校準(zhǔn)功能，測(cè)試參數(shù)基準(zhǔn)穩(wěn)定。
3．測(cè)試參數(shù)值讀取快潔、直觀。
4．測(cè)試操作簡(jiǎn)單。
5．它可以對(duì)線性IC的11項(xiàng)交直流參數(shù)進(jìn)行測(cè)試及功能測(cè)試。
6．提供自適應(yīng)測(cè)試方式：以樣片為基準(zhǔn)，對(duì)同型號(hào)IC 進(jìn)行篩選測(cè)試進(jìn)行快速篩選。

ICT3198線性IC參數(shù)分選測(cè)試儀主要技術(shù)指標(biāo)

3．1 額定工作條件及規(guī)格：
整 機(jī) 功 耗： 35W
電 源： 220V/AC 50HZ
使用環(huán)境溫度： 5─35
相 對(duì) 濕 度： 45%RH
重 量： 5.5kg
外界電磁干擾： 避免

序 號(hào) 測(cè) 試 參 數(shù) 單 位 誤 差 1 失調(diào)電壓 Vio mV <5%
2 失調(diào)電流 Iio nA <5% 3 偏置電流 Iib nA <5%
4 靜態(tài)功耗 Pd mW <5% 5 開(kāi)環(huán)增益 Avd db <5%
6 共模抑制比 Kcmr db <5% 7 輸入電阻 Rid KΩ <10%
8 輸出電阻 Ros Ω <10% 9 增益帶寬積 Gbw KH <5%
10 電源電壓抑制比 Ksvr db <5% 11 輸出電壓峰--峰值 Vopp V
<5% 12 壓擺率 Sr V/us <10%
3．3
測(cè)試內(nèi)容說(shuō)明
靜態(tài)工耗是在測(cè)試電壓為± 8V下測(cè)得（個(gè)別特殊比較器在+12V/-6V下測(cè)得）。
·對(duì)于自適
應(yīng)測(cè)試，比較誤差小于5%
·失調(diào)電壓測(cè)量范圍：100uV─
100mV，
Vos 超過(guò) 100mV 時(shí)， 認(rèn)為功能失效；
|Vos| 在2mV
─100mV之間，相對(duì)誤差<3%；
|Vos| 在0.1
─2mV之間，相對(duì)誤差<6%
失調(diào)電流。
·偏置電流測(cè)量范圍：
Ios，Ib >10nA
時(shí) 相對(duì)誤差<3%；

Ios，Ib<10nA相對(duì)誤差<8%；
Ios；
Ib<0.5nA，相對(duì)誤差
較大。
·靜態(tài)功耗測(cè)量范圍：0.3─180mW、Pd>10mW，相對(duì)誤差 <3%
·輸出電阻測(cè)量范圍：25─2.5k，分辨率為5Ω

·輸入電阻測(cè)量范圍：20KΩ─15MΩ，分辨率KΩ

·輸入電阻高于15M的芯片不測(cè)此項(xiàng)參數(shù)，若“錯(cuò)敲”
鍵入型號(hào)，如測(cè)LF347
而鍵入
“342”
（LM324），所測(cè)的
輸入電阻是不真實(shí)的。
·壓擺率為擴(kuò)充測(cè)試項(xiàng)。