終身質(zhì)保 Siemens 505-4832 接觸器

功能測(cè)試不能代替參數(shù)測(cè)試 

2. 功能測(cè)試僅能測(cè)試到器件的截止區(qū)，放大區(qū)和飽和區(qū)，但無(wú)法了解此時(shí)的工作頻率的高低和速度的快慢。 

3. 對(duì)數(shù)字芯片而言，僅知道有高低電平的輸出變化，但無(wú)法查出它的上升和下降沿的變化速度。 

4. 對(duì)于模擬芯片，它處理的是模擬的變化量。其受電路的元器件的分布，解決信號(hào)方案的不同的影響，是錯(cuò)綜復(fù)雜的。就目前的在線測(cè)試技術(shù)，要解決模擬芯片在線測(cè)試是不可能的。所以，這項(xiàng)功能測(cè)試的結(jié)果，僅能供參考。 

5. 大多數(shù)的在線測(cè)試議，在對(duì)于電路板上的各類(lèi)芯片進(jìn)行功能測(cè)試后，均會(huì)給出“測(cè)試通過(guò)”或“測(cè)試不通過(guò)”。那么它為什么不給出被測(cè)器件是否有問(wèn)題呢？這就是這類(lèi)測(cè)試儀的缺撼。因?yàn)樵诰€測(cè)試時(shí)，所受影響（干擾）的因素太多。要求在測(cè)試前采取不少的措施（如斷開(kāi)晶振，去掉CPU和帶程序的芯片，加隔離中斷信號(hào)等等），這樣做是否均有效，值得研究。至少，目前的測(cè)試結(jié)果有時(shí)不盡人意。 

6. 了解在線測(cè)試儀的讀者，均知道有這么一句行話(huà)?！霸诰€測(cè)試時(shí)不通過(guò)的芯片不一定是損壞的；測(cè)試通過(guò)的芯片一定是沒(méi)有損壞的?！彼慕忉尀?，如器件受在線影響或抗干擾時(shí)，結(jié)果可能不通過(guò)，對(duì)此不難理解。那么，是否損壞的芯片在進(jìn)行測(cè)試時(shí)，均會(huì)得出“不通過(guò)”呢？回答確實(shí)不能肯定。筆者與同行均遇到過(guò)，明明芯片已損壞了（確切地說(shuō)換上這個(gè)芯片板子就不工作了），但測(cè)試結(jié)果是通過(guò)的。解釋為這是測(cè)試儀自身工作原理（后驅(qū)動(dòng)技術(shù)）所致。故此我們不能過(guò)分依賴(lài)在線測(cè)試儀（盡管各廠家宣傳的很玄）的作用，否則將使維修電路板的工作誤入歧途。

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在生產(chǎn)優(yōu)化階段，應(yīng)用了人工智能技術(shù)的西門(mén)子智能自適應(yīng)加工與刀具監(jiān)測(cè)軟件可以動(dòng)態(tài)優(yōu)化加工過(guò)程中的不確定因素，幫助客戶(hù)縮短5%-30%的金屬切削時(shí)間，同時(shí)實(shí)現(xiàn)機(jī)床主軸保護(hù)、刀具磨損監(jiān)測(cè)、主軸驅(qū)動(dòng)保護(hù)等多項(xiàng)功能。西門(mén)子車(chē)間資源管理軟件能夠分析整體設(shè)備效率 （OEE）、監(jiān)控車(chē)間生產(chǎn)進(jìn)程和資源狀態(tài)、優(yōu)化生產(chǎn)流程、提前準(zhǔn)備生產(chǎn)所需的刀具和程序資源，幫助客戶(hù)實(shí)現(xiàn)工廠透明化管理。面向機(jī)床行業(yè)的西門(mén)子工業(yè)邊緣解決方案能夠及時(shí)采集、分析和響應(yīng)生產(chǎn)過(guò)程中的高頻數(shù)據(jù)，幫助機(jī)床行業(yè)縮短創(chuàng)新周期、提高生產(chǎn)力。