工作室尺寸:W2000×H2100×D3000mm
外外箱尺寸約:W2850×H2500×D3500mm 以實際尺寸為準(zhǔn)
步入式恒溫恒濕試驗室是高低溫環(huán)境下，檢驗電子產(chǎn)品、材料、電工、儀器儀表的各種性能指針。電子產(chǎn)品為什么要做恒溫恒濕環(huán)境試驗? 隨著現(xiàn)代工業(yè)技術(shù)的迅速發(fā)展，電子電工產(chǎn)品的應(yīng)用領(lǐng)域日益廣闊，所經(jīng)受的環(huán)境條件也越來越復(fù)雜多樣。只有合理地規(guī)定產(chǎn)品的環(huán)境條件，正確的選擇產(chǎn)品的環(huán)境保護措施，才能保證產(chǎn)品在儲存運輸中免遭損壞，在使用過程中安全可靠。因此，對電子電工產(chǎn)品進行人工仿真環(huán)境試驗是保證其在生產(chǎn)、運輸、使用等各個環(huán)節(jié)中都安全可靠。出廠前對電子電工產(chǎn)品進行人工仿真環(huán)境試驗是保證質(zhì)量所的重要環(huán)節(jié)，因此環(huán)境試驗條件、試驗方法、試驗設(shè)備是否符合標(biāo)準(zhǔn)關(guān)系重大。
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)與滿足:
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗
第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗
第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗
GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗
第2部分：試驗方法試驗N：溫度變化
GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件