MPA II 是布魯克光譜部門集近 40 年設計和生產(chǎn) FTIR 和 FT-NIR 光譜儀經(jīng)驗的結晶，該儀器具有*的擴展靈活性和*的性能，為 FT-NIR 分析儀器樹立了新的標準。其高性能的附件和靈活的操作性，成為實驗室和過程分析開發(fā)各種方法的強有力工具，能夠大程度的滿足不同用戶科研和生產(chǎn) QA/QC 的需求。采用模塊化設計，可以針對每個分析任務進行單獨配置。

**的擴展性能
在有特定應用研發(fā)需求時，選擇好的測量方法很關鍵。MPA II 不僅可用于日常的 QA/QC 工作使用，也可用于復雜方法開發(fā)研究。
在*初測量時，通常不能確定哪種測量方式*好，通過 MPA II，只需嘗試幾種方法并選出結果好的方法即可。
液體樣品能夠在樣品腔內(nèi)用小玻璃瓶或比色皿進行測量，也可以用液體光纖探頭直接插入液體容器中進行測量。
散裝混合藥物可用固體光纖探頭進行組分測定，也可裝于小瓶中進行積分球測量。
顆粒、粉末、糊狀、膏狀等固體樣品可用積分球或固體漫透射進行測量。
加工后的片劑可用固體漫透射和自動進樣器進行分析。
由于 MPA II 是模塊化設計，有多種測量方法可供選擇，能夠輕松根據(jù)您的需求做出調(diào)整。該儀器結構緊湊、堅固耐用使其適合于在實驗室和工廠中使用。甚*可以置于實用工具車上用于移動應用。

**的創(chuàng)新技術
MPA II 綜合了當前世界近紅外光譜的前沿技術，具有杰出的性能和穩(wěn)定性：
長壽命光源，增強了產(chǎn)品耐用性，降低了維護成本。
經(jīng)久耐用的固態(tài)激光器，可提供波數(shù)精度。
準直的RockSolid™干涉儀，采用了三維立體角鏡技術，均為鍍金處理；能夠提供高精度的測試結果，減少故障的發(fā)生頻率，確保儀器的穩(wěn)定性。
高靈敏InGaAs檢測器，可以提供全波段的線性響應，保證精確性和再現(xiàn)性。
MPA II配備的所有光學元件都得到在線診斷系統(tǒng)的監(jiān)控，確保您的光譜儀正常運轉(zhuǎn)。一旦有任何元件不符合參數(shù)標準，用戶就能立刻收到通知。

便捷的維護措施
MPA II優(yōu)良的人性化設計使儀器維護方便快捷，大大節(jié)省了維護時間和成本。易耗品（如激光管和光源）都設計成長壽命型；但如需更換，系統(tǒng)將會自動提示用戶，并在線提供更換部件的幫助信息。所有易耗品都采用了預準直設計，可在短時間內(nèi)快速完成更換。
MPA II 通過以太網(wǎng)卡連接，借助局域網(wǎng)或網(wǎng)絡訪問，可實現(xiàn)對儀器的遠程控制和診斷。

10年質(zhì)保
MPA II FT-NIR光譜儀品質(zhì)**，我們?yōu)楦缮鎯x的移動部件和固態(tài)激光器提供10年質(zhì)保。

簡便的操作控制
人性化的工作平臺、簡便化的測量模式和指導，可以幫助用戶在 OPUS 軟件上實現(xiàn)標準分析方法的設定。單擊鼠標或按下觸摸鍵即可開始測量。
在控制面板上，用戶可直接了解儀器的工作狀態(tài)和測試是否完成。這些都使得儀器和軟件的操作更加容易，即使未受過培訓的人員也能夠輕松操控 MPA II。

MPA II 為 FT-NIR 光譜法帶來靈活性：可選各種擴展模塊用于不同物態(tài)樣品和應用研發(fā)。