DSR300微納器件光譜響應(yīng)度測試系統(tǒng)是一款專用于低微材料光電測試的系統(tǒng)。其功能全面,提供多種重要參數(shù)測試。系統(tǒng)集成高精度光譜掃描,光電流掃描以及光響應(yīng)速率測試。40μm探測光斑,實現(xiàn)百微米級探測器的光譜祥響應(yīng)度測量。超高穩(wěn)定性光源支持長時間的連續(xù)測試,豐富的光源選擇以及多層光學(xué)光路設(shè)計可擴展多路光源,例如超連續(xù)白光激光器,皮秒脈沖激光器,半導(dǎo)體激光器,鹵素?zé)?,氙燈等,滿足不同探測器測試功能的要求,是微納器件研究的優(yōu)選。
DSR300微納器件光譜響應(yīng)度測試系統(tǒng)功能:
■ 光譜響應(yīng)度■ 外量子效率
■ 單色光/變功率IV
■ 不同輻照度IT曲線(分辨率200ms)
■ 不同偏壓下的IT曲線
■ LBIC,Mapping
■ 線性度測試
■ 響應(yīng)速率測試
DSR300微納器件光譜響應(yīng)度測試系統(tǒng)主要技術(shù)參數(shù):



三維可調(diào)高穩(wěn)定探針臺結(jié)構(gòu),方便樣品位置調(diào)節(jié)





































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