XRD型偏光顯微熔點儀是專為材料學、生物化學、冶金學、有機化學、高分子及納米材料科學而研制。與光學或電子顯微鏡配合使用,在微觀上觀察記錄其融化、升華、結晶過程中的狀態(tài)和各種變化。并采用人性化“傻瓜”設計,自動化程度高,操作簡單,技術*,性能優(yōu)秀,結構新穎可靠。
技術參數(shù):
輸入電源: 交流220V ±10﹪ 45-60HZ
熱臺加熱工作電源: 直流24V 1.5A
攻 耗: 75W
溫度范圍: 室溫—400℃
熱臺外體溫度: 當熱體400℃;室溫25℃時≤70℃
熱體載物重量: 200克
工作方式: 連續(xù)
精 度:測量精度: 全范圍≤±0.3﹪
系統(tǒng)波動度: ±1℃
升溫速度(MAX位): 室溫—100℃≤40秒
可設置最慢升溫速度: 36秒/℃,達400℃時間:4小時
可設置升溫速度范圍: MAX—36秒/℃
即刻恒溫響應時間: ≤0.01秒
工作臺外形尺寸: Φ110mm ,厚度:12mm
工作臺工作面尺寸: Φ30mm分別有透射光和反射光兩種
重 量: 7.6Kg
外包裝尺寸: 360×215×365mm




































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