7900 ICP-MS

Agilent 7900 ICP-MS 是一款靈活的四極桿質(zhì)譜系統(tǒng)，可提供業(yè)界的檢測限、最寬的動(dòng)態(tài)范圍和的氦氣碰撞模式。因此，您可以確保每次報(bào)告的數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性，即使在痕量分析中也是如此。7900 ICP-MS 為商業(yè)和工業(yè)應(yīng)用提供了的性能，并具有高級研究所需的靈活性。高靈敏度和瞬時(shí)信號(hào)的快速采集是納米顆粒、單細(xì)胞分析和激光剝蝕所必需的，讓您能夠在競爭中脫穎而出。

特性

的基質(zhì)耐受能力 — Agilent 7900 ICP-MS 的穩(wěn)定等離子體和超高基質(zhì)進(jìn)樣系統(tǒng) (UHMI) 選件能夠?qū)側(cè)芙鈶B(tài)固體 (TDS) 含量高達(dá) 25% 的樣品進(jìn)行常規(guī)測量，其基質(zhì)耐受能力比傳統(tǒng) ICP-MS 高 100 倍，遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了其他任何 ICP-MS。

最寬的動(dòng)態(tài)范圍 — 新型正交檢測器系統(tǒng) (ODS) 可提供高達(dá) 11 個(gè)數(shù)量級的動(dòng)態(tài)范圍，從亞 ppt 級到百分級濃度，用戶可在同一次運(yùn)行中同時(shí)測量痕量與常量元素。

痕量物質(zhì)檢測更勝 — 新型接口設(shè)計(jì)和優(yōu)化的擴(kuò)展級真空系統(tǒng)提高了離子傳輸效率，在 < 2% CeO 的條件下可提供 > 10⁹
cps/ppm 的靈敏度，ODS 則可提高增益并降低背景，進(jìn)而提高信噪比。

更快的瞬時(shí)信號(hào)分析 — 7900 ICP-MS 每秒可完成 10000 次獨(dú)立測量，可為瞬時(shí)信號(hào)的準(zhǔn)確分析提供極短的積分時(shí)間。

的易用性 — 一代 ICP-MS MassHunter 軟件具有直觀的控制面板設(shè)計(jì)，可指導(dǎo)您完成每一步分析。只需簡單回答幾個(gè)應(yīng)用相關(guān)的問題，或者對一個(gè)典型的樣品進(jìn)行分析，創(chuàng)新的方法設(shè)置向?qū)Ъ纯勺詣?dòng)為您創(chuàng)建方法。您還可以使用遠(yuǎn)程監(jiān)控應(yīng)用程序隨時(shí)隨地監(jiān)測與控制您的 ICP-MS 儀器，增強(qiáng)了靈活性。

更高的分析效率 — 超高基質(zhì)進(jìn)樣系統(tǒng) (UHMI) 技術(shù)結(jié)合了可選的集成進(jìn)樣系統(tǒng) (ISIS 3) 以及 ODS，可以在最寬的動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)分析并定量幾乎任何樣品，避免了因超量程結(jié)果而不得不重新分析所耗費(fèi)的額外時(shí)間及成本。