■儀器原理
能量色散X熒光光譜儀是利用熒光X射線具有不同能量的特點(diǎn),將來(lái)自試樣的熒光X射線依次檢測(cè),得到一系列幅度與光子能量成正比的脈沖,經(jīng)放大器放大后送到多道脈沖分析器。按脈沖幅度的大小分別統(tǒng)計(jì)脈沖數(shù),脈沖幅度可以用X光子的能量標(biāo)度,從而得到計(jì)數(shù)率隨光子能量變化的分布曲線,即X光能譜圖。
■產(chǎn)品特點(diǎn)
1.采用美*原裝電致冷高性能Si-PIN探測(cè)器,分辨率高,探測(cè)范圍寬,涵蓋RoHS、鹵素、鍍層、合金(含貴金屬)及各種常規(guī)材料分析的基本要求。
2. 配置*的DPP數(shù)字多道信號(hào)集成處理器,比普通模擬多道信號(hào)處理器性能更佳,尤其在高計(jì)數(shù)率時(shí)有較好的分辨力(如Hg和Cl等),高達(dá)80MHz的數(shù)據(jù)傳輸速度使分析時(shí)間更短,測(cè)量重復(fù)性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性較好。
3. 內(nèi)置高清攝像系統(tǒng),清晰觀察樣品,準(zhǔn)確定位樣品測(cè)試區(qū)域。
4. 配套新的FP測(cè)量軟件,集成多種譜圖處理算法和基體校正算法,降低儀器測(cè)量中的各種干擾譜峰,使低含量和痕量元素的檢測(cè)結(jié)果































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