部份：系統(tǒng)組成整體概述

冷熱沖擊試驗(yàn)箱主要用于測試材料對溫或低溫的抵抗力，這種情況類似于不連續(xù)地處于高溫或低溫中的情形，冷熱沖擊試驗(yàn)?zāi)苁垢鞣N物品在zui短的時間內(nèi)完成測試

GB/T2423.1-2008試驗(yàn)A 、GB/T2423.2-2008試驗(yàn)B、GB-T10592-2008、GJB150.3-198、GJB360A-96方法107溫度沖擊試驗(yàn)的要求。

滿足的試驗(yàn)方法：GJB150.5-86  溫度沖擊試驗(yàn)，符合MIL，IEC，JIS規(guī)范。

第二部份：冷熱沖擊試驗(yàn)箱用途：

冷熱沖擊試驗(yàn)箱廣泛用于電子電器零元件、自動化零部件、通訊元件、汽車 配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量,從精密的IC到重機(jī)械的元件，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

第三部份：冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB-2423.1-89（IEC68-2-1）試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法。

GB-2423.2-89（IEC68-2-2）試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法。

GJB360.8-87（MIL-STD-202F）高溫壽命試驗(yàn)。

GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法。

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法。      

GJB150.3-86；

GJB150.4-86；

GJB150.5-86； 

注：由于公司產(chǎn)品在持續(xù)研發(fā)和升級過程中，故針對我司網(wǎng)上展示的相關(guān)產(chǎn)品和參數(shù)沒有及時更新的，詳細(xì)產(chǎn)品信息以我司業(yè)務(wù)部同事發(fā)送的產(chǎn)品和報價單的參數(shù)為準(zhǔn)， 恕不另行通知！