AZtecAM是一個(gè)功能*、自動(dòng)化程度高的整體解決方案,專(zhuān)門(mén)用于分析增材制造(3D打?。┲惺褂玫慕饘僭牧戏勰K贏ZtecFeature平臺(tái)的基礎(chǔ)上優(yōu)化了顆粒分析流程,以實(shí)現(xiàn)金屬粉末的快速、準(zhǔn)確表征。
AZtecAM自動(dòng)檢測(cè)和識(shí)別原材料粉末中雜質(zhì)顆粒、記錄粉末顆粒形貌特征,也可深入研究單個(gè)顆粒,提供從形貌到成分、單個(gè)到統(tǒng)計(jì)的所有信息,是確保*的增材制造工藝和高品質(zhì)產(chǎn)品的理想工具。
結(jié)合AZtecLive*的能譜分析系統(tǒng),AM可以:
對(duì)粉末進(jìn)行表征
- 檢測(cè)和識(shí)別異物顆粒
- 表征粉末形態(tài)特征
- 對(duì)感興趣的單個(gè)顆粒進(jìn)行更細(xì)致的觀察
應(yīng)用舉例
- 在生產(chǎn)過(guò)程中粉末質(zhì)量監(jiān)控
- 確定粉末是否可回收/再利用(根據(jù)粉末顆粒形態(tài)確定)
- 檢索異物顆粒并了解其成分,以便識(shí)別污染源
性能
- 使用SDD技術(shù)進(jìn)行高速采集
- 大范圍自動(dòng)化分析,分辨率達(dá)到納米級(jí)別
- 使用牛津儀器多年EDS算法,元素識(shí)別及定量準(zhǔn)確性高
多樣性
- 開(kāi)放性系統(tǒng),可自定義分析步驟及分類(lèi)
- 兼容于大多數(shù)掃描電鏡
- 現(xiàn)有系統(tǒng)可升級(jí),獲取AZtecAM功能
- 重新定位到感興趣顆粒后,使用WDS、EBSD和EDS進(jìn)行更多分析
- 可在AZtecAM基礎(chǔ)上升級(jí)獲得大面積面掃拼圖(LAM)、定量EDS面掃等功能

































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