LEAK-S1真空壓力衰減法無損密封儀采用真空衰減法測試，適用于食品、制藥、科研、電子元器件等行業(yè)的瓶、管、罐、盒、袋等產(chǎn)品的無損密封試驗(yàn)及包裝完整性驗(yàn)證，以及安瓿瓶、西林瓶等試樣的微小漏孔及泄漏量的無損密封性檢測。

產(chǎn)品特征

雙壓法測試原理，對產(chǎn)品進(jìn)行無損檢測，測試結(jié)果重復(fù)性好，測試結(jié)束后自動(dòng)判定試驗(yàn)結(jié)果

高精度的壓力測試系統(tǒng)，適用于檢測微小漏孔,也可以鑒別大漏孔樣品,并自動(dòng)判定合格與不合格的樣品

采用進(jìn)口的氣動(dòng)元件，進(jìn)口雙壓力傳感器，性能穩(wěn)定可靠

可預(yù)設(shè)多級真空，用于分析試樣的泄漏壓力及最小泄漏量

多重試驗(yàn)?zāi)Ｊ剑喾N產(chǎn)品測試模式，可儲(chǔ)存多種標(biāo)準(zhǔn)試樣種類  

大液晶觸摸屏顯示，一鍵化操作，操作界面簡單直觀

真空、測試和平衡時(shí)間可調(diào)，并可存儲(chǔ)于數(shù)據(jù)庫中，保證測試條件的一致性

試驗(yàn)曲線實(shí)時(shí)顯示，數(shù)據(jù)智能統(tǒng)計(jì)，方便快速查看檢測結(jié)果

具有數(shù)據(jù)自動(dòng)存儲(chǔ)、歷史數(shù)據(jù)可進(jìn)行快速查看并打印

可測試微米級漏孔的泄漏性能，數(shù)據(jù)結(jié)果具有可溯源性

配備微型打印機(jī)和USB通用數(shù)據(jù)接口，方便數(shù)據(jù)輸出和傳遞

配有GMP權(quán)限管理系統(tǒng)，具備用戶管理、數(shù)據(jù)審計(jì)追蹤等功能

測試原理

真空壓力衰減法無損密封儀主機(jī)連接一個(gè)真空衰減腔，將試樣放入此測試腔內(nèi)抽真空，試樣內(nèi)外有壓差，氣體通過漏孔進(jìn)入真空衰減腔和主機(jī)，主機(jī)利用壓力傳感器和差壓傳感器監(jiān)測測試腔內(nèi)的真空度變化，通過真空度變化量來判斷試樣是否合格及樣品最小泄漏量。

測試標(biāo)準(zhǔn)

參照標(biāo)準(zhǔn) ASTM F2338、USP 40-1207法規(guī)要求、YY/T 0681.18 無菌科研包裝試驗(yàn)方法 第18部分：用真空衰減法無損檢驗(yàn)包裝泄漏。

技術(shù)指標(biāo)