Langer干擾發(fā)射探頭套組(IC測(cè)試系統(tǒng))
品牌:Langer EMV-Technik
型號(hào):P1601/P1702
基于IEC61967-4標(biāo)準(zhǔn)的傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)量,射頻場(chǎng)發(fā)射至1GHz
Langer干擾發(fā)射探頭套組P1601/P1702介紹:
P1601/P1702的測(cè)量確保了測(cè)量的高重復(fù)性和可比性。可以使用 ChipScan-ESA 軟件進(jìn)行測(cè)量。利用該軟件保存了所有被測(cè)點(diǎn)的測(cè)量結(jié)果。它允許系統(tǒng)地、快速地比較和分析測(cè)量數(shù)據(jù)。
Langer干擾發(fā)射探頭套組P1601/P1702配置:
1x P1601
1x P1702, 高頻電場(chǎng)探頭
1x CS-ESA set, ESA芯片掃描軟件
1x D70 h03
1x D70 h10
1x SMA-SMA 1 m, SMA-SMA 測(cè)量電纜
1x SMA-SMB 1 m, SMA-SMB 測(cè)量電纜
1x N-SMA
1x P1600 / P1700 case, System case
1x P1600 / P1700 m


簡(jiǎn)短的介紹:
P1601:射頻磁場(chǎng)探頭具有50Ω 的射頻測(cè)量輸出。為了定位不同方向的磁場(chǎng)電流,射頻磁場(chǎng)探頭在集成電路上方旋轉(zhuǎn)360 ° 。在距離環(huán)(3或10)毫米的幫助下,射頻磁場(chǎng)探針被定位在 IC 上方的一定距離內(nèi)。

P1702型高頻電場(chǎng)探頭用于測(cè)量從一個(gè)集成電路發(fā)出的電場(chǎng)。這些電場(chǎng)會(huì)耦合到探頭的電極上。由此產(chǎn)生的延遲電流會(huì)造成相連的頻譜分析儀的輸入端電壓下降。相連的頻譜分析儀會(huì)測(cè)量這些壓降。

ESA芯片掃描軟件用于遙控頻譜分析儀,存儲(chǔ)并記錄測(cè)量曲線。這些曲線可以任意的相互或者與校正曲線、與頻率相關(guān)的曲線和曲線常數(shù)換算。

































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