DDR5/DRAM/DDR5 RCD/DDR5 DB/CPU DDR5物理層高速多通道Tx/Rx信號質量測試測試儀及協(xié)議功能性驗證測試解決方案

DDR5 RCD/DB測試解決方案，DDR5 DRAM測試解決方案，DDR5誤碼測試儀，DDR5 DIMM測試解決方案，DDR5接收機/發(fā)射機測試解決方案

針對LPDDR5/DDR5提供了高速多通道的誤碼測試儀（BERT）, 適合用在DDR5 DRAM/RCD/DB等物理層接收機信號質量完整性測試及針對DDR5協(xié)議層之功能性驗證. 目前DDR 4/5 DB/RCD高速多通道碼型產(chǎn)生器有廣泛的應用在各大DDR5相關的廠商中，完整的支持DDR5 DRAM Test Suite，DDR5 R-DIMM Test Suite， DDR5 RCD Test Suite，DDR5 DB Test Suite，LPDDR5 DRAM Test Suite等等。代表客戶包括： Intel, AMD, IDT, Rambus, Montage, Micron，Hynix等等。

DDR 4/5 DB/RCD高速多通道碼型產(chǎn)生器產(chǎn)品特色：

*的硬件能力，提供寬廣且連續(xù)的操作頻率，單臺硬件設備可同時支持16 Tx/16 Rx測試，每個信道可達12.5Gsps。單機分別提供可獨立控制的信號產(chǎn)生器與碼型偵測器。

靈活的物理層控制能力，各通道可以獨立控制并提供抖動注入(Jitter Injection)、相位調整(Skew)、電壓擺幅控制以及時序調整的能力，大幅提高測試完整度。

提供多種協(xié)議模型，可應用在DRAM、DB、RCD與Module等產(chǎn)品開發(fā)。

輕巧且可攜帶的體積，在實驗桌上即可以完成系統(tǒng)級測試。

彈性且靈活的Python軟件開發(fā)環(huán)境，可搭配控制循環(huán)進行多個測試變量的自動化測試并自動產(chǎn)生測試報告。