智能兩槽式冷熱沖擊試驗箱

產(chǎn)品詳情
兩槽式冷熱沖擊試驗箱，采用獨立高溫區(qū)與低溫區(qū)的雙箱體結(jié)構(gòu)設(shè)計，通過提籃或風(fēng)門快速切換實現(xiàn)溫度沖擊。箱體由優(yōu)質(zhì)不銹鋼打造，配以大尺寸可視窗口與彩色觸摸屏控制器，支持USB數(shù)據(jù)導(dǎo)出與遠程監(jiān)控，造型美觀且操作人性化。

智能兩槽式冷熱沖擊試驗箱

用途
該設(shè)備主要用于驗證電子元器件、PCB板、半導(dǎo)體、金屬材料、高分子復(fù)合材料及汽車零部件等產(chǎn)品，在瞬間溫度變化下的物理耐受性和化學(xué)穩(wěn)定性。通過快速溫變沖擊，可高效暴露產(chǎn)品潛在缺陷，是研發(fā)、品控與可靠性篩選的關(guān)鍵測試設(shè)備。

技術(shù)參數(shù)

• 溫度沖擊范圍：-65℃～+150℃（可定制）

• 高溫室預(yù)熱溫度上限：+200℃

• 低溫室預(yù)冷溫度下限：-75℃

• 溫度恢復(fù)時間：≤5分鐘（負載條件下）

• 溫度波動度：≤±0.5℃

• 溫度均勻度：≤±2.0℃

• 沖擊轉(zhuǎn)換時間：≤10秒

• 內(nèi)箱容積：50L、80L、150L、225L、500L（多規(guī)格可選）

• 冷卻方式：風(fēng)冷/水冷可選

• 控制器：7英寸/10英寸彩色觸摸屏，支持PLC可編程控制

工作原理
設(shè)備采用兩箱式結(jié)構(gòu)，高溫室與低溫室獨立預(yù)熱和預(yù)冷。測試時，樣品籃或風(fēng)門機構(gòu)在控制器指令下，將樣品快速從高溫室切換至低溫室，或反向操作，從而對樣品施加急劇的溫度變化沖擊。循環(huán)氣流設(shè)計確保室內(nèi)溫度均勻，實現(xiàn)高效的熱傳遞與冷熱交替。

性能特點

• 沖擊切換速度極快，真實模擬嚴(yán)苛溫度驟變環(huán)境。

• 獨立雙溫區(qū)設(shè)計，避免相互干擾，溫場穩(wěn)定性高。

• 具備自動除霜功能，長期運行穩(wěn)定可靠。

• 配備多重安全保護（過熱、過流、缺相、漏電等）。

• 低噪音、低能耗，符合現(xiàn)代環(huán)保節(jié)能要求。

技術(shù)優(yōu)勢

• 采用智能PID+SSR控制算法，控溫精準(zhǔn)且無過沖。

• 壓縮機組與關(guān)鍵制冷配件均選用國際品牌，耐用性高。

• 支持多段式程序編排，可執(zhí)行復(fù)雜自定義沖擊曲線。

• 具備歷史曲線記錄與故障自診斷報警功能，維護便捷。

• 模塊化設(shè)計，后期維修和部件更換更加簡單快速。

滿足標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 2423.1-2008（高溫試驗）

• GB/T 2423.2-2008（低溫試驗）

• GB/T 2423.22-2012（溫度變化試驗）

• IEC 60068-2-14（環(huán)境試驗 第2部分：試驗N）

• MIL-STD-810G（美國標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境試驗）

• GJB 150.5A-2009（設(shè)備溫度沖擊試驗）

應(yīng)用場景
廣泛應(yīng)用于航空航天電子、5G通信基站模塊、新能源汽車三電系統(tǒng)（電池、電機、電控）、芯片封裝測試、LED光電產(chǎn)品、精密儀器儀表以及第三方檢測校準(zhǔn)實驗室等領(lǐng)域。

產(chǎn)品特點

• 兩槽式結(jié)構(gòu)，轉(zhuǎn)換效率高，測試吞吐量大。

• 觸控操作界面，支持中英文切換與權(quán)限管理。

• 箱體保溫層厚實，外壁溫度接近常溫，安全節(jié)能。

• 觀察窗自帶防凝露電熱膜，視野清晰。

• 可配備液氮輔助制冷或遠程監(jiān)控接口，滿足特殊需求。