HAST高加速壽命PCB老化試驗箱
HAST高加速壽命試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性,是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的,這些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。
HAST高加速壽命PCB老化試驗箱
HAST設(shè)備特點(diǎn)
標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計更安全:內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計防止結(jié)露滴水,符合國家安全容器規(guī)范;
多重保護(hù)功能:各種超壓超溫、干燒漏電及誤操作等多重人機(jī)保護(hù);
穩(wěn)定性更高:內(nèi)置自研PID控制算法,確保溫度、濕度以及壓力值準(zhǔn)確度。
濕度自由選擇:飽和與非飽和自由設(shè)定;
智能化高:支持電腦連接,利用usb數(shù)據(jù)、曲線導(dǎo)出保存。
HAST高加速壽命PCB老化試驗箱
用于評估非氣密性封裝IC器件(固態(tài)設(shè)備)在高溫高濕條件下的運(yùn)行可靠性,對芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進(jìn)行溫濕度(偏壓)高加速應(yīng)力壽命老化試驗。
應(yīng)用領(lǐng)域: PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規(guī)級芯片





























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