多孔碳紙測(cè)厚儀 鈦氈測(cè)厚儀

Hp-CHY-G高精度測(cè)厚儀適用包裝塑料薄膜、紙張、電容BOPP薄膜、金屬鋁箔、太陽能電池硅片等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度精確測(cè)量。采用全自動(dòng)測(cè)試模式，可連續(xù)測(cè)量也可單點(diǎn)測(cè)量模式，測(cè)試分辨率高達(dá)0.0001mm。

測(cè)試原理采用接觸式測(cè)試，截取一定尺寸試樣，測(cè)厚儀測(cè)量頭自動(dòng)降落于試樣之上，依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測(cè)試出試樣的厚度值。

多孔碳紙測(cè)厚儀 鈦氈測(cè)厚儀

技術(shù)特征

★測(cè)量頭自動(dòng)升降，避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差

★微電腦控制、大液晶顯示
★手動(dòng)、自動(dòng)雙重測(cè)量模式，更方便客戶選擇
★配備微型打印機(jī)，數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印，方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果
★測(cè)厚儀自動(dòng)保存最多100組測(cè)試結(jié)果，隨時(shí)查看并打印
★標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定,方便用戶快速標(biāo)定設(shè)備

滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817

技術(shù)指標(biāo)

測(cè)量范圍：0～2mm（常規(guī)）

分 辨 率：0.1μm

測(cè)量速度：10次/min（可調(diào)）

測(cè)量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（紙張） 

接觸面積：50mm²（薄膜）；200mm²（紙張） 

注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制

電    源：AC 220V 50Hz

外形尺寸：300 mm (L)×275 mm (B)×300 mm (H)

凈    重：30kg

產(chǎn)品配置

標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、微型打印機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件

選購(gòu)件：專業(yè)軟件、通信電纜、測(cè)量頭、配重砝碼、自動(dòng)進(jìn)樣器