檢測基體

鐵基、銅基、鋁基、鎳基、鈷基、鎂基、鈦基、鋅基、鉛基等

檢測時間

試樣品類型而定，-般25s左右

光學系統(tǒng)

帕型-龍格羅蘭圓全譜光學系統(tǒng)

波長范圍

130-800nm

焦 距

400mm

探測器

檢測器模塊、線陣CCD

電 極

鎢材噴射電極

分析間隙

樣品臺分析間隙: 3.5mm

工作溫度

(10-35)°C

存儲溫度

(0-45)°C

工作濕度

20%-80%

氬氣純度要求

99.999%

氬氣進口壓力

0.5MPa

氬氣流量

激發(fā)流量約3.5L/min

光源類型

可調(diào)節(jié)數(shù)字化光源，高能預燃技術(shù)(HEPS)

放電頻率

100-1000 Hz

放電電流

380A

激發(fā)臺孔徑

13mm

真空系統(tǒng)

真空系統(tǒng)

工作電源

220V AC,50/60Hz,保護性接地的單相電源

儀器尺寸

860×660×360mm

儀器重量

80kg

分析功能

添加新校準曲線

在現(xiàn)有分析曲線上添加新標樣

全部或部分工作曲線標準化，運用單點或兩點校準方法

類型校準功能

校準和分析時進行重現(xiàn)性檢查

內(nèi)標校準功能，基體校準功能

分析譜線自動切換

分析結(jié)果超分析曲線范圍，自動進行推算及標識

豐富的數(shù)據(jù)輸出形式

用戶自定義樣品名稱

用戶自定義需檢測元素及顯示順序

用戶自定義需檢測/打印/存儲的元素種類

用戶自定義需檢測/打印/存儲的小數(shù)點數(shù)位

可用光強形式輸出強度，系數(shù)校準強度系數(shù)，修正校準強度系數(shù)分析結(jié)果

可計算任意激發(fā)次數(shù)測量結(jié)果的均值、標準偏差及相對標準偏差

可通過物質(zhì)含量形式輸出質(zhì)量百分比及多條相關(guān)譜線質(zhì)量百分比分析結(jié)果

數(shù)據(jù)存儲及打印功能

可存儲統(tǒng)計數(shù)據(jù)

可人工或自動進行存儲數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)存

可打印單次測量數(shù)據(jù)，和/或多次測試數(shù)據(jù)之平均值

可打印統(tǒng)計數(shù)據(jù)

可人工或自動打印所有的存儲數(shù)據(jù)

通過系統(tǒng)自帶數(shù)據(jù)庫進行存儲

數(shù)據(jù)可存儲為多種數(shù)據(jù)格式

數(shù)據(jù)可存儲為單次測量數(shù)據(jù)，和或多次測試數(shù)據(jù)之平均值

其他功能

牌號數(shù)據(jù)庫及自定義牌號輸入功能

牌號數(shù)據(jù)序輸入及輸出功能(通過Excel)

用戶自定義公式輸入功能

1

線陣CCD

Toshiba

日 本

2

光 柵

Zeiss

德 國

3

光學鏡片

Zeiss

德 國

4

光 纖

Agilent

美 國

5

狹 縫

lenoxlaser

美 國

6

濾波器

TDK

日 本

7

壓力傳感器

SSI

加拿大

8

電 磁 閥

Burkert

德 國

9

光源模塊

CHINRONDO

本公司

10

系統(tǒng)控制模塊

CHINRONDO

本公司

11

數(shù)據(jù)采集模塊

CHINRONDO

本公司

12

真空光學模塊

CHINRONDO

本公司

13

激發(fā)臺模塊

CHINRONDO

本公司

14

系統(tǒng)軟件

CHINRONDO

本公司

15

電 腦

品牌

中 國

16

打 印 機

品牌

中 國

17

標 樣

國家標準

中國或進口

Q235、59銅、SCM435

18

砂輪機

臺式

中國

19

氬氣

自配

20

穩(wěn)壓器

選配