常見問題

• 傳統(tǒng)測量顯微鏡使用的模擬音量調(diào)節(jié)不能實(shí)現(xiàn)光強(qiáng)度的定量評估，這可能導(dǎo)致光強(qiáng)度變化時測量值的變化。
  
• 對于傳統(tǒng)的測量顯微鏡，每次切換物鏡時都可能需要調(diào)整光強(qiáng)度，以實(shí)現(xiàn)低效的工作流程。

STM7解決方案

通過光強(qiáng)度值的定量數(shù)字顯示關(guān)閉控制

STM7系列提供光強(qiáng)度的定量數(shù)字顯示，可在一致的照明條件下進(jìn)行觀察。

光強(qiáng)度管理器無需手動調(diào)節(jié)

光強(qiáng)度管理器可與編碼旋轉(zhuǎn)物鏡轉(zhuǎn)換器配置一起使用。編碼旋轉(zhuǎn)物鏡轉(zhuǎn)換器可自動檢測物鏡的切換。這允許為每個物鏡記錄照明方法和光強(qiáng)度，并且在切換物鏡時的測量期間自動調(diào)節(jié)。現(xiàn)在無需手動調(diào)節(jié)光強(qiáng)度，這在放大倍率之間的每次切換時都需要。

5xIntensity 50

20xIntensity 70

100xIntensity 120

常見問題

• 在視覺測量期間，高度測量的結(jié)果可以在不同的操作員之間變化。
  
• 手動高度測量要求操作員重復(fù)移動平臺并用手柄調(diào)節(jié)焦距，使測量耗時且效率低。
  
• 專注于諸如鍵合線之類的微小物體是困難的。

STM7解決方案

專用自動對焦單元：出色的再現(xiàn)性和聚焦速度

無論操作員的經(jīng)驗(yàn)水平如何，STM7專用自動對焦裝置均可在*短的時間內(nèi)完成高精度的高度測量。使用反射有源共焦方法可提供與表面粗糙度或傾斜樣品表面無關(guān)的穩(wěn)定焦點(diǎn)，而小激光直徑可實(shí)現(xiàn)自動對焦，即使在諸如鍵合線等微小物體上也是如此。

常見問題

• 短測量行程排除了較大樣本的測量。
  
• 在測量期間補(bǔ)償比X軸覆蓋更短的Y所需的樣本旋轉(zhuǎn)是時間效率低的。到目前為止，大型平臺在X軸上提供了足夠的測量覆蓋率，但在Y軸上的覆蓋范圍較小。
  
• 由于測量范圍窄，不可能在舞臺上排列大量樣品進(jìn)行測量。

STM7解決方案

• 提供四種類型的平臺，每種平臺具有的方形測量行程（可選擇50 mm x 50 mm，100 mm x 100 mm，200 mm x 200 mm和300 mm x 300 mm）。從小尺寸樣品到大尺寸樣品，有一個適合被測樣品的階段。
  
• 離合器系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)粗調(diào)和精調(diào)之間的快速切換。由于這種切換功能，平臺也可以沿X軸和Y軸快速移動，并在XY平面上自由移動。
  
• 300 mm方形長度的工作臺可以將相同的測量行程應(yīng)用于X和Y軸，這意味著它可以用于測量大樣本，例如300 mm晶圓和印刷電路板，而無需改變其方向。
  

Common Problems

• Most conventional measuring microscopes only accept a measuring objective or metallurgical objective, and so are unable to meet the requirements for a wide variety of observations.

STM7 Solutions

• The STM7 accepts both a metallurgical objective and a measuring objective by exchanging a revolving nosepiece with a measuring objective adapter. This means that the STM7 combines both metallurgical optics and measuring optics in one microscope. In this way, the STM7 series satisfi es a range of needs, no matter whether measuring a wide area or tiny region, measuring the size of differences betwe en levels, or assisting the user in deciding on the best observation method to choose.