1、產品特點:
DECTRIS EIGER2 X/XE光子計數(shù)X射線探測器將混合像素科技中的發(fā)展成果轉化成的探測性能。歸功于其高達2000Hz的幀率,低于100ns死區(qū)時間的無損探測,以及單像素點擴散函數(shù)帶來的理想計數(shù)統(tǒng)計率,使得該探測器能在線站上采集極為準確的數(shù)據。
新型的EIGE2R X/XE 系列探測器可以為要求極為苛刻的同步輻射應用提供的探測性能。具有連續(xù)讀數(shù)能力以及千赫茲幀速率的成像能力為時間分辨類實驗和XPCS提供了一種全新的手段,使得像ptychography類的慢速掃描成像技術成為可能。高分辨率和連續(xù)的衍射實驗受益于較小的成像尺寸,通過X射線的直接轉換可以獲得的點擴散函數(shù)。在理想情況下每單位面積的計數(shù)速率可以與持續(xù)增加的波束線亮度相匹配。
2、核心優(yōu)勢:
- 混合成像計數(shù):單光子成像計數(shù)模式下的X射線直接轉換能力
- 千赫幀速率占空比> 99%
- 75μm像素尺寸的高空間分辨率
- 優(yōu)秀的點擴散函數(shù)
- 無讀出噪聲和暗電流
- 極其緊湊的外殼
3、應用領域:
-X射線光子相關光譜(XPCS)
- Ptychography(疊層衍射)成像技術
- 時間分辨實驗
- 大分子晶體學(MX)
- 單晶衍射(SCD)
- 粉末衍射(PD)
- 表面衍射
- 小廣角/X光散射(粉煤灰/蠟)
- X射線成像
| 型號 | EIGER2 X 500K | EIGER2 X 1M | EIGER2 X 4M | EIGER2 X 9M | EIGER2 X 16M | EIGER2 XE 9M | EIGER2 XE 16M |
| 有效面積:寬x高 [mm2] | 77.1 x 38.4 | 77.1 X 79.7 | 155.1 x 162.2 | 233.1 x 244.7 | 311.1 x 327.2 | 233.1 x 244.7 | 311.1 x 327.2 |
| 像素大小 [μm2] | 75 x 75 | ||||||
| 總像素數(shù)量 | 1028x512 | 1028x1062 | 2068 x 2162 | 3108 x 3262 | 4148X4362 | 3108 x 3262 | 4148X4362 |
| 間隙寬度, 水平/垂直(像素) | -/- | -/38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 |
| 幀頻* [Hz] | 2000 | 2000 | 500 | 230 | 130 | 550 | 550 |
| 計數(shù)器深度 [ bit ] | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 |
| 讀出時間 | 連續(xù)讀數(shù) | ||||||
| 點擴散函數(shù) | 1 pixel | ||||||
| 傳感器材料 | Si | ||||||
| 傳感器厚度 [μm] | 450 | ||||||
| 能量范圍 [keV] | 6-40 | ||||||
| 計數(shù)率 [ph/s/pixel] | 107 | ||||||
| 尺寸(WHD)[mm3] | 114 x 92 x 242 | 114 x 133 x 242 | 235 x 237 x 372 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 |
| 重量 [kg] | 3.7 | 4.7 | 15 | 41 | 55 | 41 | 55 |
| 冷卻方式 | 水冷(模塊)/風冷(電子學) | 水冷(模塊)/風冷(電子學) | 水冷(模塊)/風冷(電子學) | 水冷(模塊)/風冷(電子學) | 水冷(模塊)/風冷(電子學) | 水冷(模塊)/風冷(電子學) | 水冷(模塊)/風冷(電子學) |































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