SDY-5型雙電測四探針測試儀 |
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| SDY-5型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙位組合測量技術(shù),利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測量,能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響,從而提高了測量結(jié)果的準(zhǔn)確度 使用本儀器進(jìn)行測量時,由于不需要進(jìn)行幾何邊界條件和探針間距的修正,因而對各種形狀的薄膜材料及片狀材料有廣泛的適用性。儀器特別適用于測量片狀半導(dǎo)體材料電阻率以及硅擴(kuò)散層、離子注入層、異型外延層等半導(dǎo)體器件和液晶片導(dǎo)電膜、電熱膜等薄層(膜)的方塊電阻. 儀器以大規(guī)模集成電路為核心部件,特別采用了平面輕觸式開關(guān)設(shè)計和各種工作狀態(tài)LED指示.并應(yīng)用了微計算機(jī)技術(shù),利用HQ-710F型微計算機(jī)作為專用測量控制及數(shù)據(jù)處理器,使得測量、計算、讀數(shù)更加直觀、快速,并能打印全部預(yù)置和測量數(shù)據(jù)。 技術(shù)指標(biāo): 1、測量范圍:電阻率:0.001-200Ω.cm(可擴(kuò)展) 薄層電阻:0.01-2000Ω/口(可擴(kuò)展) 可測晶片厚度:≤3.00mm 2、恒流電源:電流分為100mA、1mA、10mA、 100ma 四檔 ;連續(xù)可調(diào);穩(wěn)定度優(yōu)于0.3% 3、數(shù)字電壓表:量程:0-199.99mV;分辨率:0.01mV精度:±0.1% 顯示:四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示。極性、小數(shù)點(diǎn)、超量程自動顯示; 4、模擬電路測試誤差:(用1、10、100、1000 ?精密電阻測量)≤±0.3%±1字; 5、整機(jī)準(zhǔn)確度:(用0.01至180Ω.cm硅標(biāo)樣片測試)≤4% 6、專用微計算機(jī)功能: A 鍵盤控制測量取數(shù),自動控制電流換向和電流、電壓探針的變換,并進(jìn)行正、反向電流下的測量,顯示出平均值 B 鍵盤控制數(shù)據(jù)處理,按內(nèi)存公式計算出薄層電阻或電阻率平均值以及百分變化。 C 鍵盤控制打印全部測量數(shù)據(jù)。包括測量條件,各次測量平均值、值、最小值,百分變化等數(shù)據(jù)。 7、外形尺寸:電氣主機(jī):360mm×320mm×100mm; 微計算機(jī):300mm×210mm×105mm 8、儀器重量:電氣主機(jī):約4kg;測試架(J-2A型):約5kg;微計算機(jī):約2.5kg; 9、電源:AC 220V±10%,50Hz,功率<25W 10、測試環(huán)境:溫度23±2℃;相對濕度≤65%;無高頻干擾;無強(qiáng)光照射。 |





































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