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精密實驗室（Precision-lab）- 實驗室分析解決方案！光學顯微鏡、無目鏡體視顯微鏡、臺式電鏡、鎢燈絲掃描電子顯微鏡、場發(fā)射掃描電子顯微鏡、透射電子顯微鏡、原子力顯微鏡、超聲波掃描顯微鏡、激光共聚焦顯微鏡等顯微鏡產品中國區(qū)代理商，旗下?lián)碛袊H貿易、行業(yè)解決方案研發(fā)、測試服務等板塊。是多家國際品牌在中國區(qū)的戰(zhàn)略合作伙伴。在深圳、上海、北京、西安等地設有辦事處。在中國科研領域高速發(fā)展的關鍵時期，精密實驗室充分利用自身技術實力，依托順暢的進出口渠道，致力于為中國科研提供便利條件及更具性價比的服務，同時也在努力成長為精密的國產儀器設計與制造商。

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產品簡介在線詢價

追求理想的三維結構分析通過自動重復使用FIB制備截面和進行SEM觀察，采集一系列連續(xù)截面圖像，并重構特定微區(qū)的三維結構。采用的鏡筒布局，從材料、設備到生物組織——在寬廣的領域范圍內實現(xiàn)傳統(tǒng)機型難以企及的高精度三維結構分析。SEM鏡筒與FIB鏡筒互成直角，形成三維結構分析的鏡筒布局融合高亮度冷場發(fā)射電子槍與高靈敏度檢測系統(tǒng)，從磁性材料到生物組織——支持分析各種樣品通過選配口碑良好......

高精度實時三維分析FIB-SEM三束系統(tǒng) NX9000 產品詳情

概述

產品參數(shù)

追求理想的三維結構分析

通過自動重復使用FIB制備截面和進行SEM觀察，采集一系列連續(xù)截面圖像，并重構特定微區(qū)的三維結構。

采用的鏡筒布局，從材料、設備到生物組織——在寬廣的領域范圍內實現(xiàn)傳統(tǒng)機型難以企及的高精度三維結構分析。

SEM鏡筒與FIB鏡筒互成直角，形成三維結構分析的鏡筒布局
融合高亮度冷場發(fā)射電子槍與高靈敏度檢測系統(tǒng)，從磁性材料到生物組織——支持分析各種樣品
通過選配口碑良好的Micro-sampling®系統(tǒng)*和Triple Beam®系統(tǒng)*，可支持制作高品質TEM及原子探針樣品

產品參數(shù)

項目		內容
SEM	電子源	冷場場發(fā)射型
	加速電壓	0.1 ～ 30 kV
	分辨率	2.1 nm@1 kV
	分辨率	1.6 nm@15 kV
FIB	離子源	鎵
	加速電壓	0.5 ～ 30 kV
	分辨率	4.0 nm@30 kV
	束流	100 nA
標準探測器		In-colum二次電子探測器/In-colum背散射電子探測器/ 樣品室二次電子探測器
樣品臺	X	0 ～ 20 mm *2
	Y	0 ～ 20 mm *2
	Z	0 ～ 20 mm *2
	θ	0 ～ 360° *2
	τ	-25 ～ 45° *2
樣品尺寸		正方形邊長6 mm × 厚度2 mm

*2：
根據樣品座不同，行程不同

關鍵詞：標準

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