泰克 AFG31000 系列是全新智能型 AFG，它內(nèi)置任意波形發(fā)生和實時波形監(jiān)測功能，并擁有市場上的觸摸屏。全新AFG31000 提供了高級波形生成和編程功能，支持波形監(jiān)測，擁有的觸摸屏界面，讓每個科研人員和工程師的測試變得更簡單，讓工作變得更輕松。

主要性能指標

單或雙通道型號

輸出幅度范圍 1mVP-P ~ 10VP-P 至 50Ω 負載

基本 (AFG) 模式:

25 MHz, 50MHz, 100MHz, 150MHz, 或 250MHz 正弦波形

250 MSa/s, 1GSa/s 或 2GSa/s 采樣率

14 位垂直分辨率

內(nèi)置波形包括正弦、方波、鋸齒波、脈沖、噪聲和其他常用波形

掃描、突發(fā)和調(diào)制模式 (AM, FM, PM, FSK 和 PWM)

高級 (序列) 模式:

連續(xù)模式 (選配序列模式、已觸發(fā)模式和選通模式)

每條通道上 16Mpts 任意波形內(nèi)存 (128Mpts 選配)

序列模式下最多 256 步，支持循環(huán)、跳轉(zhuǎn)和等待事件

可變采樣時鐘 1μSa/s ~ 2GSa/s

主要功能

憑借已獲的 InstaView™ 技術，工程師可以實時查看被測器件 (DUT) 上的實際波形，而不需使用示波器和探頭，降低了因阻抗不匹配引起的不確定度

波形序列選項可以對復雜的長波形編程，支持最多 256 步

9 英寸容性觸摸屏的操作與智能手機類似，為常用設置提供了快捷方式

內(nèi)置 ArbBuilder 可以在儀器上創(chuàng)建和編輯任意波形，而不需要連接電腦

可以防止輸出發(fā)生過壓和過流，限度地降低儀器損壞的潛在風險

兼容 TekBench™ 軟件，在實驗室中幫助學生設置、控制和分析測試結(jié)果

應用

高級研究

時鐘和系統(tǒng)同步

復現(xiàn)真實世界信號

元器件和電路表征和驗證

嵌入式電路設計和測試

通用信號生成