AV6332光回波損耗測試儀 

品牌：CETC(中電科41所)

產(chǎn)品綜述

AV6332光回波損耗測試儀可同時(shí)測量插入損耗和回波損耗。操作簡單，一機(jī)多用。適用于單模光纖光纜、光器件的插入損耗和回波損耗的測量。

校準(zhǔn)參數(shù)可以存儲，用戶不需要每天校準(zhǔn)，簡化了測量過程。測量重復(fù)性好，接頭易于清潔。廣泛應(yīng)用于光纖通信科研、教學(xué)和生產(chǎn)領(lǐng)域。

主要特點(diǎn)

l  測量速度快

l  動態(tài)范圍大：0～70dB

l  回?fù)p、插損同時(shí)測量

l  測試接口易拆卸和清潔

測量速度快

該產(chǎn)品為用戶提供了校準(zhǔn)參數(shù)存儲功能，當(dāng)測試系統(tǒng)未發(fā)生改變時(shí)，再次開機(jī)，儀器直接調(diào)用上次關(guān)機(jī)前保存的校準(zhǔn)參數(shù)，無須再次進(jìn)行校準(zhǔn)設(shè)置，簡化了測試步驟。

另外，該產(chǎn)品為提高易用性，軟件上做了特別設(shè)計(jì)，使得僅須簡單切換按鍵，即可同時(shí)測量出回?fù)p和插損，大大提高了測量速度。

動態(tài)范圍大：0～70dB

該產(chǎn)品內(nèi)部光路采用了超低反射的光器件，電路上采用了同相檢測技術(shù)，使得儀器回波損耗測量范圍很大，可達(dá)70dB，可以滿足PC、UPC、APC端面的回?fù)p測試。

回?fù)p、插損同時(shí)測量

該產(chǎn)品面板上有“功率”和“回?fù)p”按鍵，測試過程中，只須操作按鍵，簡單切換，即可同時(shí)測量出被測件的回?fù)p和插損。

測試接口易拆卸和清潔

該產(chǎn)品的功率端口支持多種連接方式，可配備FC型接頭、接頭或LC型接頭，根據(jù)被測件接口（如FC、SC、ST、LC等）類型的不同，用戶可自行拆卸更換。功率端口結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)巧妙，拆卸簡單，清潔方便。

該產(chǎn)品的回?fù)p端口和光源輸入端口一體化設(shè)計(jì)，無需拆機(jī)即可整體拆卸，使內(nèi)部光纖端頭的清潔非常方便。

典型應(yīng)用

如下圖所示，使用AV6332光回波損耗測試儀同時(shí)測量FC/UPC型跳線的回波損耗和插入損耗。

　    對AV6332光回波損耗測試儀進(jìn)行參考反射存儲、零點(diǎn)反射存儲及插損參考點(diǎn)設(shè)置后，接入被測跳線，在回?fù)p測量狀態(tài)下，將被測器件的后端實(shí)施光纖終止，此時(shí)測量值即為被測器件的回波損耗，釋放光纖，將被測器件接入功率端口，切換到功率測量方式，此時(shí)測量值即為被測器件的插入損耗。

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