技術參數(shù)  

探測器配置 

●高靈敏電制冷SiLi探測器技術,儀器免維護和*運行,壽命達15年以上（可選用：液氮SiLi 探測器） 

●*的分辨率： 電制冷SiLi 探測器 晶體面積15mm2 分辨率<155ev 

（可選用： 液 氮SiLi 探測器 晶體面積30mm2 分辨率<149ev） 

●超大SiLi 晶體,*的痕量分析的靈敏度,打破lng的檢測限壁壘X-光管

●50KV,50瓦,*流端窗X-射線管,具有*束流。高穩(wěn)定,壽命可達15年以上 

●多濾光片技術,8位濾光片可根據(jù)分析對象元素,有效探測.可清晰分辨相鄰 

元素

數(shù)據(jù)采集 

● 全數(shù)字脈沖處理器技術,死時間達60%，以及優(yōu)異的峰背比,*的提高分析速度及精度 

● 采用多道（32位4096道）脈沖分析器，*的提高分析精度及其速度 

● 超大樣品室，可容納305mm×389mm×66mm的樣品增高室可選215mm或371mm 

● 全自動校準，自動監(jiān)測，自動報警系統(tǒng)，*計算機控制 

● 鍍層和薄膜測量技術, 具有無標樣分析測厚技術 

● 方便快捷的運輸和移動 

● 高性能，操作簡便WinTrace軟件

主要特點

● 分析元素范圍　Na－Ｕ 

● 分析元素的濃度范圍　ppm— 

● 整機穩(wěn)定性連續(xù)8小時測RSD<0.25% 

● 高級FP無標樣分析軟件，無標樣條件下誤差小于1%。減少對標樣的依賴性 

● ROHS/WEEE檢測時間100-120秒 

● 樣品類型： 固體，液體，粉末，濾渣，鍍層及其他

ARL QUANT''X 應用領域： 

●  應對RoHS & WEEE 指令分析    

●  各種金屬膜厚度測量、工業(yè)鍍層厚度測量  

●  氣溶膠顆粒濾膜， 刑偵以及痕量分析  

●  土壤、催化劑、礦石、原材料成份分析等  

●  營養(yǎng)添加劑 ,各種油品成份分析等  

●  磁性磁性介質(zhì)和半導體，各種合金、貴金屬成份分析