數(shù)字式超聲波探傷儀XCT680

1.1 功能特點

l 外形結(jié)構(gòu)

全鋁金屬殼體，堅固耐用，電磁屏蔽性能

360度旋轉(zhuǎn)阻尼支架及橡膠護套手感細膩，使用方便。

鋼化玻璃面板，硬度，耐磨防劃。

l 顯示界面

全中文顯示，主從式菜單，向?qū)讲僮?，并有快捷按鍵和數(shù)碼旋輪輔助，操作便捷。

全數(shù)字真彩色液晶顯示器，分辨率為640X480，界面和波形的顯示更加細膩和人性化。

操作界面風格4種可選擇，液晶亮度可自由設(shè)定。

l 截屏和PDF探傷報告

實時截屏所有頁面和探傷報告，并保存為BMP圖片到U盤，可設(shè)置為彩色或灰度圖片。

將探傷報告導出為PDF文件保存到U盤，方便存檔和打印。

可以根據(jù)用戶需求定制PDF文件的所有內(nèi)容。

BMP圖片和PDF文件可以在電腦或手機上實時瀏覽。

l 檢測范圍

零界面入射：0~15000mm(鋼中、縱波)，可連續(xù)調(diào)節(jié)

l 發(fā)射脈沖

脈沖幅度：100V、200V、250V、300V、350V、400V、450V、500V分級選擇，適用探頭范圍廣

脈沖寬度：在(0.01~0.50)µs范圍內(nèi)連續(xù)調(diào)節(jié)，以匹配不同頻率的探頭

探頭阻尼：50Ω、150Ω、250Ω、500Ω可選，滿足靈敏度及分辨率的不同工作要求

工作方式：單晶直探頭、單晶斜探頭、雙晶直探頭、雙晶斜探頭、穿透探傷

l 放大接收

硬件實時采樣：高分辨率16位AD采樣，采樣速度320MHz，波形高度保真

檢波方式：正半波、負半波、全波、射頻檢波

濾波頻帶（0.2~20）MHz，根據(jù)探頭頻率全自動匹配，無需手動設(shè)置。

閘門讀數(shù)：單閘門和雙閘門讀數(shù)方式可選；閘門內(nèi)峰值讀數(shù)

增益：總增益量110dB，設(shè)0.1dB、1dB、2dB、6dB步進值，的全自動增益調(diào)節(jié)及掃查增益功能，使探傷既快捷又準確。

l 閘門報警

A閘門和B閘門具有同樣功效，門位、門寬、門高任意可調(diào)；可選擇設(shè)置進波報警或失波報警；并伴有LED發(fā)光顯示

l 數(shù)據(jù)存儲

儀器內(nèi)置海量存儲器，數(shù)據(jù)和文件不會因儀器斷電丟失。

可預(yù)先調(diào)校好各類探頭和儀器的組合參數(shù)及行業(yè)探傷標準等保存到指定探傷通道中，儀器內(nèi)部支持500組探傷通道存儲和1000組探傷報告存儲。

可以通過USB接口或U盤導出探傷通道和探傷報告，也可通過U盤無存儲探傷信息。

l 錄像功能

儀器支持將探傷的過程記錄下來存成錄像文件，可以通過儀器或?qū)Ｓ密浖M行回放。本機支持10個錄像文件，每個錄像文件最長5分鐘。通過U盤錄像則不限錄像數(shù)量和時長。將探傷的過程錄像并回放，為學習探傷提供了很大方便，也便于保存探傷過程日后分析。

回放支持暫停，快進，快退，停止功能

l 探傷功能

探傷標準：內(nèi)置各行業(yè)常用探傷標準，直接調(diào)用，方便、快捷

自動校準：探頭零點和探頭角度（K值）自動校準功能；聲速自動測量功能

波峰記憶：實時檢索缺陷**波，記錄缺陷值

缺陷定位：實時顯示缺陷水平、深度（垂直）、聲程位置

缺陷定量：缺陷當量dB值或當量尺寸實時顯示

缺陷定性：通過回波包絡(luò)波形，方便人工經(jīng)驗判斷

曲面修正：用于曲面工件探傷，可實時顯示缺陷周向位置

DAC/AVG：曲線自動生成，取樣點不受限制，并可進行補償與修正。曲線隨增益自動浮動、隨聲程自動擴展、隨延時自動移動。能顯示任意孔徑的AVG曲線。

AWS D1.1: 美國焊接學會標準，為各類AWS焊縫檢測應(yīng)用提供一個動態(tài)反射體“缺定級”?？杀苊馐止び嬎?，提高檢測效率。

裂紋測高：利用端點衍射波自動測量、計算裂紋高度。

門內(nèi)展寬：放大回波細節(jié)，便于回波分析

連續(xù)記錄：實時記錄波形，存儲、回放

波形凍結(jié)：凍結(jié)屏幕上顯示的波形，便于缺陷分析

回波編碼：以不同顏色顯示1~9次回波顯示區(qū)，便于判斷缺陷位置

峰值標記：實時捕捉峰值并標記峰值

B型掃描：實時掃查、橫截面顯示，可顯示工件缺陷形狀，使探測結(jié)果更直觀。

l 電池模塊

高容量鋰電池模塊，連續(xù)工作時間達到12小時以上。

l 顯示波形

可以設(shè)定閘門內(nèi)波形顏色，波形填充和峰值標記

l 重復(fù)發(fā)射頻率

本機重復(fù)發(fā)射頻率可設(shè)為2000Hz，也可根據(jù)用戶需求升級到更高，原則上可以依據(jù)探測范圍，聲速和發(fā)射寬度做到上限