N8100可測量超級電容容量參數(shù)，含充電容量和放電容量。 測試方法為：對被測超級電容以恒定電流進行充（放）電， 在充（放）電過程中記錄時間和電壓參數(shù)，通過計算充（放） 電過程中電壓對時間的斜率計算容量。用戶可根據(jù)IEC等各種測量標準自行選擇電壓、時間參數(shù)進行計算。

N8100主要用于生產(chǎn)、品質(zhì)檢測等快速測試場合，因此采用動態(tài)電流法（10ms脈沖法）來測試內(nèi)阻，可滿足絕大部分客戶測試需求。

N8100可通過重復充放電循環(huán)測試，測量超級電容在充放電過程中表征壽命特征的各項物理參數(shù)并提取其衰減曲線。通過分析參數(shù)衰減曲線，用戶可獲取超級電容在不同應用環(huán)境下的預計壽命、充放電周期以及在不同階段的性能指標。壽命測試結果可用于指導材料、工藝、存儲等諸多環(huán)節(jié)的改善。

超級電容測試過程中需要輸出較大電流，測試線將會引入較大電壓降（線損），影響測量精度。N8100全系列型號均采用四線制接線方式，直接采集超級電容兩端電壓而避免因測試線線損帶來的電壓誤差，從而確保測量精度。

考慮到不同規(guī)模的測試應用場景，NGI提供兩種測試夾（治）具供用戶選擇：開爾文夾、12通道專用治具。兩種測試夾（治）具均為四線制接法。

(1) N8100測試軟件采用平臺化設計，用戶可根據(jù)工藝需求自行定制測試流程。

(2) 類Office界面風格，各通道獨立顯示，支持電壓電流波形繪制，可以表格形式顯示結果等諸多元素，使得這款專業(yè)軟件在具備*測試功能同時，兼具美觀易用優(yōu)點。

(3) 設計有功率限制電路，反應時間極短，可有效保護負載不會因為過功率而損壞。

(4) 采用全屏蔽技術，對惡劣測試環(huán)境具有廣泛適應性，有效提高了負載抗干擾能力。