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儀表網(wǎng)>產(chǎn)品庫(kù)>分析檢測(cè)>無(wú)損傷檢測(cè)>射線(xiàn)儀>DSPEC jr 2.0數(shù)字信號(hào)處理γ射線(xiàn)譜儀

DSPEC jr 2.0數(shù)字信號(hào)處理γ射線(xiàn)譜儀

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  • 型號(hào)
  • 品牌
  • 所在地上海
  • 更新時(shí)間2026-08-17
  • 廠(chǎng)商性質(zhì)經(jīng)銷(xiāo)商
  • 入駐年限第4年
  • 實(shí)名認(rèn)證已認(rèn)證
  • 產(chǎn)品數(shù)量806
  • 人氣值204515
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伽瑞(上海)科技有限公司(Karray(Shanghai) Technology Co.,Ltd)成立于2021年,是一家專(zhuān)業(yè)從事核輻射儀器裝備、放射影像質(zhì)控設(shè)備和模體的研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售及服務(wù)為一體的企業(yè),為廣大客戶(hù)提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和全面的解決方案。
主營(yíng)產(chǎn)品:輻射檢測(cè)儀、射線(xiàn)檢測(cè)儀、個(gè)人劑量報(bào)警儀、輻射儀、輻射報(bào)警儀、區(qū)域輻射監(jiān)測(cè)儀、表面污染檢測(cè)儀、中子劑量率儀、X光機(jī)多功能質(zhì)量檢測(cè)儀、劑量面積乘積儀、KAP儀、線(xiàn)對(duì)卡、高分辨率測(cè)試卡、CT性能檢測(cè)模體、低對(duì)比度檢測(cè)模體、DSA檢測(cè)模體、牙科模體、固體水、核磁共振模體、乳腺模體、CT劑量模體等。

目前公司涉及的國(guó)外品牌:美國(guó)Ortec公司,美國(guó)CIRS公司,美國(guó)Capintec公司,美國(guó)Thermo Fisher公司,美國(guó)Fluke公司,美國(guó)HI-Q公司,美國(guó)MEDCOM公司,美國(guó)Gamma公司,美國(guó)Durridge公司,法國(guó)Mirion集團(tuán),德國(guó)Berthold公司,德國(guó)IBA公司,德國(guó)PTW公司,瑞典RTI公司、德國(guó)MED公司,德國(guó)SARAD公司,美國(guó)模體實(shí)驗(yàn)室、烏克蘭SPPE公司等。
我公司秉承“誠(chéng)信為本,服務(wù)至上,技術(shù)爭(zhēng)先,品質(zhì)*”的企業(yè)宗旨,為您提供優(yōu)質(zhì)的放射影像質(zhì)控設(shè)備、質(zhì)控模體、核輻射測(cè)量?jī)x器、輻射防護(hù)與放射性監(jiān)測(cè)的解決方案以及滿(mǎn)意的售后服務(wù)。

 

 

 

 

 

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創(chuàng)新的ZDT無(wú)損計(jì)數(shù)校正
DSPEC jr 2.0數(shù)字信號(hào)處理γ射線(xiàn)譜儀 產(chǎn)品詳情
DSPEC jr 2.0 Digital Signal Processing (DSP) based Gamm Ray Spectrometer for Germanium (HPGe) Radiation Detectors
  • 創(chuàng)新的ZDT™“無(wú)損計(jì)數(shù)”校正,包括與ZDT譜相關(guān)的不確定性
  • 使用低頻噪聲抑制器(LFR)技術(shù)提高譜質(zhì)量
  • 自動(dòng)化 - 通過(guò)集成的換樣器接口控件提高實(shí)驗(yàn)室工作效率
  • 易于設(shè)置的功能包括自動(dòng)極零、自動(dòng)基線(xiàn)恢復(fù)和“優(yōu)化”功能
  • 前面板顯示探測(cè)器狀態(tài)和“健康狀況”信息 - SMART-1™智能HPGe支持
  • 安裝簡(jiǎn)單,真正的USB即插即用
  • 出色的溫度和計(jì)數(shù)率穩(wěn)定性
  • 每個(gè)功能都可由計(jì)算機(jī)控制
  • 支持HPGe和NaI輻射探測(cè)器
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    零死時(shí)間(ZDT) - 無(wú)損計(jì)數(shù)校正
    計(jì)數(shù)率變化太快?需要計(jì)算不確定性?ZDT是您的!

    ZDT是傳統(tǒng)活時(shí)間擴(kuò)展的替代方案,可以校正死時(shí)間。它尤其適用于計(jì)數(shù)率在采集期間顯著衰減的應(yīng)用(如中子活化分析),或者在長(zhǎng)時(shí)間采集過(guò)程中活度激增的應(yīng)用(如堆棧監(jiān)測(cè)中的熱粒子情況)。

    活時(shí)間時(shí)鐘可延長(zhǎng)電子設(shè)備的計(jì)數(shù)時(shí)間,以補(bǔ)償死時(shí)間。無(wú)損計(jì)數(shù)方法,如我們的ZDT,在系統(tǒng)處理其他脈沖時(shí)校正那些計(jì)數(shù)“丟失”譜中的實(shí)際計(jì)數(shù)數(shù)量。ZDT方法使用ORTEC高度精確的Gedcke-Hale時(shí)鐘來(lái)確定在電子設(shè)備“死”時(shí)間內(nèi)應(yīng)添加多少事件。

    在ZDT模式下,DSPEC jr 2.0自動(dòng)存儲(chǔ)校正后的譜和方差譜。這兩種譜也可存儲(chǔ)在ORTEC SPC格式的文件結(jié)構(gòu)中,以便在將來(lái)進(jìn)行比較。用戶(hù)可以通過(guò)GammaVision和MAESTRO中的簡(jiǎn)單菜單命令輕松切換校正和未校正的譜。

    ORTEC ZDT模式包括不確定性的估計(jì)算法,進(jìn)一步*了我們的ZDT方法。其他“無(wú)損計(jì)數(shù)”方法無(wú)法計(jì)算與計(jì)數(shù)(被添加到譜的這部分)相關(guān)的不確定性,而DSPEC jr 2.0中的ZDT模式可以同時(shí)生成校正后的譜和收集數(shù)據(jù)時(shí)的不確定性。有關(guān)ZDT的更多信息,請(qǐng)參見(jiàn)應(yīng)用說(shuō)明56,“使用ORTEC的創(chuàng)新零死時(shí)間技術(shù)進(jìn)行不確定性分析的無(wú)損計(jì)數(shù)”。

    低頻噪聲抑制器數(shù)字濾波器可提高機(jī)械冷卻系統(tǒng)的分辨率!
    LFR旨在消除高純鍺探測(cè)器輸出信號(hào)中的顫噪噪聲。您期待什么樣的結(jié)果?如果您機(jī)械冷卻系統(tǒng)的分辨率較低,LFR可以顯著提高其分辨率。

    彈道虧損校正
    使用ORTEC的數(shù)字信號(hào)處理DSPEC產(chǎn)品系列,無(wú)需擔(dān)心彈道虧損問(wèn)題。在較大的HPGe探測(cè)器中,有時(shí)會(huì)出現(xiàn)所謂的彈道虧損效應(yīng)。這通常會(huì)導(dǎo)致較差的分辨率,對(duì)于高能量峰值尤為嚴(yán)重。在模擬系統(tǒng)中,彈道虧損通常使用門(mén)控積分放大器或通過(guò)分辨率增強(qiáng)器模塊進(jìn)行校正。然而,在數(shù)字系統(tǒng)中,只需對(duì)數(shù)字濾波器的平頂寬度進(jìn)行簡(jiǎn)單調(diào)整即可。

    使用DSPEC jr 2.0中的InSight模式,操作員可以調(diào)整平頂寬度(和傾斜度),并立即看到信號(hào)處理的效果。在大多數(shù)情況下,對(duì)于非常大的探測(cè)器(例如本例中使用的效率為207%的探測(cè)器!),0.8 μs的平頂設(shè)置足以恢復(fù)出色的分辨率。

    簡(jiǎn)單的整形參數(shù)設(shè)置
    DSPEC jr 2.0可幫助您保持對(duì)數(shù)字系統(tǒng)的控制。上升時(shí)間和平頂寬度調(diào)整功能使您能夠根據(jù)應(yīng)用“微調(diào)”譜儀的性能。優(yōu)化分辨率和處理量從未如此簡(jiǎn)單!

    在DSPEC jr 2.0中,除了傾斜參數(shù)外,還有112個(gè)上升時(shí)間(從0.8到23 μs,以0.2為增量)和22個(gè)平頂寬度(從0.3到2.4 μs,以0.1為增量),可為您提供超過(guò)2,000種參數(shù)組合。

    盡請(qǐng)放心。.. 我們?nèi)匀辉诳刂泼姘逯刑峁┳詣?dòng)“優(yōu)化”功能,以便您選擇最合適的參數(shù)!這意味著只需輕點(diǎn)鼠標(biāo)即可改善探測(cè)器的分辨率和處理量。

    SMART-1™支持質(zhì)量數(shù)據(jù)
    ORTEC的SMART-1探測(cè)器非常智能。它們監(jiān)測(cè)和存儲(chǔ)探測(cè)器的“健康狀態(tài)”(探測(cè)器溫度、前置放大器功率、偏壓超量程、偏壓開(kāi)/關(guān)狀態(tài))。DSPEC jr 2.0的單次檢查將驗(yàn)證探測(cè)器是否準(zhǔn)備就緒以及準(zhǔn)備好進(jìn)行采集。在采集過(guò)程中,SMART-1探測(cè)器持續(xù)監(jiān)測(cè)“健康狀態(tài)”(SOH),以確保采集數(shù)據(jù)的完整性。在采集結(jié)束時(shí),將快速檢查SMART-1探測(cè)器中的SOH標(biāo)記,然后顯示測(cè)量期間是否有任何參數(shù)偏離規(guī)范。這對(duì)于需要進(jìn)行長(zhǎng)時(shí)間計(jì)數(shù)的環(huán)境樣品和需要數(shù)據(jù)完整性的監(jiān)管樣品來(lái)說(shuō)至關(guān)重要。

    另一大優(yōu)勢(shì)是SMART-1探測(cè)器在出廠(chǎng)時(shí)已預(yù)設(shè)推薦的偏壓值。您不再需要查看手冊(cè)或探測(cè)器上的標(biāo)簽以設(shè)置正確的偏壓值。只要打開(kāi)DSPEC jr 2.0,SMART-1探測(cè)器會(huì)自動(dòng)檢測(cè)探測(cè)器溫度,確定正確的高壓偏壓并將其打開(kāi)。

    與探測(cè)器的便捷單根電纜連接
    DSPEC jr 2.0使用的ORTEC DIM(探測(cè)器接口模塊),僅用一根電纜連接DSPEC jr 2.0和探測(cè)器。DIM提供接近探測(cè)器的偏壓,以便在電纜中僅承載信號(hào)和低壓電源。由于長(zhǎng)電纜承載高電壓可能造成的危險(xiǎn)現(xiàn)已被消除。

    顯示重要參數(shù)
    DSPEC jr 2.0在前面板LCD顯示屏上顯示重要的系統(tǒng)參數(shù)。DSPEC jr 2.0將顯示儀器ID、名稱(chēng)、序列號(hào)、預(yù)設(shè)計(jì)數(shù)條件、當(dāng)前活時(shí)間和實(shí)時(shí)間、死時(shí)間百分比、輸入計(jì)數(shù)率、HV狀態(tài)和值,以及SMART-1探測(cè)器的序列號(hào)。

    小巧
    DSPEC jr 2.0的占地面積與臺(tái)歷相當(dāng),可以直接放在桌面上。輕巧又結(jié)實(shí)的多個(gè)DSPEC jr 2.0可以疊放在一起,它們的外殼互鎖,不用擔(dān)心滑動(dòng)或傾斜。

    與現(xiàn)有的MCB隨意組合
    ORTEC CONNECTIONS軟件支持連接到任何計(jì)算機(jī)上的任何組合和數(shù)量的USB設(shè)備。例如,兩個(gè)digiDART可以使用USB集線(xiàn)器與兩個(gè)DSPEC jr 2.0一起連接到同一臺(tái)PC。任何數(shù)量的其他ORTEC MCB都可以通過(guò)網(wǎng)絡(luò)、打印機(jī)端口、RS-232或雙端口內(nèi)存連接到同一系統(tǒng)。

    添加換樣器
    如果您準(zhǔn)備使用集成的換樣器自動(dòng)化您的流程,DSPEC jr 2.0由于具有內(nèi)置的換樣器接口和控件可滿(mǎn)足您這一需求。

    ...還是像往常一樣容易設(shè)置!
    DSPEC儀器易于設(shè)置和使用。采用智能MCA控制,無(wú)需手動(dòng)配置,甚至不需要所謂的向?qū)?。您只需安裝軟件(如GammaVision或MAESTRO),軟件“知道”所需顯示的控制面板。面板的表格式設(shè)計(jì)對(duì)DSPEC jr 2.0上的可用控件和功能進(jìn)行了邏輯分組。

    DSPEC jr 2.0包括ORTEC的數(shù)字自動(dòng)極零電路、數(shù)字自動(dòng)基線(xiàn)恢復(fù)和優(yōu)化功能,可為當(dāng)前連接到DSPEC jr 2.0的探測(cè)器選擇平頂/傾斜設(shè)置,從而使譜測(cè)量系統(tǒng)的設(shè)置和優(yōu)化變得異常簡(jiǎn)單。

    當(dāng)然,我們產(chǎn)品創(chuàng)新性的一個(gè)特點(diǎn)是InSight™,即內(nèi)置虛擬數(shù)字示波器。使用InSight功能,您可以輕松查看更改平頂寬度、基線(xiàn)恢復(fù)設(shè)置的效果或檢查彈道虧損校正的效果(請(qǐng)參閱側(cè)欄)。不再需要一個(gè)沉重和麻煩的外部示波器。不需要特殊的軟件。只需打開(kāi)控制面板并打開(kāi)InSight模式即可。

  • 規(guī)格 +


    顯示

    240 x 160像素背光LCD提供狀態(tài)信息、儀器ID、偏壓信息、活時(shí)間和實(shí)時(shí)間。

    并發(fā)連接數(shù)

    受計(jì)算機(jī)和支持USB集線(xiàn)器的限制。每臺(tái)計(jì)算機(jī)上的ORTEC CONNECTIONS軟件最多支持127個(gè)通過(guò)USB連接的設(shè)備。

    系統(tǒng)增益設(shè)置

    • 粗調(diào)增益:1、2、4、8、16或32。
    •微調(diào)增益:0.45到1。
    •可用的增益設(shè)置范圍支持所有類(lèi)型的HPGe探測(cè)器。具體而言,使用標(biāo)準(zhǔn)ORTEC前置放大器(增益到最小增益)可實(shí)現(xiàn)以下能量值:

    COAX

    187 keV至12 MeV

    LO-AX

    94 keV至6 MeV

    GLP/SLP

    16.5 keV至1 MeV

    IGLET-X

    8 keV至500 keV

    前置放大器

    計(jì)算機(jī)可選擇作為電阻或TRP前置放大器。

    系統(tǒng)轉(zhuǎn)換增益

    系統(tǒng)轉(zhuǎn)換增益可由軟件在512到16k通道之間進(jìn)行控制。

    數(shù)字濾波器整形時(shí)間常數(shù)

    •上升時(shí)間:0.8 μs至23 μs,步長(zhǎng)為0.2 μs。
    • 平頂:0.3至2.4,步長(zhǎng)為0.1 μs。

    死時(shí)間校正

    根據(jù)Gedcke-Hale方法進(jìn)行擴(kuò)展的活時(shí)間校正。

    精度

    參考區(qū)域峰值在每秒0到50,000的計(jì)數(shù)范圍內(nèi)變化<±3%。

    低頻噪聲抑制器

    設(shè)置為ON時(shí),將消除譜中的低頻(<3 kHz)輸入噪聲。

    線(xiàn)性

    •積分非線(xiàn)性:用混合源(55Fe @ 5.9keV至88Y @ 1836keV)測(cè)量,在譜的前99.5%<±0.025%。
    •微分非線(xiàn)性:在范圍的前99%<±1%(使用BNC脈沖發(fā)生器和斜坡發(fā)生器測(cè)量)。
    •數(shù)字穩(wěn)譜器:通過(guò)計(jì)算機(jī)控制,穩(wěn)定增益和。

    系統(tǒng)溫度系數(shù)

    •增益:<50 ppm/°C。[通常<30 ppm/°C。]
    •偏移:<滿(mǎn)量程的3 ppm/°C,上升和下降時(shí)間為12 μs,平頂為1 μs。(類(lèi)似于模擬6 μs整形。)

    系統(tǒng)處理量

    LFR關(guān)閉時(shí)>100,000 cps。LFR開(kāi)啟時(shí)>34,000 cps。取決于整形參數(shù)。

    脈沖堆積判棄器

    自動(dòng)設(shè)置閾值。

    脈沖對(duì)分辨率

    通常<500 ns。

    自動(dòng)極零調(diào)整

    由計(jì)算機(jī)控制。可以自動(dòng)或手動(dòng)設(shè)置。通過(guò)InSight示波器模式進(jìn)行遠(yuǎn)程診斷。()。

    數(shù)字門(mén)控基線(xiàn)恢復(fù)器

    由計(jì)算機(jī)控制的恢復(fù)率調(diào)整(高、低和自動(dòng))。()。

    LLD

    在通道中設(shè)置數(shù)字低電平甄別器。LLD設(shè)置以下的通道中的數(shù)據(jù)硬截?cái)唷?/span>

    ULD

    在通道中設(shè)置數(shù)字高電平甄別器。ULD設(shè)置以上的通道中的數(shù)據(jù)硬截?cái)唷?/span>

    計(jì)數(shù)率表

    MCA和/或PC屏幕上顯示計(jì)數(shù)率。

    電池

    內(nèi)置電池用于內(nèi)存?zhèn)浞?,可在電源中斷時(shí)保存設(shè)置。







































    輸入端和輸出端

    探測(cè)器

    多針連接器(13W3),具有以下功能:
    •前置放大器功率:1 W(+12 V,-12 V,+24 V,-24 V,2 GND)。
    •Amp In:正常放大器輸入。
    •TRP抑制。
    •SMART-1或DIM的電源。
    •HV和SMART-1探測(cè)器的控件(2線(xiàn))。

    USB

    用于PC通信的通用串行總線(xiàn)。

    電源

    直流電源供電。+12 V DC, <1.25 A. 115 V/60 Hz, 220 V/50 Hz。



     

     

     

     

     

     

    電氣和機(jī)械

    換樣信號(hào)輸出端

    后面板BNC連接器,與TTL兼容。

    換樣就緒輸入端

    后面板BNC連接器,接受來(lái)自換樣器的TTL電平信號(hào)。軟件可選擇極性。

    尺寸

    8.1高 x 20.3寬 x 24.9深厘米(3.2高 x 8寬 x 9.8深英寸)

    重量

    1.0千克(2.2磅)

    工作溫度范圍

    0至50°C,包括LCD顯示屏。












    輻射探測(cè)器高壓電源

    SMART-1

    HV模塊與輻射探測(cè)器本身為一體式結(jié)構(gòu)。

    非SMART-1

    對(duì)于“傳統(tǒng)”或“非SMART-1”探測(cè)器,HV電源采用探測(cè)器接口模塊或帶2米電纜的“DIM”形式。DIM有一個(gè)用于傳統(tǒng)探測(cè)器電纜套件的配套連接器:9針D型前置放大器電源線(xiàn)、模擬輸入、關(guān)閉輸入、偏壓輸出和禁止輸入。

    非SMART-1探測(cè)器的DIMS可配備以下高壓選項(xiàng):
    •DIM-POSGE:用于任何非SMART-1正偏壓HPGe探測(cè)器的探測(cè)器接口模塊。
    •DIM-NEGGE:用于任何非SMART-1負(fù)偏壓HPGe探測(cè)器的探測(cè)器接口模塊。
    •DIM-POSNAI:用于任何正偏壓NaI探測(cè)器的探測(cè)器接口模塊。
    •DIM-296:帶有296型ScintiPack管座/前置放大器/偏壓電源的探測(cè)器接口模塊,用于帶有14針10級(jí)光電倍增管的NaI探測(cè)器。

    前面板顯示屏

    在所有情況下,偏置電壓和關(guān)閉極性都從計(jì)算機(jī)上進(jìn)行設(shè)置。DSPEC jr 2.0可以監(jiān)控輸出電壓和關(guān)閉狀態(tài);探測(cè)器高壓值(只讀);和探測(cè)器高壓狀態(tài)(開(kāi)/關(guān))(讀/寫(xiě)),這些都顯示在前面板LCD上。此外,SMART-1探測(cè)器通過(guò)監(jiān)控以下功能提供額外的“健康狀態(tài)”信息:探測(cè)器溫度(只讀);探測(cè)器過(guò)載狀態(tài);探測(cè)器驗(yàn)證碼(讀/寫(xiě));和探測(cè)器序列號(hào)(只讀)。




















  • 訂購(gòu)信息 +


    型號(hào)

    描述

    DSPEC jr 2.0

    帶MAESTRO軟件、無(wú)DIM的DSPEC jr 2.0,用于配備有SMART-1的探測(cè)器。

    DSPEC jr 2.0-POSGE

    帶MAESTRO軟件和DIM-POSGE的DSPEC jr 2.0,用于非SMART-1探測(cè)器。

    DSPEC jr 2.0-NEGGE

    帶MAESTRO軟件和DIM-NEGGE的DSPEC jr 2.0,用于非SMART-1探測(cè)器。

    DSPEC jr 2.0-POSNA

    帶MAESTRO軟件和DIM-POSNAI的DSPEC jr 2.0,用于NaI探測(cè)器。

    DSPEC jr 2.0-296

    帶MAESTRO軟件和DIM-296的DSPEC jr 2.0,用于NaI探測(cè)器。

     

     

    其他DIM

     

    DIM-POSGE

    用于任何非SMART正偏壓HPGe探測(cè)器的探測(cè)器接口模塊

    DIM-NEGGE

    用于任何非SMART負(fù)偏壓HPGe探測(cè)器的探測(cè)器接口模塊

    DIM-POSNAI

    用于任何正偏壓NaI探測(cè)器的探測(cè)器接口模塊

    DIM-296

    帶有296型ScintiPack管座/前置放大器/偏壓電源的探測(cè)器接口模塊,用于帶有14針10級(jí)光電倍增管的NaI探測(cè)器。

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