電子探針顯微分析儀在鋼鐵、汽車、電子零件和電池材料等各種工業(yè)領(lǐng)域,作為研究開發(fā)和的分析工具被廣泛使用,其用途越來越廣。此外,在學(xué)術(shù)領(lǐng)域 ,地球空間科學(xué)、材料科學(xué)領(lǐng)域也在廣泛使用,礦物等資源能源研究、各種新型材料研究等,期待在各種各樣前沿研究中做出貢獻(xiàn)。與此相應(yīng),在保持高局部微量元素分析性能的同時,追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。JXA-iHP100能更加有效地進(jìn)行觀察分析操作,是更的一體化EPMA。
* EPMA是Electron Probe Microanalyzer簡稱
◇ [Setting]
自動定位,準(zhǔn)確安裝樣品臺!迅速找到想觀察的點!
進(jìn)樣和獲取樣品臺導(dǎo)航像一鍵完成。從導(dǎo)航像能夠指定分析區(qū)域。

◇ [Analysis]
充分的自動功能,誰都可以拍到高級的SEM像
繁瑣的設(shè)定也能對應(yīng),EPMA立馬進(jìn)行元素分析
光學(xué)顯微鏡的自動聚焦功能與配備高精度/高速化新系統(tǒng)的SEM自動功能相結(jié)合,任誰都可以拍到高級的SEM像。
【live Analysis】
通過【live Analysis】能夠在觀察中進(jìn)行篩選分析。初學(xué)者也能操作的【簡單的EPMA】。用【EPMA-XRF integration】在XRF數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上能夠進(jìn)行EPMA的條件設(shè)定。用【W(wǎng)D/ED integration】能夠縮短分析時間。SEM、EDS、XRF、WDS、光學(xué)像的集成一體化提高了儀器的操作性能。


通過WD/ED integration,分析時間縮短的例子

integration:用這些儀器推定的元素在一體化EPMA上可以一鍵設(shè)定分光晶體的組合
◇ [Self Maintenance]
內(nèi)置18種類校正樣品,有效進(jìn)行校正
配置【分光器校正功能】減輕了定期進(jìn)行分光器校正的作業(yè)而且也避免了校正樣品設(shè)定時的人為失誤;利用夜間對儀器進(jìn)行校正,提高了工作效率。
按照【維護(hù)通知功能】,在必要時期對儀器進(jìn)行自我維護(hù),保持設(shè)備狀態(tài)。


維護(hù)通知功能【客戶支持工具】
| 檢測元素范圍 | WDS: Be*1 / B to U, EDS: Be to U |
| 檢測X-ray 范圍 | 波長范圍WDS: 0.087 to 9.3 nm 能量范圍EDS: 20 keV |
| 譜儀數(shù) | WDS: 最多5個可選, EDS: 1個 |
| 樣品尺寸 | 100 mm × 100 mm × 50 mm (H) |
| 加速電壓 | 0.2 to 30 kV (0.1 kV steps) |
| 探針電流范圍 | 1 pA to 10 μA |
| 探針電流穩(wěn)定性 | ± 0.05% / h, ± 0.3% / 12 h(W) |
| 二次電子像分辨率(觀察模式) | 6 nm(W), 5 nm(LaB6)*3 |
| 掃描放大倍率 | ×40 to 300,000 (W.D. 11 mm) |
| 掃描圖像分辨率 | Maxium 5,120 × 3,840 |































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