產(chǎn)品介紹：法國PHASICS 的波前分析儀，基于其波前測量——四波橫向剪切干涉技術(shù)（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。作為夏克-哈特曼技術(shù)的改進(jìn)型，這種的技術(shù)將超高分辨率和超大動(dòng)態(tài)范圍結(jié)合在一起。任何應(yīng)用下，其都能實(shí)現(xiàn)全面、簡便、快速的測量。

主要應(yīng)用領(lǐng)域：

1. 激光光束參數(shù)測量：相位（2D/3D），M2，束腰位置，直徑，澤尼克/勒讓德系數(shù)
2. 自適應(yīng)光學(xué)：焦斑優(yōu)化，光束整形
3. 元器件表面質(zhì)量分析：表面質(zhì)量（RMS，PtV，WFE），曲率半徑
4. 光學(xué)系統(tǒng)質(zhì)量分析：MTF, PSF, EFL, 澤尼克系數(shù), 光學(xué)鏡頭/系統(tǒng)質(zhì)量控制
5. 熱成像分析，等離子體特征分析
6. 生物應(yīng)用：蛋白質(zhì)等組織定量相位成像

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1. 高分辨率：最多采樣點(diǎn)可達(dá)120000個(gè)
2. 可直接測量：消色差設(shè)計(jì)，測量前無需再次對波長校準(zhǔn)
3. 消色差：干涉和衍射對波長相消
4. 高動(dòng)態(tài)范圍：高達(dá)500μm
5. 防震設(shè)計(jì)，內(nèi)部光柵橫向剪切干涉，對實(shí)驗(yàn)條件要求簡單，無需隔震平臺(tái)也可測試

一，四波橫向剪切干涉技術(shù)背景介紹

Phasics四波橫向剪切干涉：當(dāng)待測波前經(jīng)過波前分析儀時(shí)，光波通過特制光柵（圖1）后得到一個(gè)與其自身有一定橫向位移的復(fù)制光束，此復(fù)制光波與待測光波發(fā)生干涉，形成橫向剪切干涉，兩者重合部位出現(xiàn)干涉條紋（圖2）。被測波前可能為平面波或者匯聚波，對于平面橫向剪切干涉，為被測波前在其自身平面內(nèi)發(fā)生微小位移發(fā)生微小位移產(chǎn)生一個(gè)復(fù)制光波；而對于匯聚橫向剪切干涉，復(fù)制光波由匯聚波繞其曲率中心轉(zhuǎn)動(dòng)產(chǎn)生。干涉條紋中包含有原始波前的差分信息，通過特定的分析和定量計(jì)算梳理（反傅里葉變換）可以再現(xiàn)原始波前（圖3）。

技術(shù)優(yōu)勢

1. 高采樣點(diǎn)：

高達(dá)400*300個(gè)采樣點(diǎn)，具備*的局部畸變測試能力，降低測量不準(zhǔn)確性和噪聲；同時(shí)得到高精度強(qiáng)度分布圖。

2. 消色差：

干涉和衍射相結(jié)合抵消了波長因子，干涉條紋間距與光柵間距相等。適應(yīng)于不多波長光學(xué)測量且不需要重復(fù)校準(zhǔn)，

3. 可直接測量高動(dòng)態(tài)范圍波前：

可見光波段可達(dá)500μm的高動(dòng)態(tài)范圍；可測試離焦量，大相差，非球面和復(fù)曲面等測。

二，軟件介紹

SID4波前分析儀控制軟件

SID4波前分析儀控制軟件與SID4 波前傳感器配套提供的是一款完整的分析軟件，其集成了高分辨率的相位圖與強(qiáng)度分布圖，測量光強(qiáng)分布和波前信息。

借助Labview和C++ 可編程模塊數(shù)據(jù)庫（軟件二次開發(fā)工具包），客戶能夠根據(jù)自身的需要編寫各種相位測量與編譯模塊。

Adaptive Optics Loops將SID4 Wavefront Sensor結(jié)合您的應(yīng)用，選配合適的可變形鏡或相位調(diào)制器，提供整套的自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)。減小任何一個(gè)光學(xué)系統(tǒng)的相差從來都不是簡單的，我們的產(chǎn)品能為激光光束和成像系統(tǒng)帶來更可靠，高精度的解決方案。

SID4控制界面

SID4光學(xué)測量軟件Kaleo

Phasics基于剪切干涉的波前傳感器與專門設(shè)計(jì)的光學(xué)測量軟件Kaleo結(jié)合，可以測量球面鏡和非球面鏡的像差及MTF等信息。只需要幾秒鐘，我們的儀器為您呈現(xiàn)絕大部分的光學(xué)參數(shù)，如焦距，光腰，MTF，像差，Zernike系數(shù)，曲率半徑，PSF等。

三，與傳統(tǒng)哈特曼波前分析儀比較

與傳統(tǒng)哈特曼波前傳感器測量結(jié)果對比：

四，應(yīng)用方向

1. 激光光束測量

可以實(shí)時(shí)測量強(qiáng)度相位（2D/3D）信息，Zernike/Legendre系數(shù)，遠(yuǎn)場，光束參數(shù)，光束形狀M2等。

2光學(xué)測量

Phasics波前傳感器可對光學(xué)系統(tǒng)和元器件進(jìn)行透射和反射式測量，專業(yè)Kaleo軟件可分析PSF,MTF等

3.光學(xué)整形：

利用Phasics波前傳感器檢測到精確的波前畸變信息，反饋給波前校正系統(tǒng)以補(bǔ)償待測波前的畸變，從而得到目標(biāo)波前相位分布和光束形狀。右圖上為把一束RMS=1.48λ的會(huì)聚光矯正為RMS=0.02λ的準(zhǔn)平面波；右圖下為把分散焦點(diǎn)光斑矯正為準(zhǔn)高斯光束。高頻率大氣湍流自適應(yīng)需要配合高頻波前分析儀。

4.光學(xué)表面測量：

Phasics的SID4軟件可以直接測量PtV, RMS, WFE和曲率半徑等，可直接進(jìn)行自我校準(zhǔn)，兩次測量相位作差等。非常方便應(yīng)用于平面球面等形貌測量。部分測量光路如右圖所示

5.等離子體測量

法國Phasics公司SID4系列等離子體分析儀(Plasma Diagnosis)是一款便攜式、高靈敏度、高精度的等離子體分析儀器。該產(chǎn)品可實(shí)時(shí)檢測激光產(chǎn)生的等離子體的電子密度、模式及傳播方式。監(jiān)測等離子體的產(chǎn)生、擴(kuò)散過程，以及等離子體的品質(zhì)因數(shù)。更好地為客戶在噴嘴設(shè)計(jì)、激光脈沖的照度、氣壓、均勻性等方面提供化的數(shù)據(jù)支持。

法國Phasics是一家波前分析儀生產(chǎn)廠家，為客戶提供的各種自適應(yīng)的光學(xué)系統(tǒng)。Phasics的波前傳感器以其的高分辨率以及易用性在眾多廠商中脫穎而出，由于Phasics的波前分析儀的應(yīng)用領(lǐng)域涵蓋了光束測試，自適應(yīng)光學(xué)和等離子體表征。在高功率激光儀器中需要使用波前傳感器的工程師和研究人員，Phasics的波前傳感器能夠?yàn)樗麄兲峁┤娴姆?wù)。

通過Phasics公司的技術(shù)：四波橫向剪切干涉法，能夠有效克服夏克-哈特曼波前探測器的局限性，尤其是該探測器的分辨率低的問題。Phasics的波前分析儀具有超高的分辨率，能夠?qū)崿F(xiàn)精確的波前測量，從而可靠地計(jì)算光束參量。

本文的產(chǎn)品主要有：適用于常用波段的SID4波前分析儀; 用于紅外波段的型號(hào)：SID4 DWIR, SID4 LWIR, SID4-SWIR, SID4-NIR; 高分辨率的SID4 UV-HR, SID4-HR； 最后是深紫外波段的SID4-UV和SID4 UV-HR。所有的波段都能夠有適合的產(chǎn)品為您提供，并且有高采樣點(diǎn)的型號(hào)和普通標(biāo)準(zhǔn)的型號(hào)等。

法國Phasics波前分析儀主要應(yīng)用：

-光學(xué)系統(tǒng)質(zhì)量分析：MTF, PSF, EFL, 澤尼克系數(shù), 光學(xué)鏡頭/系統(tǒng)質(zhì)量控制

-激光光束參數(shù)測量：相位（2D/3D），M2，束腰位置，直徑，澤尼克/勒讓德系數(shù)

-生物應(yīng)用：蛋白質(zhì)等組織定量相位成像

-自適應(yīng)光學(xué)：焦斑優(yōu)化，光束整形

-熱成像分析，等離子體特征分析

-元器件表面質(zhì)量分析：表面質(zhì)量（RMS，PtV，WFE），曲率半徑

法國Phasics SID4 波前分析儀的特點(diǎn)：

SID4可用于400nm-1000nm 的激光的波前像差，強(qiáng)度分布，波前位相、澤尼克參數(shù), 激光的M2等進(jìn)行實(shí)時(shí)的測量及參數(shù)輸出。

-可直接測量：消色差設(shè)計(jì)，測量前無需再次對波長校準(zhǔn)，消色差：干涉和衍射對波長相消

-高動(dòng)態(tài)范圍：高達(dá)500μm

-波長范圍：400-1100nm

-高分辨率：最多采樣點(diǎn)可達(dá)120000個(gè)（160x120），測量穩(wěn)定性高

-內(nèi)部光柵橫向剪切干涉，防震設(shè)計(jì)，無需隔震平臺(tái)也可測試，對實(shí)驗(yàn)條件要求簡單

SID4 UV-HR高分辨紫外波前分析儀的特點(diǎn)：

Phasics公司將 SID4的測量波長范圍:190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款適用于紫外波段的高分辨率波前分析儀，非常適用于光學(xué)元件測量（例如印刷、半導(dǎo)體等等）和表面檢測（半導(dǎo)體晶片檢測等）。

-高分辨率（250x250）

-通光孔徑大（8.0mmx8.0mm）

-覆蓋紫外光譜

-靈敏度高（0.5um）

-優(yōu)化信噪比

SID4-HR 波前分析儀特點(diǎn)：

能夠進(jìn)行對透鏡、光學(xué)系統(tǒng)實(shí)時(shí)的PSF（點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)）、OTF（光學(xué)傳遞函數(shù)）、MTF（調(diào)制傳遞函數(shù)）以及波前像差測量和參數(shù)輸出。與傳統(tǒng)的透鏡檢測設(shè)備比較：干涉儀，傳函儀、具有測量精度高，操作簡便，參數(shù)輸出方便等優(yōu)勢。

-曝光時(shí)間極短,保證動(dòng)態(tài)物體測量

-波長范圍：400-1100nm

-實(shí)時(shí)測量，立即給出整個(gè)物體表面的信息（120000個(gè)測量點(diǎn)）

-高性能的相機(jī)，信噪比高，操作簡單

SID4 NIR 波前分析儀

其主要針對1550 nm（1.5um-1.6um）激光進(jìn)行檢測的儀器，具有分辨率高，高動(dòng)態(tài)范圍、高靈敏度、操作簡便等的優(yōu)勢。是紅外透鏡像差，光學(xué)測量和紅外物體、MTF，PSF以及焦距和表面質(zhì)量測量的理想工具。

-高分辨率（160x120）

-快速測量

-測量

-對振動(dòng)不敏感

-性價(jià)比高

SID4 UV 波前分析儀

其主要針對250-450nm激光進(jìn)行檢測的儀器，具有分辨率高，高動(dòng)態(tài)范圍、高靈敏度、操作簡便等的優(yōu)勢。適用于UV光學(xué)測試，UV激光表征（用于光刻，半導(dǎo)體......）和表面檢測（透鏡和晶圓......）光學(xué)測量和MTF，PSF以及焦距測量。

-非常高的分辨率-250×250相位圖

-高靈敏度 - 2 nm RMS

-經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的紫外波前測量解決方案

SID4 DWIR/ SID4 LWIR/ SID4-SWIR波前分析儀

擁有寬波段波前探測的特點(diǎn)。實(shí)時(shí)的檢測3-5um以及8-14um的強(qiáng)度分布和波前位相等的波前信息?？梢院芎玫膽?yīng)用于紅外波段應(yīng)用的波前檢測需求。

-光學(xué)測量：SID4 DWIR是測量紅外物體特性（熱成像和安全視覺）或紅外透鏡（CO2激光器）的理想工具，輸出結(jié)果包括MTF，PSF，像差，表面質(zhì)量和透鏡焦距。

-光束測量：（CO2激光器，紅外OPO激光光源等等）此型號(hào)可以提供詳盡的光束特性參數(shù)：M2，像差，光束特性，光強(qiáng)分布等

-可實(shí)現(xiàn)離軸測量，可實(shí)現(xiàn)測量，性價(jià)比高

-高分辨率（96x72，快速測量 對振動(dòng)不敏感

-可覆蓋中紅外和遠(yuǎn)紅外波段 大數(shù)值孔徑測量，無需額外中轉(zhuǎn)透鏡

總體而言，在空間分辨率和靈敏度而言基于剪切干涉技術(shù)的波前分析儀都比夏克哈特曼為基礎(chǔ)的波前分析儀要更為優(yōu)秀。采樣點(diǎn)更多，準(zhǔn)確度更高分辨率也更高。安裝便捷，配套的軟件功能豐富?；诟道锶~變換，將時(shí)域轉(zhuǎn)換為頻域分析使得其不依賴光強(qiáng)變化，更加的敏感，但可能不能估計(jì)光強(qiáng)的變化。一定條件下，它是選擇作為激光質(zhì)量分析，透鏡質(zhì)量監(jiān)控，光學(xué)表面測量，以及成像的更優(yōu)選擇。