N83586系列不僅提供電池模擬功能，還提供基礎(chǔ)電路測(cè)量功能，內(nèi)置8路高精度DVM數(shù)字電壓表直接測(cè)量電路中TP點(diǎn)電壓，無(wú)需外購(gòu)DVM進(jìn)行測(cè)試，為客戶(hù)節(jié)省測(cè)試成本。N83586系列的DVM測(cè)量電壓范圍-30V~+30V，支持DC電壓、AC+DC電壓測(cè)量，測(cè)量頻率寬至45Hz~20kHz，可直接應(yīng)用于主輸出浮動(dòng)的電路測(cè)量。

N83586采用雙向設(shè)計(jì)，每通道均可獨(dú)立控制電流輸入輸出方向，用戶(hù)可自定義電池充放電模型并通過(guò)專(zhuān)用上位機(jī)進(jìn)行實(shí)時(shí)控制，滿(mǎn)足BMS主動(dòng)/被動(dòng)均衡測(cè)試要求。

N83586基本精度高，電流精度高達(dá)1μA。通過(guò)N83586給被測(cè)產(chǎn)品供電，可直觀測(cè)試出被測(cè)產(chǎn)品在待機(jī)狀態(tài)下靜態(tài)功耗，篩選出不合格的產(chǎn)品，確保產(chǎn)品出廠(chǎng)后待機(jī)工作時(shí)間在標(biāo)稱(chēng)范圍之內(nèi)。

N83586系列電池模擬器支持電源模式、充電模式、電池模擬、SOC測(cè)試、SEQ編輯功能、故障模擬等多種電池模擬功能和特性。一臺(tái)儀器可實(shí)現(xiàn)多種用途，精簡(jiǎn)測(cè)試設(shè)備，優(yōu)化測(cè)試流程。且N83586內(nèi)部電路針對(duì)不同芯片進(jìn)行優(yōu)化，可適配各種規(guī)格BMS芯片測(cè)試。N83586可測(cè)試待機(jī)靜態(tài)功耗，創(chuàng)建任意規(guī)格的電池模型，具有*的保護(hù)功能，無(wú)任何電池安全隱患和風(fēng)險(xiǎn)。