METTLER TOLEDO 梅特勒托利多分析天平XP系列
性能特點
梅特勒XP系列分析天平主要特點:分析天平采用分離的稱量單元和顯示控制單元,分析天平避免電子元件散熱對稱量結果準確性的影響
●分析天平-XP系列分析天平
●分析天平--XP系列分析天平天平校驗功能(BalanceCheck),分析天平自動提示用戶使用外置砝碼校正/校準天平,分析天平確保稱量結果始終準確
●GWPExcellenceTM一體化安全功能,確保分析天平始終正確工作
●優(yōu)化分析天平-XP系列分析天平適應性的稱量參數(shù)設置,分析天平滿足不同稱量環(huán)境要求
●分析天平--XP系列分析天平可拆卸、清洗的內部和外部玻璃防風罩設計,實現(xiàn)分析天平的快速清潔
●分析天平--XP系列分析天平豐富的內置稱量應用程序:基礎稱量、統(tǒng)計功能、配方稱量、計件稱量、百分比稱量、密度測量、差重稱量
水平控制系統(tǒng)(LevelControl):分析天平-XP系列分析天平在使用過程中或移動后偏離水平位置影響到稱量結果的準確性時,分析天平控制系統(tǒng)會發(fā)出聲音警告,并顯示調整信息,分析天平準確地指導您調節(jié)分析天平恢復至分析天平的水平位置。
紅外感應器(SmartSens):分析天平實現(xiàn)無需用手接觸的分析天平操作:開關門、去皮、回零、打印。即使稱量毒性或腐蝕性樣品,您也一樣安全無憂!
專業(yè)級全自動校準技術(proFACT):分析天平-XP系列分析天平實現(xiàn)溫度漂移和用戶時間設置觸發(fā)的全自動內置砝碼校正和線性校正。
梅特勒分析天平-XP分析天平主要特點:分析天平-XP分析天平采用分離的稱量單元和顯示控制單元,XP分析天平避免電子元件散熱對稱量結果準確性的影響,分析天平確保分析天平-XP系列分析天平始終正確工作
技術參數(shù)
分析天平-梅特勒 XP系列分析天平技術參數(shù)
| XP分析天平型號 | 分析天平稱量值 [g] | 分析天平可讀性 [mg] | 分析天平重復性 (sd)[mg] | 分析天平線性誤差 [mg] | 分析天平典型穩(wěn)定時間 [s] | 分析天平秤盤尺寸 (W×D)[mm] |
| 分析天平XP105DR | 31/120 | 0.01/0.1 | 0.0015/0.06 | 0.15 | 1.5 | 78×73 |
| 分析天平XP205 | 220 | 0.01 | 0.03 | 0.1 | 2.5 | 78×73 |
| 分析天平XP205DR | 81/220 | 0.01/0.1 | 0.0015/0.06 | 0.15 | 1.5 | 78×73 |
| 分析天平XP204 | 220 | 0.1 | 0.007 | 0.2 | 1.5 | 78×73 |
| 分析天平XP504 | 520 | 0.1 | 0.12 | 0.4 | 1.5 | 78×73 |
| 分析天平XP504DR | 101/520 | 0.1/1 | 0.1/0.6 | 0.5 | 1.5 | 78×73 |
DR=變量程;sd=標準偏差
選配件
分析天平-梅特勒XP系列分析天平主要特點:XP分析天平采用分離的稱量單元和顯示控制單元,XP分析天平避免電子元件散熱對稱量結果準確性的影響,分析天平確保XP系列分析天平始終正確工作






























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