METTLER TOLEDO 梅特勒托利多分析天平XSE
性能特點(diǎn)
XSE 分析天平提供至高稱量性能和質(zhì)量保證以及的人體工程學(xué)設(shè)計(jì), 是各種工作場(chǎng)所可靠的方案。
創(chuàng)新的狀態(tài)指示燈™ 可免除您在稱量方面的擔(dān)憂。 清晰可見(jiàn)的綠燈讓您知道何時(shí)開(kāi)啟安全,所有的測(cè)試都始終保持,天平水平且功能正常。 XSE 天平配備各種附件和多個(gè)連接選項(xiàng),適用于不同的稱量應(yīng)用。瑞士設(shè)計(jì)與制造,出色的質(zhì)量值得您信賴。
提供以下智能稱量功能:
• 包括狀態(tài)指示燈在內(nèi)的新型彩色顯示屏,具有警告功能
• 性能更出色的網(wǎng)格秤盤(pán)和獨(dú)特的易巧稱量組件• 新的靜電消除技術(shù)
• TestManager™ 用于簡(jiǎn)單的日常測(cè)試
• LabX® 軟件用于在屏幕上提供定制的工作流程指南
天平就緒
嵌入終端的狀態(tài)指示燈使用顏色直觀地顯示天平的狀態(tài):綠色表示準(zhǔn)備就緒,黃色表示警告,紅色表示錯(cuò)誤。 狀態(tài)指示燈清晰地顯示天平是否已準(zhǔn)備好開(kāi)始稱量任務(wù)。
可靠的結(jié)果
超越系列分析天平將獲得的梅特勒-托利多稱量技術(shù)與數(shù)十年的稱量專業(yè)知識(shí)相結(jié)合,確保您快速、可靠地獲得的稱量結(jié)果
過(guò)程得到控制
梅特勒-托利多的 LabX® 可提升實(shí)驗(yàn)室平臺(tái)的管理性能。 LabX 在提供關(guān)于天平觸摸屏的靈活的 SOP 用戶指南方面。 自動(dòng)化數(shù)據(jù)處理、計(jì)算和報(bào)告生成等功能讓您不用再手寫(xiě)輸入。 抄寫(xiě)錯(cuò)誤得以消除,確保了的可追溯能力。 LabX 輕松地滿足的過(guò)程安全要求,并幫助您建立無(wú)紙化實(shí)驗(yàn)室。
容易清洗
憑借獨(dú)特的網(wǎng)格秤盤(pán)和可在數(shù)秒鐘內(nèi)拆卸的防風(fēng)罩,始終確保稱量區(qū)域清潔、安全。
基于 RFID 的操作 — 移液器
現(xiàn)代化移液器有內(nèi)置的 RFID 芯片,可存儲(chǔ)移液器 ID、移液器量程、最后校準(zhǔn)日期和下一校準(zhǔn)日期等相關(guān)信息。 新的集成 RFID 閱讀器在數(shù)秒鐘內(nèi)即可檢查該信息。 僅需掃描一下,集成的 RFID 閱讀器即可安全、快速地收集并在終端上顯示您的移液器 RFID 芯片上存儲(chǔ)的所有信息 。
基于 RFID 的操作 — 滴定
在天平上安全地輸入滴定樣品信息,并將所有信息輕松地通過(guò)滴定燒杯和 SmartSample RFID 標(biāo)簽傳輸至滴定儀。
技術(shù)參數(shù)
| XP分析天平型號(hào) | 分析天平稱量值 [g] | 分析天平可讀性 [mg] | 分析天平最小稱量值(USP),典型值[mg] | 分析天平重復(fù) | 分析天平線性誤差(典型值) | 分析天平秤盤(pán)尺寸 寬度(mm) | 分析天平尺寸深 | 分析天平秤盤(pán)尺寸 高度(mm) |
| 分析天平 XSE105DU | 41.0,120.0 | 0.01,0.1 | 20.0 | 0.01 | 0.2 | 263.0 | 482.0 | 322.0 |
| 分析天平XSE 205DU | 81.0,220.0 | 0.01,0.1 | 20.0 | 0.01 | 0.2 | 263.0 | 482.0 | 322.0 |
| 分析天平XSE 104 | 120.0 | 0.1 | 80.0 | 0.04 | 0.2 | 263.0 | 482.0 | 322.0 |
| 分析天平XSE 204 | 220.0 | 0.1 | 80.0 | 0.04 | 0.2 | 263.0 | 482.0 | 322.0 |






























石柱|
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