Seica ?Pilot^4D Line  飛針測(cè)試機(jī)

Pilot^4D V8 飛針測(cè)試機(jī)是飛針測(cè)試領(lǐng)域中的產(chǎn)品，它*的測(cè)試手段可以滿足使用者的需求：超高的測(cè)試速度、適應(yīng)小批量到中等批量的測(cè)試要求、全測(cè)試覆蓋率和柔性的應(yīng)用。這一切，不論是樣產(chǎn)還是生產(chǎn)業(yè)或維修客戶均可以應(yīng)對(duì)各種類型的電路板的測(cè)試。更是由于它的立式結(jié)構(gòu)，可以對(duì)UUT雙面同時(shí)運(yùn)行飛針測(cè)試，凸顯出Pilot^4D V8的優(yōu)勢(shì)！在保證了速度快、精度高、可靠性好以及測(cè)針重復(fù)性一致性的前提下，不但大大增加了測(cè)試量，而且也提高了使用的靈活性。同時(shí)，可以配置所有的移動(dòng)測(cè)試資源，應(yīng)用到 UUT測(cè)試中。這種一次性雙面飛針測(cè)試的解決方案是一項(xiàng)非常重大的技術(shù)創(chuàng)舉：它克服了臥式飛針測(cè)試系統(tǒng)不能同時(shí)進(jìn)行雙面飛針測(cè)試的局限。Pilot^4D V8配備了8個(gè)可移動(dòng)的電氣測(cè)試探針（每側(cè)各有4個(gè)），2個(gè)腳開焊（Openfix）移動(dòng)探頭（每側(cè)各有1個(gè)），2個(gè)可移動(dòng)的電源針（每側(cè)各有1個(gè)），因此，共有14個(gè)可移動(dòng)的測(cè)試資源供用戶用于UUT的測(cè)試。而可以移動(dòng)電源針帶給用戶的優(yōu)勢(shì)在于：無需任何附加的固定電纜，即可以給UUT接入電源，從而輕松地對(duì)其進(jìn)行功能測(cè)試！

Pilot^4D V8的測(cè)試方法和技術(shù)特點(diǎn)：

FNODE：UUT上的網(wǎng)絡(luò)信號(hào)分析

標(biāo)準(zhǔn)的模擬和數(shù)字的ICT測(cè)試

無矢量測(cè)試(JSCAN和OPENFIX), 測(cè)試各種IC的開路和短路

PWMON用于電路板加電后的網(wǎng)絡(luò)分析

用于檢測(cè)電路板印制線開路的導(dǎo)通測(cè)試

用于電路板上元器件缺失及反向的自動(dòng)光學(xué)測(cè)試

選裝的功能測(cè)試和邊界掃描測(cè)試

用于數(shù)字器件的在板編程

熱掃描裝置 

可以將所有這些測(cè)試方法和技術(shù)置于一個(gè)測(cè)試程序中，這是一項(xiàng)重大創(chuàng)新，意味著可以將諸如與網(wǎng)絡(luò)有關(guān)聯(lián)的FNODE和PWMON等測(cè)量技術(shù)植入到程序中，用這種有效縮減編程和測(cè)試時(shí)間的方法，為用戶提供了故障測(cè)試覆蓋率高的行之有效并易于操作的全新理念。另外，由于Pilot^4D V8具有全部的測(cè)試資源，也是由于它具備了Seica所有飛針的配置（單面或雙面，2或 4飛針）因此，它可以運(yùn)行在所有其它飛針測(cè)試系統(tǒng)上生成的任何程序。 

VIP平臺(tái)

Pilot^4D V8是基于Seica的VIP平臺(tái)，包括創(chuàng)新的VIVA測(cè)試軟件。測(cè)試程序僅需要3個(gè)步驟既可完成：“準(zhǔn)備”、“確認(rèn)”和“測(cè)試”。從軟件開始界面起即引導(dǎo)操作者通過一系列的直觀的、配有自我注釋環(huán)境的自動(dòng)下行操作頁(yè)面進(jìn)行編程，極大地減少了編程時(shí)間，并且將出錯(cuò)降低至最小甚至消失。

對(duì)某些特殊應(yīng)用，可以深度打開VIP平臺(tái)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，通過如RS232、USB接口、GPIB和PXI/XI協(xié)議接口等，將外部軟件和/ 或硬件輕而易舉地與之集成。