Spark 8000 全譜火花直讀光譜儀采用高分辨率線陣CMOS（Complementary Metal Oxide Semiconductor）作為檢測器，CMOS 檢測儀器集成性高、讀取速度更快、功耗低、長期穩(wěn)定性更高；每個像素自帶放大器，可對特殊元素進行強度調(diào)整，增加儀器的準確度，降低分析限，實現(xiàn)全譜掃描。采用智能控制光室充氣系統(tǒng)，儀器性能更穩(wěn)定，服務(wù)期限更長久。海量的譜線使分析不再受限，曲線分段跳轉(zhuǎn)同一元素不同譜線間實現(xiàn)無縫銜接，拓展分析范圍第三元素干擾校正使元素分析更加準確，可以在用戶現(xiàn)場任意增加材料基體和分析元素而無需增加硬件，維護保養(yǎng)方便。能量、頻率連續(xù)可調(diào)全數(shù)字固態(tài)光源，適應(yīng)各種不同材料；網(wǎng)口采集傳輸，速度快，通用性更強。

儀器特點

全固態(tài)數(shù)字火花光源

全固態(tài)數(shù)字火花光源（國家技術(shù)號 ZL .4）

能量、頻率連續(xù)可調(diào)

頻率可達 1000Hz

MTBF（平均間相隔時間）＞ 5000 小時

同軸自旋式氣路激發(fā)臺

自旋氣路

增壓式自吹掃

激發(fā)充分

千次激發(fā)無需清理

恒溫系統(tǒng)

硅膠加熱膜，加熱均勻、穩(wěn)定

高精度溫控系統(tǒng)，溫度控制精度±0.1℃

多重保溫措施，隔絕環(huán)境溫度影響，保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定

自保護透鏡隔離閥

便于維護

消除誤操作引起的光學(xué)系統(tǒng)污染

采集系統(tǒng)

網(wǎng)口傳輸方式，數(shù)據(jù)傳輸穩(wěn)定、可靠

多線程數(shù)據(jù)采集，采集速度快、頻率高

第三元素干擾

自動扣除元素間加合、倍增干擾，分析結(jié)果更加精準

分析軟件 

簡潔清新、功能*

多語言版本（中、英、俄、德）

智能冶煉配料計算

牌號識別

支持碳當量等自動計算功能

曲線分段跳轉(zhuǎn)

元素含量高低曲線分段，自動匹配，分析范圍廣

未知樣品自動匹配分析程序

高速智能校正

單次激發(fā)即可校正全譜

自動校準像素漂移，保證光學(xué)系統(tǒng)穩(wěn)定性