供應(yīng)HP惠普4284A精密LCR測(cè)試儀

供應(yīng)HP惠普4284A精密LCR測(cè)試儀

    HP4284A是美國(guó)惠普公司（現(xiàn)KeysigTechnologies）推出的一款高精度LCR測(cè)試儀，廣泛應(yīng)用于電子元器件測(cè)試與研發(fā)領(lǐng)域。該儀器以其測(cè)量精度和穩(wěn)定的性能，成為電感、電容和電阻參數(shù)測(cè)試的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備之一。

產(chǎn)品特點(diǎn)

1. 高精度測(cè)量：支持從20 Hz至1 MHz的寬頻率范圍，基本精度可達(dá)0.05%，滿足精密元器件的測(cè)試需求。

2. 多功能測(cè)試：可測(cè)量L、C、R、D、Q、Z等多種參數(shù)，并具備直流電阻（DCR）測(cè)量功能。

3. 靈活的配置：提供列表掃描和分段掃描模式，支持自動(dòng)化測(cè)試，便于集成到生產(chǎn)線或研發(fā)測(cè)試系統(tǒng)中。

4. 用戶友好設(shè)計(jì)：配備直觀的操作界面和GPIB接口，方便數(shù)據(jù)傳輸與設(shè)備控制。

技術(shù)參數(shù)

• 頻率范圍：20 Hz - 1 MHz

• 基本精度：0.05%

• 測(cè)量參數(shù)：L、C、R、|Z|、|Y|、θ、D、Q等

• 測(cè)試信號(hào)電平：5 mV - 2 V

• 直流偏置：0 - 2 V（可選40 V）

• 接口類型：GPIB、RS-232

行業(yè)經(jīng)驗(yàn)分享

     在無源元器件制造、科研實(shí)驗(yàn)和品質(zhì)檢測(cè)中，HP4284A常用于高頻電感、陶瓷電容、濾波器等元件的性能評(píng)估。其高穩(wěn)定性和重復(fù)性為產(chǎn)品一致性提供了保障。例如，在射頻元件測(cè)試中，通過多點(diǎn)頻率掃描可全面分析元件的頻率特性，為優(yōu)化設(shè)計(jì)提供數(shù)據(jù)支持。此外，定期校準(zhǔn)與維護(hù)是保持儀器長(zhǎng)期準(zhǔn)確度的關(guān)鍵。

關(guān)于深圳市寶安區(qū)沙井方豐瑞儀器設(shè)備經(jīng)營(yíng)部

   該經(jīng)營(yíng)部位于深圳市寶安區(qū)沙井街道，長(zhǎng)期專注于電子測(cè)試儀器的銷售與技術(shù)服務(wù)，致力于為客戶提供可靠的設(shè)備選型支持與售后維護(hù)，助力用戶提升測(cè)試效率與質(zhì)量。

總結(jié)

   HP4284A以其高精度和可靠性，在電子測(cè)試領(lǐng)域始終占據(jù)重要地位。尤其適用于對(duì)測(cè)量結(jié)果有嚴(yán)苛要求的研發(fā)與質(zhì)檢環(huán)節(jié)，是許多企業(yè)和實(shí)驗(yàn)室的設(shè)備。