JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代產(chǎn)品，該設(shè)備在性能上有了進(jìn)一步的提高，無(wú)論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間分辨率圖像和高靈敏度的元素分析。

產(chǎn)品特點(diǎn)

• FHP2 新型物鏡極靴

保證超高空間分辨率觀察的同時(shí)，優(yōu)化FHP物鏡極靴的形狀以滿足大尺寸雙SDDs（158mm2）的需求，x射線有效檢測(cè)效率提高了兩倍以上，實(shí)現(xiàn)亞埃級(jí)分辨率的EDS元素面分析。

• 新型屏蔽體

TEM柱采用箱式外殼，可減少溫度、氣流、噪聲等環(huán)境變化的影響，從而提高顯微鏡的穩(wěn)定性。

• ETA 校正器 & JEOL COSMO™

快速準(zhǔn)確的像差校正

• 穩(wěn)定性提高

CFEG采用小型SIP泵，快速提高真空度，提高了發(fā)射體附近的真空、發(fā)射電流、探針電流的穩(wěn)定性。其他改進(jìn)也提高了顯微鏡的穩(wěn)定性和對(duì)各種干擾的抵抗力。

• OBF System (可選件) *

在新的成像方法“OBF STEM”中，通過(guò)分段式 STEM 探測(cè)器獲取的原始圖像被用作相位圖像重建的來(lái)源，并使用專用的傅里葉濾波器來(lái)強(qiáng)化所恢復(fù)圖像的信噪比。這種有前景的方法即使在極低的電子劑量條件下也能實(shí)現(xiàn)重元素和輕元素的更高對(duì)比度。對(duì)于標(biāo)準(zhǔn) ADF 和 ABF STEM 方法難以觀察的對(duì)電子束敏感的材料，也可以在廣泛的放大倍數(shù)范圍內(nèi)以更高的對(duì)比度輕松進(jìn)行分析。K. Ooe, T. Seki, et al., Ultramicroscopy 220, 113133 (2021)

• STEM 低劑量成像

包括金屬有機(jī)框架（MOFs）和沸石在內(nèi)的對(duì)電子束敏感的材料需要降低電子劑量（通常，探針電流< 1.0 pA），同時(shí)保持輕元素框架的清晰原子對(duì)比度。對(duì)于此類低劑量實(shí)驗(yàn)，OBF STEM 具有優(yōu)勢(shì)，能夠?qū)崿F(xiàn)原子分辨率下的超高劑量效率 STEM 成像。

OBF STEM 圖像 MOF MIL-101（左）和 MFI 沸石（右）均在單次拍攝中獲得，右插圖中的 FFT 圖案也能觀察到 1 埃的高空間分辨率。此外，堆疊圖像平均（左插圖）證實(shí)了分辨率和對(duì)比度達(dá)到了很好的平衡。

• 高對(duì)比度輕元素成像

除了具有很高的劑量效率外，OBF STEM 在輕元素成像方面也具有優(yōu)勢(shì)。即使在較低的加速電壓下，也能實(shí)現(xiàn)輕元素的高對(duì)比度和高空間分辨率成像