
泰克TLA7000 邏輯分析儀系列為當今的微處理器和內(nèi)存設(shè)計提供了捕獲邏輯細節(jié)所需的速度和靈活性。只需一只探頭,即可定位難檢錯誤的源頭,獲得方便易讀大顯示器所具備的可視性、快速的數(shù)據(jù)吞吐量以及模擬和數(shù)字信號的時間相關(guān)視圖。
型號及參數(shù):
| 型號 | 通道 | 狀態(tài)時鐘速率 | 定時 | 定時分辨率 |
| TLA7012 | 272 | 取決于所安裝的模塊(2 個模塊插槽) | 取決于所安裝的模塊(2 個模塊插槽) | 取決于所安裝的模塊(2 個模塊插槽) |
| TLA7016 | 408 | 取決于所安裝的模塊(6 個模塊插槽) | 取決于所安裝的模塊(6 個模塊插槽) | 取決于所安裝的模塊(6 個模塊插槽) |
| TLA7BB3 | 102 | 1.4 GHz | 50 GHz | 20 ps |
| TLA7BB4 | 136 | 1.4 GHz | 50 GHz | 20 ps |
功能及優(yōu)勢:
| 功能 | 優(yōu)勢 |
| MagniVu™ 采集 | 所有通道上有更高的采樣分辨率(高達 20 ps),在時基或狀態(tài)采集模式中可避免錯過事件。 |
| iCapture™ 復(fù)用 | 通過單個邏輯分析儀探頭,在數(shù)字和模擬同時采集時避免雙探。 |
| 標示毛刺 | 獨特的功能同時顯示發(fā)生毛刺時的時間和通道,無需手動搜索所有通道。 |
| TS/TH 違例觸發(fā) | 實時違例觸發(fā)可自動采集間歇性建立和保持違例,消除監(jiān)視電路輸出時的耗時復(fù)雜工作。 |
| iView™ 顯示 | 一臺顯示器上顯示時間相關(guān)的集成模擬和數(shù)字數(shù)據(jù),獲得完整的系統(tǒng)信息。 |
| iVerify™ 分析 | 使用示波器生成的圖形通過多通道總線分析快速查找信號完整性問題。 |
| 自動測量 | 通過高級測量方便概述設(shè)計的性能:頻率、周期、脈寬、占空比和邊沿計數(shù)。 |
| 拖放式觸發(fā) | 通過簡單直觀的觸發(fā)設(shè)置,快速隔離事件。觸發(fā)包括:通道邊沿、通道值、總線值、多組值、毛刺、建立和保持違例、或在任何方面觸發(fā)。 |

































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