BT2152B 自放電分析儀可以測量鋰離子電芯的自放電電流，讓您可以更快分辨電芯自放電性能的高低，從而大幅減少電芯制造中的在制品庫存數(shù)量

特點(diǎn)

• 自放電電流的測量通道數(shù)每次可增加 4 個(gè)，最多達(dá)到 32 個(gè)通道

• 電芯電壓量程：0.5 至 +4.5 V

• 電流測量準(zhǔn)確度： ± (0.30% + 250 nA)

• 電壓測量準(zhǔn)確度： ± (0.04% + 0.1 mV)

• 電壓源穩(wěn)定度：± 3 μV 峰值（24 小時(shí)），± 0.85 μV 峰值（1 分鐘）

• 電流量程：± 10 mA

Keysight BT2152B 自放電分析儀可以直接測量鋰離子電芯的自放電電流， 并且可以顯著加速分辨電芯自放電性能的高低， 從而大幅降低電芯制造商的在制品庫存、營運(yùn)資本費(fèi)用和設(shè)施成本。

自放電分析儀可以準(zhǔn)確測量電芯的自放電電流和電壓。 取決于電芯的特征，測量只需幾分鐘或幾小時(shí)即可完成，無需像以往那樣耗費(fèi)數(shù)天或數(shù)周的時(shí)間，通過測量開路電芯電壓來區(qū)分電芯的優(yōu)劣。

這種自放電分析儀具備準(zhǔn)確測量電流所需要的各種功能特性，能夠采用精密的恒電位測量法快速測量自放電電流。

• 盡量減少對電芯的干擾

  • 施加給電芯的電壓與實(shí)際電芯電壓快速匹配。 這樣就能盡量避免新的充電或放電，從而縮短新的 RC 建立時(shí)間。

  • 施加給電芯的電壓非常穩(wěn)定（± 3 μVpk），可以限度降低自放電電流噪聲對放電電流測量的影響。

  
  

• 測量低電平自放電電流的準(zhǔn)確度可達(dá) ±(0.30% + 250 nA)

可以改進(jìn)自放電測試的過程并節(jié)省成本

鋰離子電芯制造商保有的電芯在制品庫存數(shù)量要遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過他們的預(yù)期，這是因?yàn)樗麄冃枰獙﹄娦具M(jìn)行老化測試。

目前，確定電芯自放電特性是否在允許范圍內(nèi)，這一步驟所需的時(shí)間在總體老化時(shí)間中占大頭。 這段時(shí)間通常很長，主要由測量 OCV 變化（ΔOCV）需要多長時(shí)間決定。 減少電芯在老化過程中處于在制品庫存狀態(tài)的時(shí)間，可以節(jié)省成本，并直接提高盈利。

通過檢查電芯制造過程中的化成和老化過程的典型模型，并對比直接測量電芯自放電電流法與傳統(tǒng)的 OCV 法，可以看出直接測量自放電電流法有助于改進(jìn)老化過程，并節(jié)省成本。

傳統(tǒng)的 ΔOCV 法

確定電芯自放電性能的高低，需要經(jīng)過兩個(gè)步驟。 步，在 5 天的老化期之后，可執(zhí)行 ΔOCV 測試，將可以明顯分辨性能高低的電芯與“可疑”電池分開，其中 ΔOCV = OCV2 – OCV1。 然后對“可疑”電芯進(jìn)行更長時(shí)間的老化，再進(jìn)行一次 ΔOCV 測試，其中 ΔOCV= OCV3 – OCV2。 大多數(shù)電芯只需要較短的老化時(shí)間，但是部分“可疑”電芯則需要長得多的老化時(shí)間，才能確定它們的自放電特性是否在允許范圍內(nèi)。

直接測量自放電電流

這種確定電芯自放電性能高低的方法同樣分成兩步。 步與 ΔOCV 測試一樣，其中 ΔOCV = OCV2 – OCV1。 接著直接測量“可疑”電芯的自放電。 傳統(tǒng)的“可疑”電芯老化時(shí)間測量通常需要持續(xù)至少 4 周，而直接測量只需要大約 1 小時(shí)不到。

如果生產(chǎn)的電芯共有 10％ 被列為“可疑”，需要在 ΔOCV 測試之后對“可疑”電芯再進(jìn)行一次測試或老化測試，那么直接測量自放電法與老化測試法相比，總體時(shí)間縮短大約 81％（7天對 37 天）。 由于不需要執(zhí)行時(shí)間較長的“可疑”電芯老化步驟，直接測量法可以使老化測試中的電芯總數(shù)減少 30%。 這樣就直接降低了對在制品庫存和設(shè)施的要求。

您可以下載運(yùn)營資本成本和設(shè)施成本的成本節(jié)省模型，比較 ΔOCV 法與直接自放電測量（SDM）法。 這個(gè)模型使用 Microsoft Excel 生成，下面提供了模型工作表供您下載和修改，確保其適合您所制造的每種電芯的實(shí)際情況。