硫系,紅外樹脂等材料對可見光不透過,這樣的樣品殘余應(yīng)力評估很難實現(xiàn),為此Photonic Lattece 專門研制了WPA-NIR雙折射測量儀,采用850nm或940nm波長,能高速的測量和分析近紅外材料的雙折射/殘余應(yīng)力分布,安裝既有的操作簡單和實用的軟件WPA-View,可以自由分析任意線上的相位差分布圖形、任意區(qū)域內(nèi)的平均值等的定量數(shù)據(jù)可搭配流水線對應(yīng)的『外部控制選配』,也可應(yīng)用于量產(chǎn)現(xiàn)場
WPA-NIR
主要特點:
- 紅外波長的雙折射/相位差面分布測量
- 硫系、紅外透明樹脂等的光學(xué)畸變評估
- 小型、簡単操作、高速測量
- WPA-NIR能高速的測量/分析波長為850nm或940nm的雙折射分布
- 安裝既有的操作簡單和實用的軟件WPA-View
- 可以自由分析任意線上的相位差分布圖形、任意區(qū)域內(nèi)的平均值等的定量數(shù)據(jù)
- 可搭配流水線對應(yīng)的『外部控制選配』,也可應(yīng)用于量產(chǎn)現(xiàn)場
- 高速測量面的雙折射/相位差分布
- NIR波長僅需操作鼠標(biāo)數(shù)秒內(nèi)就能獲取高密度的雙折射/相位差信息
- 測量數(shù)據(jù)的保存/讀取簡單快捷
- 全部的測量結(jié)果都可以做保存/讀取,易于跟過去的測量結(jié)果做比較等
- 豐富的圖形創(chuàng)建功能
- 可以自由制作線圖形和直方圖
- 測量結(jié)果可以在一個圖形上做比較,也可以用CSV格式輸出

實際測量對比:




































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