R&S®ZVA 系列產(chǎn)品屬于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，可支持 4 個信號源，可以精準地測量高達 110 GHz 的信號。

需要對高性能、多功能型有源或無源組件和模塊進行要求的測量時，該系列產(chǎn)品是理想的選擇。 其高頻型產(chǎn)

品的頻率范圍可擴展至 500 GHz。

主要特點

• 帶 4 個內(nèi)部信號源，頻率高達 67 GHz，可以快速地對放大器和混頻器進行測量

• 具有 4 個相位相干信號發(fā)生器功能（頻率可高達 67 GHz）

• 中頻帶寬可高達 30 MHz，可以實現(xiàn)放大器和混頻器的脈沖測量功能
• 可以對帶或不帶本振接入的混頻器的變頻損耗進行相位和群延時測量

• 可以對放大器和混頻器進行諧波、壓縮、互調(diào)和 Hot S22測量

• 實現(xiàn)了無噪聲源噪聲系數(shù)定義的新方法

• 實現(xiàn)了脈內(nèi)掃頻測量、脈沖平均掃頻測量和脈沖包絡(luò)測量

• 2個內(nèi)部脈沖發(fā)生器

• 通過 R&S^®ZVAX24，實現(xiàn)了內(nèi)部脈沖調(diào)制器和組合器

• 嵌入/去嵌入功能通過虛擬網(wǎng)絡(luò)實現(xiàn)阻抗匹配

• 支持真差分測量，可以表現(xiàn)出平衡設(shè)備的非線性效應(yīng)

• 多功能校準技術(shù)：TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA、UOSM 和 AutoCal

頻率可高達 67 GHz，并且含兩路內(nèi)部源的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，可以快速地對放大器和混頻器進行測量

線性和非線性放大器和混頻器測量

• 對混頻器變頻損耗的矢量誤差校正幅度和相位進行測量
• 對帶內(nèi)置本振的群延時和相對相位進行測量
• 對混頻器的變頻損耗和互調(diào)進行測量
• 對放大器進行互調(diào)和 Hot S 參數(shù)進行測量

脈沖測量
• 頻帶寬高達 30 MHz 的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，用于對工作頻率高達 67 GHz的放大器和混頻器進行脈沖測量（詳細內(nèi)

容請參見“應(yīng)用”和“選件”）
• 對脈寬小于 50 ns 的脈沖信號進行分辨率高達 12.5 ns 的脈沖包絡(luò)測量
• 頻率和功率掃描式的脈內(nèi)測量

工作頻率高達 50 GHz 、可以產(chǎn)生相位相干信號的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
• 采用真差分模擬，可以快速、簡便地測試平衡待測設(shè)備
• 輸入到DUT 參考面上的信號的幅值和相位關(guān)系支持用戶自定義

校準
• 多功能校準技術(shù)：TOSM、TRL/LRL、TOM、TRM、TNA 和 UOSM
• 方便、快捷的矢量混頻器校準功能和帶有“未知通路”校準 UOSM的“適配器去除功能”

一、優(yōu)化的測試和配置時間，提高了測試速度

大中頻帶寬和寬動態(tài)范圍，使測量快并精確

R&S^®ZVA 的測量速度的將高達 1 MHz的中頻帶寬（可選 5/10 MHz）和高速合成器結(jié)合在一起，縮短了測量時間，從而提高了手動調(diào)整和自動化生產(chǎn)過程的效率。 在CW 模式下，每個測試點的測量時間不到 3.5μs；頻率掃描模式下200 多個測試點不到 5ms 即可完成。
由于該分析儀的動態(tài)范圍寬、相位噪聲低，因而這種速度優(yōu)勢絲毫不會對測量準確性產(chǎn)生影響。 借助 R&S^®ZVA 上 100 多個獨立信道和配置的跡線，可以在短時間內(nèi)完成復雜組件全面的功能測試。 不再需要耗時地加載新的儀表設(shè)置。


寬動態(tài)范圍

只需要很少的校準工作量和校準時間—R&S^®ZV-Z5x 自動校準單元

• 采用自動校準單元，將校準時間降低至更小

• 自動檢測已經(jīng)連接的設(shè)備和端口：無需配置

• 工作溫度范圍極寬，預熱時間幾乎為零

手動校準

• 羅德與施瓦茨網(wǎng)絡(luò)分析儀支持多種校準技術(shù)。 測試裝置的夾具、晶片、PCB、波導或者導線端頭可能需要校準。 選擇可以支持適用校準標準的校準技術(shù)。

• 系統(tǒng)設(shè)計有結(jié)構(gòu)清晰的對話框，顯示所有的校準步驟，確保校準工作正確無誤。

• 校準期間，錯誤的連接僅需重做相應(yīng)的校準步驟，即，無需從頭開始的重新校準。

• 對于多端口重新校準，更加省心省力：更換測試儀組件（例如，某個故障電纜）之后，僅需重新校準相應(yīng)的通路。

• 避免重新校準：對于后續(xù)測量信道和設(shè)置，可以使用已有的校準結(jié)果。

并行測量-測量速度比原來快四倍

R&S^®ZVA 的發(fā)生器設(shè)計，使得每個測試端口都可以同時作為信號源和接收機使用。 因此，可以對測試端口進行分組。 在各個測試端口組上進行的測量任務(wù)可以彼此實現(xiàn)同步。 因而，可以并行地測量多個 DUT 或者一個 DUT 的多個通路； 測量時間僅相當于測量一個設(shè)備所需要的時間。 因此，同時測量兩個兩端口DUT時，速度將提高一倍；同時測量四個單端口DUT時，速度將是原先的四倍。

并行測量-儀器各種設(shè)置之間的快速切換

在同時分析多個DUT時，你再也無需從硬盤逐個載入所需的儀器設(shè)置。一旦被調(diào)用，設(shè)置將始終保存于RAM中，其中包括計算獲得的數(shù)據(jù)，例如通過插值獲得的校準值。 因此，各種設(shè)置之間的切換幾乎不會產(chǎn)生延誤，例如：遠程控制模式下不到 10 ms 時間。 而對于傳統(tǒng)儀器來說，設(shè)置的調(diào)用則需要花費長達一秒鐘的時間。 每個設(shè)置都用一個單獨的測量窗口表示。 需要在不同窗口之間切換時，只需使用鼠標或按動按鍵即可。 此外，這種設(shè)計還可以方便地處理并清晰地顯示大量的測量結(jié)果和跡線。

儀器各種設(shè)置之間的切換-在掃描的同時進行數(shù)據(jù)傳輸

由于跡線數(shù)據(jù)可在捕獲測量數(shù)據(jù)的同時通過IEC/IEEE總線或LAN進行傳輸，因而 R&S^®ZVA 上的數(shù)據(jù)傳輸時間對于重復測量序列來說微不足道。

信道位和用戶端口——高速控制外部設(shè)備

為了進一步縮短自動測試周期，儀器后面板上提供了一個用于觸發(fā)I/O信號的特殊端口， 這些 I/O 信號可通過 R&S^®ZVA 的內(nèi)部測量序列直接同步測量裝置的外部設(shè)備或 DUT 設(shè)置。諸如“觸發(fā)就緒”等儀表狀態(tài)，可以用作直接控制外部設(shè)備的電信號。由于不需要使用遠程控制序列，因而節(jié)省了執(zhí)行時間。

利用分段掃描實現(xiàn)測量速度、準確性和動態(tài)范圍

分段掃描功能允許將一次掃描分割成數(shù)量不受限制的許多段，每一段的測試點間距、測量帶寬和信號發(fā)生器功率等各分段掃描參數(shù)可單獨進行定義，從而實現(xiàn)與DUT特性之間的匹配。 以此實現(xiàn)測量速度和準確度的進一步優(yōu)化。

二、直觀的用戶界面和顯示結(jié)構(gòu)

為了滿足用戶需求，羅德與施瓦茨公司的全部網(wǎng)絡(luò)分析儀的所有功能都可以采用前面板按鍵、鼠標和鍵盤，或者同時采用兩者進行控制。對話框直觀地顯示儀表設(shè)置和可輸入的參數(shù)。僅需少數(shù)幾個菜單，就可以完成基本的設(shè)置。 系統(tǒng)設(shè)計了其它表格和對話框，可以用于更加詳盡的高級設(shè)置。 此外，鼠標點擊顯示界面中的參數(shù)區(qū)域時，會彈出菜單，從中可以選擇目標參數(shù) – 采用該功能，可以極其方便、快速地操作 R&S^®ZVA。

虛擬阻抗匹配的參數(shù)化配置網(wǎng)絡(luò)

（重新）配置跡線、信道、標度和顯示區(qū)域等

配置時域測量（TDR）功能

羅德與施瓦茨公司的所有網(wǎng)絡(luò)分析儀的主要目的是實現(xiàn)配置的方便與靈活性以及海量測量數(shù)據(jù)（即，跡線和測量信道）的處理能力。 跡線、信道、顯示和設(shè)置等的數(shù)量僅受 PC 內(nèi)存的限制（例如，可支持高達 100 個跡線，且每個跡線最多可支持 401 個數(shù)據(jù)點）。 即使是不同信道的跡線，也可以組合在一個區(qū)內(nèi)，據(jù)此，可以方便地比較使用了不同參數(shù)的測量結(jié)果。 完成設(shè)置之后，所有跡線均可以重新布局、移至不同的區(qū)域，或者分配給不同的信道；更改設(shè)置時，無需一切從頭開始。

靈活的信道和跡線布局

三、創(chuàng)新式的校準技術(shù)

多用途校準技術(shù)，可滿足多種領(lǐng)域的應(yīng)用

R&S^®ZVA 不僅提供傳統(tǒng)的TOSM校準方法（直通、開路、短路、匹配），而且還提供其他多種校準技術(shù)。 由于 R&S^®ZVA 的每個測試端口都配備了一個單獨的參考接收機，因而可以使用 7-term 校準技術(shù)，其中包括 TRL/LRL（直通、反射、傳輸線/傳輸線、反射、傳輸線）、TOM（直通、開路、匹配）、TNA（直通、網(wǎng)絡(luò)、衰減器）和 TRM（直通、反射、匹配）。這些校準技術(shù)適合測試夾具或晶片的校準。 由于校準直接在 DUT 參考面上進行，因而消除了測試夾具產(chǎn)生的影響。

UOSM 校準技術(shù)極其類似于 TOSM 技術(shù)。但是，前者允許使用未知通路（“U”）作為校準標準，即，無需知道某個通路的參數(shù)（例如，長度或衰減）。 此外，支持各種類型連接器隨意組合的適配器也可用作通路。因此，極大地方便了帶有不同類型連接器的 DUT 的校準任務(wù)。

使用靈活的校準套件

任何一種網(wǎng)絡(luò)分析儀的測量精度很大程度地取決于例如長度、容量等所有電氣和機械參數(shù)。這些參數(shù)決定了幅值和相位響應(yīng)，因而，也決定了校準標準中的 S 參數(shù)。 當然，必須盡可能準確地獲得這些參數(shù)。 為了定義校準標準，必要擁有考慮了可能出現(xiàn)的全部非理想條件的等效電路。 羅德與施瓦茨的所有網(wǎng)絡(luò)分析儀均配設(shè)有清晰的等效電路圖和建模功能，可以進行詳盡的參數(shù)設(shè)置。

通過電氣延時、任意阻抗和損耗定義匹配
采用等效電路圖定義匹配，其中，考慮了寄生電感和寄生電容效應(yīng)

除了手動地定義校準套件之外，也可以通過文件方便地安裝校準套件 – 甚至可以采用其它提供商的 ASCII 碼文件進行安裝。 可以切換至其它提供商所使用的測量單元。

自動校準――快速、無錯誤、高精度

盡管 TOSM、TRM 和 TRL 等手動校準技術(shù)可用于多端口測量，但是比較耗時，出錯率高，并且校準裝置磨損嚴重。 羅德與施瓦茨提供同軸單端口和多端口校準所需的自動校準單元，該單元在連接后可立即進入工作狀態(tài)，不到30秒時間可完成201個測試點的四端口校準。

四、通信

系統(tǒng)設(shè)計有各種后面板連接器，用于支持：

• 通過遠程控制軟件控制儀表

• 采用 R&S^®NRP探頭進行直流電壓和功率測量

• 同步功能（例如，參考頻率、外部觸發(fā)器、掃描和觸發(fā)狀態(tài)指示等，用以直接、快速地與外部設(shè)備進行交互）。

• 掃描時間測量：USER CONTROL 端口的針腳 4 指示測量時間，與菜單“Trigger settings（觸發(fā)器設(shè)置）”中的設(shè)置相對應(yīng)（掃描、掃描段、測試點，或者部分測量）。 借助示波器，可以方便地監(jiān)控每一種情況下實際所需要的執(zhí)行時間。