火花直讀光譜儀JM-1003儀器簡(jiǎn)介：
用于各種金屬材料中各種化學(xué)元素的精確成分分析。用于原材料檢驗(yàn)，冶煉生產(chǎn)過(guò)程成分控制，成品元素成分定值及其它特殊應(yīng)用。多可配置4個(gè)光學(xué)室，96個(gè)分析通道，可分析氮、氫、氧等氣體元素。

火花直讀光譜儀JM-1003技術(shù)參數(shù)：
1.光柵刻線3600條/mm光柵，色散率0.37 nm/mm (1級(jí)光譜)
2.波長(zhǎng)范圍120-800nm
3.光柵焦距750mm
4.多可設(shè)置96個(gè)分析通道
5.環(huán)境適應(yīng)性強(qiáng)：無(wú)需防震、恒溫；工作溫度范圍：10-40℃。

主要特點(diǎn)：
1.多光學(xué)系統(tǒng)配置,多可以設(shè)置3個(gè)光學(xué)系統(tǒng)。
2.所有元素采用一級(jí)譜線，靈敏度高，光譜干擾小。
3.3000型數(shù)字化光源。精度和檢出限明顯改善。無(wú)須輔助電極，免維護(hù)。
4.原廠校準(zhǔn)工作曲線，用戶無(wú)須標(biāo)樣制作曲線，隨機(jī)提供德國(guó)SUS校準(zhǔn)標(biāo)樣。
5.SAFT痕量元素分析技術(shù)，使分析靈敏度提高一個(gè)數(shù)量級(jí)，可以分析ppm級(jí)元素

創(chuàng)新點(diǎn):基于用戶的分析要求，可定制十種基體的任意組合，也可與五種貴金屬基體任意組合。*的混合動(dòng)力雙光學(xué)系統(tǒng)，配備模擬檢測(cè)器光學(xué)系統(tǒng)和數(shù)字檢測(cè)器光學(xué)系統(tǒng)。SPECTROLAB的雙動(dòng)力光學(xué)系統(tǒng)的入射光是由火花臺(tái)直接同時(shí)導(dǎo)入光電管和CCD光學(xué)系統(tǒng)，同時(shí)具備超低檢測(cè)限和靈活選擇光譜線的特性。全譜覆蓋120-800 nm, 自由選擇光譜線用于分析。全數(shù)字等離子發(fā)生器激發(fā)光源，精確控制激發(fā)條件，在標(biāo)準(zhǔn)分析應(yīng)用中18秒內(nèi)可以獲得分析數(shù)據(jù)，提高了樣品輸出量和過(guò)程控制效率。火花臺(tái)技術(shù)實(shí)現(xiàn)氬氣耗量低，火花臺(tái)維護(hù)量低。