一、產(chǎn)品概述與技術(shù)原理

1.1 產(chǎn)品簡(jiǎn)介

?介電常數(shù)測(cè)試儀 絕緣材料 電瓷 電容器是基于“高頻阻抗分析儀+精密平板電容器測(cè)試裝置”的全自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，主要用于絕緣材料、電瓷、電容器等的介電性能檢測(cè)。其核心原理是通過(guò)測(cè)量試樣插入平板電容器前后的電容值（Cp）與損耗值（D）變化，由內(nèi)置處理器直接運(yùn)算并顯示介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗角正切（tanδ），全程無(wú)需人工干預(yù)，提升測(cè)試效率與可靠性?。

1.2 核心特點(diǎn)

• ?全自動(dòng)測(cè)試?：上下位機(jī)同步檢測(cè)，一鍵操作直接讀取介電常數(shù)（ε）和損耗（D）結(jié)果。

• ?高精度與寬范圍?：基本精度達(dá)0.05%，介電常數(shù)測(cè)量范圍1~10，損耗因子（D）0.00001~9.99999。

• ?寬頻測(cè)試能力?：工作頻率覆蓋20Hz至2MHz（標(biāo)配），可選配擴(kuò)展至5MHz，滿(mǎn)足介電頻譜分析需求。

• ?多國(guó)標(biāo)準(zhǔn)兼容?：遵循GB/T 1693-2007、GB/T 1409-2006、IEC 60250及ASTM D150等標(biāo)準(zhǔn)?。

• ?智能便捷?：4.3寸TFT中英文液晶顯示，支持USB、LAN、RS232C等接口，便于數(shù)據(jù)存儲(chǔ)與自動(dòng)化集成。

二、主要技術(shù)參數(shù)與性能指標(biāo)

2.1 測(cè)量系統(tǒng)性能

• ?測(cè)試參數(shù)?：介電常數(shù)（ε）、介質(zhì)損耗角正切（tanδ/D）。

• ?測(cè)試頻率?：20Hz~2MHz（標(biāo)準(zhǔn)），擴(kuò)展可選5MHz，分辨率10mHz。

• ?測(cè)試速度?：13ms/次，支持快速（200次/秒）、中速、慢速模式。

2.2 阻抗分析儀核心參數(shù)（GDAT-S）

• ?基本精度?：0.1%。

• ?測(cè)試功能?：支持Cp-D、Ls-Q、R-X等20余種參數(shù)組合。

• ?直流偏置?：電壓-5V~+5V，電流-100mA~+100mA；輸出阻抗可選30Ω、50Ω等。

2.3 精密介電常數(shù)測(cè)試裝置（平板電容器）

• ?試樣規(guī)格?：直徑φ10mm~φ56mm，厚度<10mm片狀試樣。

• ?測(cè)試方法?：接觸電極法、薄膜電極法、非接觸法，適配軟質(zhì)/表面不平整材料。

• ?機(jī)械精度?：微分頭分辨率10µm，確保電極間距精確可調(diào)。

2.4 系統(tǒng)配置

包含介電常數(shù)測(cè)試儀 絕緣材料 電瓷 電容器、平板電容器測(cè)試電極、數(shù)據(jù)連接線(xiàn)、說(shuō)明書(shū)等。

三、產(chǎn)品核心優(yōu)勢(shì)與應(yīng)用價(jià)值

3.1 標(biāo)準(zhǔn)符合性

采用平板電容器法（三電極系統(tǒng)），符合GB/T 1693-2007等標(biāo)準(zhǔn)，自動(dòng)排除人為計(jì)算誤差，數(shù)據(jù)可直接用于絕緣材料（如聚乙烯）的入廠(chǎng)檢驗(yàn)與質(zhì)量認(rèn)證?23。

3.2 效率與自動(dòng)化提升

• ?一鍵操作?：直接顯示結(jié)果，省去人工計(jì)算；高速測(cè)量支持批量篩查。

• ?數(shù)據(jù)管理?：U盤(pán)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)，內(nèi)置20組設(shè)定文件；支持HANDLER、GPIB等接口，可集成自動(dòng)化產(chǎn)線(xiàn)。

3.3 數(shù)據(jù)精準(zhǔn)可靠

• ?高精度?：6位數(shù)顯Cp和D值，0.05%電容精度，確保重復(fù)性與準(zhǔn)確性。

• ?校準(zhǔn)功能?：支持開(kāi)路、短路、負(fù)載校正，消除夾具與引線(xiàn)分布參數(shù)影響。

3.4 應(yīng)用領(lǐng)域

• ?電力絕緣?：聚乙烯、交聯(lián)聚乙烯、環(huán)氧樹(shù)脂、變壓器油等介電評(píng)估。

• ?電子材料?：PCB基材、微波陶瓷、半導(dǎo)體封裝材料的高頻介電分析。

• ?科研與質(zhì)檢?：高分子材料極化機(jī)理研究、老化壽命評(píng)估及失效分析?