高分辨原子力顯微鏡
- 產(chǎn)品概述
- 空氣中觀察樣品實(shí)例
- 液體中觀察樣品實(shí)例
- 水化溶劑化結(jié)構(gòu)觀察實(shí)例
- 調(diào)頻模式原子力顯微鏡原理
- 性能參數(shù)

觀察生動(dòng)的納米世界
使用調(diào)頻模式的型HR-SPM高分辨率原子力顯微鏡,不僅可以在空氣及液體環(huán)境中實(shí)現(xiàn)超高分辨率,而且觀察到了固液界面的水化/溶劑化作用的液體分層。
HR-SPM: 高分辨原子力顯微鏡
HR-SPM特點(diǎn)
使用調(diào)頻模式
空氣和液體中的噪音降低到傳統(tǒng)模式的二十分之一
在空氣和液體環(huán)境中也能達(dá)到超高真空原子力顯微鏡的分辨率
現(xiàn)有的掃描探針顯微鏡 (scanning probe microscopes)和原子力顯微鏡(atomic force microscopes) 通常使用調(diào)幅模式(amplitude modulation).從原理上, 調(diào)頻模式(frequency modulation) 可以達(dá)到更高的分辨率。
| SPM | : | 掃描探針顯微鏡 |
| AFM | : | 原子力顯微鏡 |
| AM | : | 調(diào)幅模式 |
| FM | : | 調(diào)頻模式 |
與現(xiàn)有SPM/AFM的區(qū)別
液體環(huán)境中原子分辨率觀察
![]() | NaCl飽和溶液中觀察固體表面的原子排列。使用調(diào)幅模式的傳統(tǒng)原子力顯微鏡,圖像*被噪音遮蓋(左圖),但在調(diào)頻模式下,原子排列清晰可見(右圖)。調(diào)頻模式實(shí)現(xiàn)了真正的原子級(jí)分辨率。 |
空氣中Pt催化劑顆粒的觀察1)
KPFM: 掃描開爾文顯微鏡 | TiO2基底上的Pt顆粒, 通過KPFM進(jìn)行表面電勢的測定,TiO2基版上的Pt催化粒子可被清晰識(shí)別。同時(shí)可以觀察到數(shù)納米大小的Pt粒子和基板間的電荷交換。右圖中,紅色區(qū)域是正電勢,藍(lán)色區(qū)域是負(fù)電勢。對(duì)于PKFM觀察,F(xiàn)M模式也大幅提高了分辨率。
注: KPFM需要特定的基底。 |
引用文獻(xiàn):
Ryohei Kokawa, Masahiro Ohta, Akira Sasahara, Hiroshi Onishi, Kelvin Probe Force Microscopy Study of a Pt/TiO2Catalyst Model Placed in an Atmospheric Pressure of N2Environment, Chemistry - An Asian Journal, 7, 1251-1255 (2012).































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