X射線衍射技術(shù)/發(fā)展史

X射線衍射技術(shù)/集成技術(shù)

BTX PROFILER的XRD技術(shù)來自于美國宇航局NASA埃姆斯實驗室，該技術(shù)曾被美國宇航局火星計劃"好奇號"、"漫游者"使用過；XRF技術(shù)則是奧林巴斯ED-XRF技術(shù)的結(jié)晶，兩大技術(shù)結(jié)合，可以提供材料的元素、成分、結(jié)構(gòu)等全方面的信息，可減少實驗成本，節(jié)約時間和空間。BTX PROFILER 采用兩套獨立的X射線源和探測器，以保證快速獲取全面優(yōu)質(zhì)的數(shù)據(jù)信息，XRD部分使用CCD二維面探測

器，該探測器可以獲取整個德拜環(huán)的衍射數(shù)據(jù)信息，XRF部分則采用SDD探測器，實現(xiàn)更低的檢測下限和更高的靈敏度。

技術(shù)規(guī)格

XRD和XRF組合技術(shù)

①XRD微聚焦X射線管  

②XRD X射線束  

③XRD準直器  ④XRD樣品  

⑤CCD探測器  ⑥XRF X射線管  

⑦濾光輪  ⑧XRF X射線束

⑨XRF樣品 ⑩ XRF SDD探測器

用于化合物分析的二維XRD

XRD采用透射衍射幾何技術(shù)，使用能量敏、

位敏的二維CCD面探測器，實現(xiàn)了儀器的小

型化和更為緊湊的結(jié)構(gòu)

1、探測器收集整個德拜環(huán)的信息而非傳統(tǒng)

臺式機只能收集德拜環(huán)一個截面的信息，增大

了數(shù)據(jù)

2、檢測快速，全譜顯示而非步進掃描，普通樣

品 分鐘即可

無測角儀的XRD

使用樣品振動系統(tǒng)(樣品在檢測過程中以6000hz的頻率隨機振動)，替代傳統(tǒng)臺式XRD測角儀可以實現(xiàn)以下功能：

1、樣品制備簡單：樣品無需制片、壓片、刮片，只需得到<150um的顆粒即可；2、實現(xiàn)樣品顆粒的全方位角度的檢測；3、完全消除檢測過程中晶體的擇優(yōu)取向；4、增加了樣品檢測量

用于全元素分析的能量色散型（ED）XRF

1、大功率射線管，配以超大面積SDD探測器；2、真正實現(xiàn)了在現(xiàn)場進行快速，準確的檢測；3、直接顯示元素的ppm含量與百分比含量；4、全元素分析，從鎂（Mg）到鈾（U）之間的所有元素； 5、7個濾光片設(shè)置，可根據(jù)元素自動選擇濾光片；6、可選配氦氣裝置進一步提高輕質(zhì)元素的檢測效果；

XRD-XRF聯(lián)用儀/軟件

XRD

XRD使用xpowder分析軟件，該軟件可提供包括背景扣除、平滑處理、Ka2峰剝離、多譜圖疊加等功能，可以進行物相定性定量分析晶體結(jié)構(gòu)分析、結(jié)構(gòu)精修處理、結(jié)晶度分析、晶粒度分析等功能。

物相定量分析可以使用RIR值及里特維德全譜擬合，實現(xiàn)復(fù)雜混合物的準確定量，尤其適合于礦物的全巖成分分析。

XRF

XRF數(shù)據(jù)處理軟件提供有關(guān)材料的定性、定量信息，其中包含光譜視圖和元素峰值辨別。定量分析使用基本參數(shù)（FP）法。在實際應(yīng)用中，可以使用一系列用戶指定的認證標(biāo)準對這些基本參數(shù)校準進行優(yōu)化（經(jīng)驗分析）。使用離線“方法建立器”軟件包可以優(yōu)化校準曲線， 自行定制分析程序，并將分析程序下載到分析儀器。

軟件還提供了其它一些用于分析的性能，如：查看元素范圍、

可選峰值識別、顯示含量結(jié)果，以及樣件組的頻譜覆蓋。

XRD-XRF聯(lián)用儀/應(yīng)用領(lǐng)域

BTX PROFILER集成二維XRD技術(shù)及ED-XRF技術(shù)，可對材料實現(xiàn)全面的分析檢測，提供材料的元素組成、化學(xué)成分、晶體結(jié)構(gòu)等方面的信息。廣泛應(yīng)用于地質(zhì)礦產(chǎn)、石油地質(zhì)錄井、地球化學(xué)、制藥、催化劑、法醫(yī)、材料等工業(yè)及科研領(lǐng)域。

礦物鑒定  XRD錄井鉆井 催化劑研發(fā) 選礦效率

礦石品位  能源勘探    腐蝕物鑒定與防腐

石油地質(zhì)  藥物多晶型  材料成分及結(jié)構(gòu)

XRF錄井鉆井  真假藥識別  教育與科研

XRD-XRF聯(lián)用儀/配置

1、儀器標(biāo)配一個樣品系統(tǒng)，檢測時只能對單個樣品進行檢測分析。

2、可選配氦氣凈化裝置，有利于Mg、Al、Si、P、S等輕元素的檢測