DelsaNano C電泳光散射固體及薄膜Zeta電位分布分析儀
技術參數(shù)
測量范圍：
1.適合測量各種固體、薄膜、纖維等；
3.ZETA電 勢：- 200 mV ~ +200 mV
4.電遷移率：-10μm・cm/sec・V ~ 10 μm・cm/sec・V
5.可配合自動滴定儀進行動態(tài)pH滴定測量
DelsaNano C電泳光散射固體及薄膜Zeta電位分布分析儀
光 源：
     雙固體激光，30 mW
探測器：
     高性能光電倍增管
樣品池：
    固體平板樣品池
DelsaNano C電泳光散射固體及薄膜Zeta電位分布分析儀
主要特點
1.測量固液界面ZETA電位，惟一的應用電泳光散射的技術；
2.操作簡單，方便快捷；
3.靜態(tài)測量與動態(tài)測量；
4.待測樣品無須特別處理；
5通過探測粒子準確推算表面ZETA電位；
6.分辨率高；
7.同時獲得粒子ZETA電位與固體表面ZETA電位；
儀器介紹
 目前能測量固體或薄膜材料的液固介面ZETA電位的儀器很少。而應用電泳
光散射的方法，測量液、固介面Zeta電位的儀器僅有貝克曼庫爾特公司
上市的DelsaNano系列。
 DelsaNano C是目前惟一的應用電泳光散射及動態(tài)光散射原理，同時提供
顆粒Zeta電位分布、固體及薄膜液-固表面Zeta電位分布和納米粒度分布的分
析儀。DelsaNnao通過特別設計的固體平板樣品池，有效精確地為固體材料、
纖維材料、薄膜材料等提供ZETA電位分析。為廣大的新材料研究、生產(chǎn)提供
的、多用途的分析工具。

粒度儀|粒度分析儀|激光粒度儀|激光粒度分析儀