性能高級、操作簡便、堅固耐用、結果可靠

38DL PLUS測厚儀是一款開創(chuàng)超聲測厚技術新時代的創(chuàng)新型儀器。這款手持式測厚儀可有效地適用于幾乎各種超聲測厚應用，而且與幾乎各種雙晶探頭和單晶探頭兼容。功能齊全的38DL PLUS測厚儀可用于各種應用，包括使用雙晶探頭對內(nèi)壁腐蝕的管件進行的管壁減薄的測量，以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進行的非常精確的壁厚測量。

38DL PLUS測厚儀的標準配置帶有很多性能*又易于使用的測量功能，以及許多專用于某些特定應用的軟件選項。其密封機殼的設計符合IP67評級要求，可以在非常潮濕或暴土揚沙的嚴酷環(huán)境中正常操作。其彩色透反VGA顯示屏無論在明亮的陽光下還是在無光的黑暗中都具有非常好的可視性。測厚儀的鍵區(qū)非常簡潔，且符合人體工程學的要求，操作人員使用單手（左手或右手）操控鍵區(qū)，就可以輕松訪問儀器的所有功能。

主要特性

• 可與雙晶探頭和單晶探頭兼容

• 寬泛的厚度測量范圍：0.08毫米到635毫米，具體可測厚度根據(jù)材料和所選探頭而定

• 使用雙晶探頭進行腐蝕測厚操作

• 穿透涂層（THRU-COAT）和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料

• 內(nèi)部氧化層/沉積物軟件選項

• 對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米

• 在使用頻率范圍為2.25 MHz ～ 30 MHz的單晶探頭時，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量

• 多層軟件選項可同時對多層材料的各層進行厚度測量，最多可同時測量4層

• 高穿透軟件選項用于測量玻璃纖維、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料

• 厚度、聲速和渡越時間的測量

• 差分模式和縮減率模式

• 時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可回顧的讀數(shù)

• 帶有數(shù)字式濾波器的奧林巴斯高動態(tài)增益技術

• 用于自定義V聲程補償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能

• 設計符合EN15317標準

這款測厚儀為何與眾不同？

38DL PLUS測厚儀的設計宗旨是滿足苛刻的應用要求，而且其機身堅固耐用，可在野外和生產(chǎn)現(xiàn)場的惡劣條件下正常工作。無論檢測現(xiàn)場潮濕還是多塵，寒冷還是炎熱，明亮或是黑暗，38DL PLUS都可以正常完成檢測工作。如果您需要一款在正常情況下，不怕撞擊，不怕墜落且堅固耐用的測厚儀器，那么，符合IP67評級標準、帶有橡膠保護套的38DL PLUS正是您要尋找的儀器。

在惡劣環(huán)境中操作的性能

• 袖珍型，僅重0.814公斤

• 堅固耐用，設計符合IP67標準

• 爆炸性氣氛：可在國家防火協(xié)會規(guī)范（NFPA 70）500節(jié)I級2分段D組規(guī)定的爆炸性氣氛環(huán)境中安全操作，并且通過了美軍標準MIL-STD-810F方法511.4程序I中規(guī)定的測試。

• 防撞擊測試：通過了美軍標準MIL-STD-810F方法516.5程序I中規(guī)定的測試，每軸6個循環(huán)，15 g，11 msec半弦波。

• 振動測試：通過了美軍標準MIL-STD-810F方法514.5程序I附錄C圖6中的測試，一般暴露：每軸1小時。

• 寬泛的操作溫度范圍

• 帶有支架的橡膠保護套

• 彩色透反VGA顯示，帶有室內(nèi)和室外顏色設置，具有非常好的清晰度

簡便操作的設計理念

• 簡潔的鍵區(qū)，只用單手（左手或右手）即可操控儀器

• 操作簡便的用戶界面，可直接訪問所有功能

• 內(nèi)置和外置microSD存儲卡的存儲方式

• USB和RS-232通訊端口

• 可存儲475000個厚度讀數(shù)或20000個波形的字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器

• 可連接計算機或顯示器的VGA輸出

• 默認/自定義的雙晶探頭設置

• 默認或自定義的單晶探頭設置

• 密碼保護功能可以鎖住儀器的功能

    
               戶外顯示設置，A掃描模式                               室內(nèi)顯示設置，B掃描模式

38-link無線通信適配器

可選配的38-link適配器，通過藍牙（Bluetooth）技術或無線局域網(wǎng)連接方式，可以使操作人員在任何現(xiàn)有的38DL PLUS儀器和其它設備之間傳送和接收數(shù)據(jù)。

38-link適配器具有3種*的無線通訊能力：

• 與奧林巴斯科學云系統(tǒng)（OSC）進行無線通信

• 通過藍牙技術與奧林巴斯鏈接移動應用程序或其他相兼容的第三方應用程序進行通信

• 通過藍牙技術與可選配的link-Wedge軟件進行通信，以直接將厚度讀數(shù)發(fā)送到運行Windows 10的PC機中的激活的Windows應用程序中。

要了解更詳細信息，請參閱有關38-link的博客文章，或下載38-link的產(chǎn)品宣傳冊。

*針對不同的地區(qū)，無線局域網(wǎng)和藍牙適配器的提供情況會有所不同。要了解更詳細的信息，請與您所在地的奧林巴斯銷售代表聯(lián)系。

數(shù)據(jù)記錄器和PC機接口

38DL PLUS測厚儀帶有一個功能齊全的內(nèi)置雙向字母數(shù)字式數(shù)據(jù)記錄器，可方便地收集和傳輸厚度讀數(shù)和波形數(shù)據(jù)。

• 內(nèi)置存儲容量為475000個厚度讀數(shù)，或20000個帶有厚度讀數(shù)的波形

• 32位字符的文件名稱

• 20位字符的ID#（TML#）編碼

• 9種文件格式：增量型、序列型、帶自定義點的序列型、2維柵格型、帶自定義點的2維柵格型、3維柵格型、3維自定義型、鍋爐型及手動型

• 每個ID#（TML）編碼可最多存儲4個注釋

• 注釋可存儲到一個ID#編碼上或存儲到一系列ID#編碼上

• 內(nèi)置和外置microSD存儲卡

• 可以在內(nèi)置和外置microSD存儲卡之間拷貝文件

• 標準USB和RS-232通信

• 單晶和雙晶探頭設置的雙向傳輸

• 機載統(tǒng)計報告

• 機載DB柵格視圖，使用3種可編輯的顏色

• GageView接口程序通過USB或RS-232端口與38DL PLUS測厚儀通信，可以讀取microSD存儲卡上的數(shù)據(jù)，還可以在存儲卡上寫入信息

• 可將內(nèi)部文件以與Excel兼容的CSV（以逗號分隔值）格式直接導出到microSD存儲卡中

GageView

基于Windows的GageView接口應用程序用于收集、創(chuàng)建、打印及管理來自38DL PLUS測厚儀的數(shù)據(jù)

• 創(chuàng)建數(shù)據(jù)集和測量總結

• 編輯所存數(shù)據(jù)

• 顯示數(shù)據(jù)集和測量總結文件，文件包含厚度讀數(shù)、測厚儀設置值及探頭設置值

• 從測厚儀上下載厚度測量總結，或?qū)⒑穸葴y量總結上傳至測厚儀

• 將測量總結導出到電子表格程序及其它程序中

• 收集屏幕截圖

• 打印有關厚度、設置表格、統(tǒng)計及彩色柵格的報告

• 升級操作軟件

• 下載和上傳單晶和雙晶探頭的設置文件

• B掃描回顧

機載DB柵格視圖，使用3種可編輯的顏色

標準配置

38DL PLUS數(shù)字式超聲測厚儀，交流電源或電池供電，50 Hz ～ 60 Hz。
標準雙晶探頭的套裝

• 充電器/AC適配器（100 VAC、115 VAC、230 VAC）

• 內(nèi)置數(shù)據(jù)記錄器

• GageView接口程序

• 試塊和耦合劑

• USB線纜

• 橡膠保護套，帶有儀器支架和頸掛帶

• 《用戶手冊》

• 兩年有限質(zhì)保

測量功能：穿透涂層、穿透漆層回波到回波、EMAT兼容、最小值/值模式、兩個報警模式、差分模式、B掃描、自動調(diào)用應用、溫度補償、平均值/最小值模式

軟件選項

• 38DLP-OXIDE (U8147014)：使用編碼激活的內(nèi)部氧化層測量軟件。

• 38DLP-HR (U8147015)：使用編碼激活的高分辨率測量軟件。

• 38DLP-MM (U8147016)：使用編碼激活的多層測量軟件。

• 38DLP-HP (U8147017)：使用編碼激活的高穿透（低頻）測量軟件。

選購附件

• 38DLP/EW (U8778348)：3年保修。

• 1/2XA/E110 (U8767104)：用于E110-SB EMAT探頭的濾波器適配器。

• 38-9F6 (U8840167)：RS-232線纜

• 38-C-USB-IP67 (U8800998)：USB線纜，用于符合IP67標準的密封操作。

• 38DLP/RFS (U8780288)：腳踏開關，廠內(nèi)安裝。

• HPV/C (U8780124)：數(shù)字式卡尺線纜，用于在測量聲速時進行厚度輸入。

• 38DLP-V-CC (U8840172)： 數(shù)字式卡尺線纜。 

• EPLTC-C-VGA-6 (U8840035)：VGA輸出線纜。

• MICROSD-ADP-2GB (U8779307)：2 GB外置microSD存儲卡。

對內(nèi)部腐蝕的金屬材料進行厚度測量

38DL PLUS測厚儀的一個主要應用是測量那些受腐蝕或侵蝕的管道、管件、箱體、壓力容器、外殼及其他結構的剩余厚度。這些應用中使用的是雙晶探頭。

• 用于標準D79X系列雙晶探頭的自動探頭識別功能。

• 10個自定義雙晶探頭設置。

• 校準過程中用于雙晶探頭的優(yōu)化默認增益。

• 用于自定義V聲程補償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。

• 校準過程中出現(xiàn)回波加倍時使用的校準加倍功能。

• 用于測量帶有漆層和涂層表面的材料的穿透涂層和回波到回波測量功能。

• 高溫測量：溫度可高達500°C。

• 鍋爐管件和內(nèi)部氧化層測量（可選項），使用M2017或M2091單晶探頭。

• EMAT探頭（E110-SB），用于對外部附有氧化層/沉積物的鍋爐管件進行不使用耦合劑的厚度測量。

穿透涂層技術

使用單個底面回波測量金屬的實際厚度。使用這個技術可以分別顯示金屬和涂層的厚度。這兩個厚度都根據(jù)它們各自正確的材料聲速值得到了調(diào)整。因此，要測量金屬的厚度，不再需要減去表面的漆層和涂層。穿透涂層測量技術使用D7906-SM、D7906-RM和D7908雙晶探頭。

溫度補償

材料中的溫度差異會影響材料聲速和厚度測量的精確性。用戶使用溫度補償功能可以手動輸入校準試塊的溫度值和測量時的實際（高）溫度值。38DL PLUS自動顯示經(jīng)過溫度校正的厚度值。

氧化層/沉積物測量（可選項）

38DL PLUS使用高級算法測量鍋爐管件內(nèi)壁氧化層/沉積物的厚度。測厚儀同時顯示鍋爐管件的金屬基底厚度和氧化層的厚度。了解氧化層/沉積物的厚度可以預測管件的壽命。建議在此項應用中使用M2017或M2091探頭。

V聲程創(chuàng)建功能

用戶使用這項正等待通過的新功能可以為幾乎所有雙晶探頭創(chuàng)建一條自定義V聲程補償曲線。在為大多數(shù)雙晶探頭保存和調(diào)用自定義設置時，這條曲線也被同時保存和調(diào)用。 用戶只需校準并輸入已知厚度值（最小3個校準點；10個校準點），儀器就會創(chuàng)建V聲程補償曲線。

自動探頭識別

所有標準的雙晶探頭都具有自動探頭識別功能。這個功能可以為每種不同類型的探頭自動調(diào)用默認V聲程校正。

對塑料、金屬、復合材料、玻璃、橡膠及陶瓷材料進行厚度測量

用戶使用單晶探頭可以精確測量金屬、塑料、復合材料、玻璃、陶瓷及其他材料的厚度。我們提供各種頻率、直徑和接口類型的單晶探頭。用戶使用高分辨率軟件選項可以進行分辨率為0.001毫米的極其精確的厚度測量。

• 對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。

• 在使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭的情況下，高分辨率軟件選項可顯示分辨率高達0.001毫米的測量值。

• 高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。

• 多層軟件選項可對多達4個不同層的厚度同時進行測量。

• 測量厚度、聲速或渡越時間。

• 帶有默認和自定義設置的自動調(diào)用應用簡化了厚度測量。

高穿透軟件選項

用戶使用這個選項可在使用低頻單晶探頭（低到0.5 MHz）的情況下，測量橡膠、纖維玻璃、鑄件及復合材料等較厚或聲波衰減性較強的材料。

多層軟件選項

這個軟件選項計算并同時顯示多達4個不同層的厚度測量值。 這個功能還可顯示所選各層的總厚度。典型的應用包括對塑料燃料箱中的阻擋層、瓶子的預成型坯及軟性隱型眼睛進行的厚度測量。

簡化了數(shù)據(jù)的傳輸和管理

使用超聲測厚儀進行檢測可能非常耗費時間：需要在野外檢測現(xiàn)場記錄數(shù)以千計的單個測量讀數(shù)，然后再把這些數(shù)據(jù)煞費苦心地整理到數(shù)據(jù)管理軟件中。如果這些讀數(shù)是以手寫方式記錄，還會出現(xiàn)人為錯誤，因此會導致設備停機的時間更長，從而會耗費廠商/操作人員更多的時間和成本。

任何38DL PLUS測厚儀安裝了38-link適配器后，都可以通過藍牙（Bluetooth）技術或無線局域網(wǎng)連接方式傳送和接收數(shù)據(jù)，從而簡化了數(shù)據(jù)管理的方式，而且可創(chuàng)建更有效的工作流程。升級操作簡單易行：38-link適配器可被方便地安裝在測厚儀的橡膠保護套上。

*針對不同的地區(qū)，無線局域網(wǎng)和藍牙適配器的提供情況會有所不同。要了解更詳細的信息，請與您所在地的奧林巴斯銷售代表聯(lián)系。

3個連接選項

*的多設備團隊管理工具

38-link適配器將測厚儀以無線方式連接到奧林巴斯科學云系統(tǒng)（OSC）后，操作人員就可以利用多個*的工具，更有效地完成檢測工作。當操作人員擁有一個奧林巴斯科學云系統(tǒng)的賬戶時*，就可以借助38-link適配器完成以下操作：

• 組織和監(jiān)控檢測的工作流程

• 管理多設備團隊中的儀器

• 創(chuàng)建檢測文件，并以無線方式將檢測文件部署到檢測現(xiàn)場的測厚儀中

• 以無線方式接收已經(jīng)完成的檢測文件

*在初始試用期后，需要付費訂閱奧林巴斯科學云系統(tǒng)（OSC），才可以使用云系統(tǒng)的某些功能。請訪問，了解更多信息。

將厚度數(shù)據(jù)傳送到或平板電腦中

測厚儀使用Olympus link Mobile App（奧林巴斯鏈接移動應用程序）和Bluetooth技術，可以向手機或平板電腦發(fā)送厚度數(shù)據(jù)。在移動設備上，可以通過發(fā)送短信或電子郵件的方式分享厚度數(shù)據(jù)，還可以將數(shù)據(jù)保存為一種文本文件，以將其方便地導入到電子數(shù)據(jù)表中。此外，還可以將數(shù)據(jù)發(fā)送到相兼容的第三方移動應用程序中。

將厚度數(shù)據(jù)方便地填充到數(shù)據(jù)輸入程序中

使用可選配的link-Wedge軟件和Bluetooth技術，可以將測厚儀中的數(shù)據(jù)發(fā)送到激活的Windows軟件應用程序中。軟件可以將數(shù)據(jù)填充到幾乎任何基于Windows的數(shù)據(jù)輸入程序中。link-Wedge軟件只與Windows 7和Windows 10相兼容。

應用一：高溫超聲檢測

背景
雖然大多數(shù)超聲缺陷檢測和厚度測量操作在正常的環(huán)境溫度下進行，但是在很多情況下，也需要對溫度很高的材料進行檢測。這類高溫檢測出現(xiàn)在處理工業(yè)中，如：工作人員必須要對生產(chǎn)線上正被處理的高溫金屬管道或箱罐進行檢測，而不能將生產(chǎn)線關閉等待管道或箱罐冷卻后再檢測。不過，在涉及高溫材料的制造環(huán)境中也會需要這類檢測，如：以擠壓成形方式制造了塑料管道或以熱成形方式制造了塑料制品之后需要馬上對這些產(chǎn)品進行檢測，或者在金屬錠或金屬鑄件尚未冷卻時對這些樣件進行檢測。常規(guī)超聲探頭可以檢測溫度約為50°C的樣件。在高于這個溫度的情況下，探頭最終會遭受性的損壞，因為熱膨脹會引起探頭內(nèi)部的組件脫粘。如果被測材料的溫度高于約50°C，則需要使用高溫探頭和特殊的檢測技術完成檢測。

這則應用注釋簡單介紹了有關選擇高溫探頭和耦合劑的參考信息，以及在使用高溫探頭和耦合劑時需要注意的一些重要事項。應用注釋中所講述的常規(guī)超聲檢測針對的是溫度約為500°C的材料。在涉及更高溫度材料的研究應用中，則需要使用高度專業(yè)化的波導技術。這類應用不在本則應用注釋的介紹范圍內(nèi)。

探頭
奧林巴斯的高溫探頭分為兩類：雙晶探頭和延遲塊探頭。在這兩種探頭中，延遲塊材料（在雙晶探頭中為內(nèi)置材料）都起到了防止高溫檢測表面損傷激活探頭晶片的隔熱作用。出于設計原因，在標準探頭產(chǎn)品系列中，沒有高溫接觸探頭或高溫水浸探頭。高溫雙晶探頭和高溫延遲塊探頭可以用于厚度測量和缺陷探測兩種應用中。與所有超聲檢測一樣，為某個特定高溫應用選擇的最合適的探頭取決于檢測應用的具體要求：在厚度測量應用中要考慮材料、厚度范圍、溫度等因素，在缺陷探測應用中要考慮相關缺陷的類型和尺寸等因素。

(a) 厚度測量
高溫厚度測量的見應用是腐蝕檢測，即使用測厚儀，如：38DL PLUS和45MG測厚儀，對高溫管道和箱罐的剩余金屬壁厚進行測量。大多數(shù)可與奧林巴斯的腐蝕測厚儀配合使用的探頭都適用于高溫應用。常用的D790系列探頭可用于被測表面溫度高達500°C的檢測。要查閱提供溫度規(guī)格的腐蝕測厚雙晶探頭的完整列表，請點擊以下鏈接：腐蝕測厚雙晶探頭。

對于使用38DL PLUS或使用帶有單晶軟件的45MG測厚儀完成的精確測厚應用，我們可以為M200系列中的任何標準Microscan延遲塊探頭（包含默認的測厚探頭：M202、M206、M207和M208），配備高溫延遲塊。DLHT-1、DLHT-2和DLHT-3延遲塊可用于檢測溫度高達260°C的表面。DLHT-101、DLHT-201和DLHT-301延遲塊可用于檢測溫度高達175°C的表面。這些延遲塊列于延遲塊選項表中。

在要求使用低頻探頭獲得高穿透性能的具有挑戰(zhàn)性的應用中，還可以將可更換接觸面的Videoscan探頭以及適當?shù)母邷匮舆t塊與38DL PLUS和帶有高穿透（HP）軟件選項的45MG測厚儀一起使用。需要用戶對探頭進行自定義設置。用于這個探頭系列的標準延遲塊可以接觸溫度高達480°C的被測表面。要查閱完整的探頭和延遲塊列表，請點擊以下鏈接：可更換接觸面的探頭。

(b) 缺陷檢測
正如高溫厚度測量應用一樣，高溫缺陷檢測應用使用的探頭也是雙晶探頭或延遲塊探頭。所有標準的奧林巴斯雙晶探傷探頭都具有高溫性能。頻率為5 MHz或更低的指尖型、齊頭外殼型和擴展范圍型雙晶探頭可用于檢測溫度高達約425°C的樣件，更高頻率的雙晶探頭（7.5 MHz和10 MHz）可用于檢測溫度高達約175°C的樣件。要查閱這個類別探頭的完整列表，請點擊以下鏈接：用于缺陷探測的雙晶探頭。

在缺陷檢測應用中，所有可更換接觸面的Videoscan探頭都可與適當?shù)母邷匮舆t塊一起使用。用于這個探頭系列的延遲塊可以接觸溫度高達480°C的被測表面。要查閱適用于各種溫度的探頭和延遲塊的完整列表，請點擊以下鏈接：可更換接觸面的探頭。

使用V200系列中的延遲塊探頭（的是V202、V206、V207和V208）通?？梢苑浅Ｓ行У赝瓿缮婕氨〔牧系臋z測應用，這些探頭都配備有高溫延遲塊。DLHT-1、DLHT-2和DLHT-3延遲塊可用于檢測溫度高達260°C的表面。DLHT-101、DLHT-201和DLHT-301延遲塊可用于檢測溫度高達175°C的表面。這些探頭和延遲塊列于延遲塊探頭列表中。

我們還為用戶提供一些與角度聲束探頭一起使用的特殊高溫楔塊：ABWHT系列用于檢測溫度高達260°C的樣件，ABWVHT系列用于檢測溫度高達480°C的樣件。有關楔塊尺寸的詳細信息可以通過銷售部門查詢。
耦合劑
大多數(shù)常用的，如：丙二醇、甘油及超聲凝膠，如果用在高于100°C的熱表面上，都會快速蒸發(fā)。因此，在高溫下進行的超聲檢測要求使用特殊配方的耦合劑，這類耦合劑在高溫下可以保持穩(wěn)定的液態(tài)或糊狀，而不會蒸發(fā)成氣體，被燒焦或散發(fā)出有毒氣體。在使用這些耦合劑時，一定要了解它們特定的溫度范圍，并在它們相應的特定溫度范圍內(nèi)使用這些耦合劑。聲學性能不佳和/或安全隱患的出現(xiàn)，可能源于樣件的實際溫度超出了所用高溫耦合劑可以使用的預期溫度范圍。

在溫度很高的情況下，即使是特定的高溫耦合劑，也要快速使用，因為時間稍微長一點，耦合劑就會干掉或凝固，且不能再傳播超聲能量。在下一次檢測之前，要將凝固在被測表面和探頭上的殘留耦合劑清除掉。

請注意：垂直入射橫波所需的耦合效果一般不會在高溫情況下獲得，因為商用橫波耦合劑會在高溫下變成液體，并喪失橫波傳播所需的高粘度特性。

還要注意：中溫和高溫耦合劑都不應該在通風不暢的環(huán)境中使用，因為通風不暢會存在蒸汽自動起火的隱患，雖然這種情況不太可能發(fā)生。要了解更詳細的情況，請聯(lián)系奧林巴斯。

要查閱奧林巴斯所提供耦合劑的完整列表，以及每種耦合劑的更詳細信息，請參閱標題為的應用注釋。

檢測技術
在為任何高溫應用創(chuàng)建檢測程序時，一定要考慮以下幾個因素：

占空因數(shù)：在設計所有標準的高溫探頭時，都要考慮到占空比因素。盡管這類探頭的延遲塊對探頭的內(nèi)部起到隔熱作用，但是長時間與很熱的表面接觸也會使熱量高度聚積，而且最終在探頭的內(nèi)部溫度升到足夠高時，會造成探頭的性損壞。對于大多數(shù)雙晶和延遲塊探頭來說，當測量溫度在約90°C到425°C的表面時，我們建議它們所使用的占空比為接觸熱表面的時間不超過10秒鐘（為5秒鐘），然后最少在空氣中冷卻1分鐘時間。注意這只是一般性的指導原則，如果被測樣件的表面溫度達到了某種探頭的特定溫度范圍的上，接觸時間與冷卻時間的比率就變得更為重要。一般來說，如果探頭的外殼變得特別熱，以至于操作人員不帶手套時不能用手舒服地握住探頭時，就說明探頭的內(nèi)部溫度已經(jīng)達到了可以損壞探頭的溫度，此時必須使探頭冷卻，才可以繼續(xù)進行檢測。某些用戶會使用涼水冷卻的方式加速探頭的冷卻過程，但是奧林巴斯沒有發(fā)布過任何有關涼水冷卻的指導原則，因此這種方法是否適用必須由用戶自己決定。

奧林巴斯的EPOCH系列探傷儀及其所有測厚儀都有凍結功能，這個功能可用于凍結屏幕上顯示的波形和讀數(shù)。凍結功能在進行高溫檢測時非常有用，因為它可使操作人員在采集了讀數(shù)后，快速將探頭從高溫表面上移走。然后，如果需要，用戶可以對增益或凍結波形上的空白進行調(diào)整。使用測厚儀時，應該使用快速屏幕更新模式，以盡量減少探頭與熱表面的接觸時間。

耦合技術：由于探頭占空比的要求以及耦合劑在其可用溫度范圍的上容易固化或汽化的特點，操作人員在進行這類檢測時一定要快速操作。很多用戶發(fā)現(xiàn)耦合技術是在探頭的接觸面上滴上耦合劑，然后將探頭牢固地按壓在被測表面上，不要扭動或碾磨探頭（否則會使探頭受到磨損）。在每次檢測之前，一定要將凝固在探頭端部上的殘留耦合劑清除掉。

增益提升：38DL PLUS和45MG測厚儀都提供了可由用戶調(diào)節(jié)的增益提升功能，這點與所有EPOCH系列探傷儀一樣。因為高溫測量過程中會出現(xiàn)較大的聲能衰減現(xiàn)象，因此在測量之前提高增益值通常都非常有用。

聲速變化：所有材料的聲速都會隨著溫度的變化而改變，會隨著材料溫度的升高而減慢。要對高溫材料進行準確的厚度測量，往往需要對聲速進行重新校準。鋼中的聲速，在溫度每變化55°C時，會有大約1%的變化。（確切的聲速變化值取決于合金的成份。）塑料和其他聚合物中聲速的變化會大得多，在溫度每變化55°C，一直到達到熔點的情況下，聲速的變化可能會接近50%。如果用戶沒有一份材料的溫度/聲速變化圖表，則要在實際檢測的溫度下，對由被測材料制成的樣件進行一次聲速校準。38DL PLUS測厚儀中的溫度補償軟件功能可用于基于一個編入程序的溫度/聲速常量，為已知升高的溫度自動調(diào)整聲速。

零位重新校準：當使用雙晶探頭進行厚度測量時，切記特定探頭的零位偏移值會隨著溫度的升高而變化，因為聲波在延遲塊中的傳播時間會發(fā)生變化。因此，為保證測量結果的準確性，需要時常對探頭的零位值進行重新校準。在使用奧林巴斯的腐蝕測厚儀時，操作人員可以通過測厚儀的自動零位功能快速方便地完成零位重新校準操作，這個功能也被稱為零位補償功能。

增加的聲衰減：所有材料的聲衰減都會隨著溫度的升高而增加，而且在塑料中的衰減程度要比在金屬或陶瓷中明顯得多。對于典型的細晶碳鋼合金來說，在室內(nèi)溫度下，探頭頻率為5 MHz時，每100毫米單向聲程（相當于每個方向各50毫米的一個往返聲程）的聲衰減約為2 dB。在500°C的溫度下，每100毫米聲程的聲衰減會增加到約15 dB。在高溫下通過長聲程進行檢測時，這種對聲衰減的影響會要求用戶使用很高的儀器增益，還可能需要對在室溫條件下創(chuàng)建的距離/波幅校正（DAC）曲線或時變增益（TVG）程序進行調(diào)整。

聚合物中的溫度/衰減效果會高度依賴組成材料的不同成分，但是，一般來說其衰減程度為上述鋼材料衰減值的幾倍。特別是在使用較長的高溫延遲塊時，因為當延遲塊的溫度升高時，聲波在延遲塊中的傳播可能會得到衰減。

楔塊中的角度變化：對于任何高溫楔塊來說，楔塊材料的聲速將隨著溫度的升高而減少，因此隨著楔塊溫度的升高，聲波在金屬中的折射角度會增大。如果在某項檢測中需要考慮到這個因素，則用戶必須在實際操作溫度下，核查聲波的折射角度。實際上，在檢測中溫度的變化經(jīng)常會使操作人員很難準確地判斷聲波的實際折射角度。

應用二：玻璃材料的厚度測量

應用：測量商業(yè)玻璃制品的壁厚，這些玻璃制品包括玻璃瓶、玻璃容器、玻璃管、玻璃片和玻璃板、科研用玻璃器皿、燈泡和燈具，此外，還可以測量箱罐內(nèi)襯玻璃涂層的厚度。

背景：玻璃是一種價格低廉且用途極為廣泛的工程材料，通過鑄造、塑造或吹造方式可以被制成各種形狀的產(chǎn)品。由于高頻聲波可以在玻璃材料中順暢傳播，因此使用超聲技術可以非常有效地測量玻璃材料的厚度，玻璃材料還具有非磁性的特點，因此還可以使用Magna-Mike霍爾效應測厚儀對玻璃材料的厚度進行測量。由于大多數(shù)常見玻璃制品具有特殊的幾何形狀，因此很難或無法通過機械測厚方式，如：卡尺或千分尺，對它們的厚度進行測量，但是奧林巴斯的設備可以對幾乎所有常見的玻璃制品方便地進行厚度測量。使用這些設備進行的測厚操作，不僅不會損壞玻璃材料，而且還可以迅速、準確、可靠地完成厚度測量應用。

設備：Magna-Mike：Magna-Mike 8600霍爾效應測厚儀是一款用于測量玻璃制品的優(yōu)質(zhì)儀器，可以對一端開放且可放入目標鋼珠的玻璃瓶、玻璃容器和玻璃管的厚度進行測量，不過這些玻璃制品的厚度不能超過約25毫米。Magna-Mike儀器使用磁場效應，測量緊貼在被測樣件外壁的探頭到可在容器內(nèi)側隨著探頭移動的小鋼珠之間的距離。Magna-Mike通常是測量容器邊角處的厚度或接觸空間狹窄的曲面部位厚度的的設備，而且不需要進行特定材料的校準。

在使用Magna-Mike儀器對玻璃材料進行厚度測量時，無需進行特殊的設置，也無需遵循特定的操作程序。只需按照儀器操作手冊中講述的方式進行操作即可。通常建議使用標準86PR-1探頭完成測量玻璃材料厚度的應用。探頭和目標鋼珠一般不會擦傷工業(yè)玻璃材料。

超聲測厚儀：精確測厚儀，如：38DL PLUS型號儀器和帶有單晶軟件的45MG型號儀器，可用于測量厚度在約0.125毫米到500毫米范圍內(nèi)的典型的玻璃制品。與任何其它測厚應用一樣，超聲測厚儀測量的是在被測樣件材料中傳播的高頻聲波，完成一次往返聲程所需的時間，然后再使用這個測量到的脈沖傳播時間以及一個校準過的材料聲速，計算材料的壁厚。超聲測厚儀可用于測量所有普通玻璃制品，不過它們的價值更充分地體現(xiàn)在以下情況中：玻璃材料的厚度超出了Magna-Mike儀器可以測量的范圍；玻璃制品的幾何形狀不能將目標鋼珠放置其中（如：封閉的燈泡）；要求精度的測厚應用（誤差接近+/- 0.002毫米）。

超聲精確測厚儀：38DL PLUS型號和帶有單晶軟件的45MG型號儀器已經(jīng)預先配置了默認的探頭設置，這些默認的探頭設置可用于大多數(shù)普通玻璃的測厚設置中。在進行測量時，只需要根據(jù)儀器操作手冊中所講述的方式進行聲速校準和零位校準即可。在某些并不多見的特殊情況下，如：樣件具有復雜的幾何形狀，或其它檢測條件挑戰(zhàn)性，可能會要求用戶使用自定義探頭設置，例如：如果曲面部位的接觸空間非常狹窄，則建議使用聚焦水浸檢測方式。在這些應用中，奧林巴斯會幫助用戶完成特定的設置。

以下所列為一些見的玻璃材料測厚應用：

玻璃瓶與玻璃容器：Magna-Mike是測量玻璃瓶和玻璃容器壁厚的儀器，但是超聲測厚儀與小直徑接觸式探頭一起使用時，如：M116（20 MHz）探頭，也可以有效地完成這些應用。測厚操作迅速、簡便，而且對材料沒有任何損傷。

玻璃管：大多數(shù)玻璃管較短部分的厚度可以通過使用Magna-Mike儀器非常方便地測量。也可以使用小直徑接觸式探頭，如：M116（20 MHz），以超聲方式對玻璃管的厚度進行測量。如果所測玻璃管的直徑非常?。ㄐ∮诩s6.25毫米），則一般建議使用聚焦水浸探頭，如：M316-SU F-.75（20 MHz），進行檢測，以優(yōu)化聲波的耦合效果。這些探頭通常與B-103噴水器一起使用，以保持聲束相對于玻璃管的方向。

玻璃片和玻璃板：較薄的玻璃片和玻璃板（低于10毫米）的厚度可使用Magna-Mike儀器方便地進行檢測，而較厚的玻璃板的厚度則要使用38DL PLUS型號測厚儀或帶有單晶軟件的45MG測厚儀，結合接觸式探頭，如：工件編號為M109（5 MHz）和M106 （2.25 MHz）的探頭，以超聲方式進行測量。

科研用玻璃器皿：當科研用玻璃器皿的形狀可以放入目標鋼珠時，就可以使用Magna-Mike儀器對玻璃器皿的厚度進行方便地測量。對于不能使用目標鋼珠進行測量的封閉燈泡和復雜形狀的樣件，一般可以使用精確測厚儀以超聲方式進行測量。在測量直徑非常?。ǖ陀诩s6.25毫米）的玻璃管或小球體（直徑低于25毫米）時，一般建議使用聚焦水浸探頭，如：M316-SU F-.75（20 MHz），以優(yōu)化聲波的耦合效果。這些探頭通常與噴水器一起使用，以保持聲束相對于玻璃管的方向。

燈泡和燈具：封閉玻璃燈泡和燈具的極薄壁厚可使用精確測厚儀和M208延遲塊探頭（20 MHz）進行測量。某些狹小的內(nèi)圓角部位的厚度可能需要使用聚焦水浸探頭和適當?shù)膰娝鬟M行測量。同樣的測厚儀和探頭也可以用于測量有時會涂在玻璃燈泡外側的塑料保護涂層的厚度。

玻璃涂層：玻璃涂層的厚度，如：某些化學箱罐的保護內(nèi)層，通?？梢猿暦绞竭M行測量。的測量方式是從內(nèi)部的玻璃涂層進行測量，但是在很多情況下，操作人員接觸不到容器的內(nèi)側，因此只能通過鋼制的容器壁對玻璃涂層進行測量。在很多情況下，帶有多層測量軟件選項的38DL PLUS型號儀器可同時對內(nèi)側玻璃涂層和箱罐的壁厚進行測量。對探頭的選擇及對儀器的設置取決于所測量的特定材料以及厚度范圍。要了解更詳細情況，請聯(lián)系奧林巴斯。

材料研究：玻璃的物理特性，如：彈性模量、殘余應力、硬度、密度等，通常與縱波聲速和橫波聲速等聲學特性密切相關。奧林巴斯為從事超聲材料研究的科研人員提供了各種儀器設備，如：可顯示測速儀讀數(shù)的測厚儀、探傷儀、脈沖發(fā)生器/接收器，以及種類齊全的接觸式、延遲塊和水浸式探頭。