鍍層和涂層測厚儀

＊beta射線反向散射測量技術(shù)

＊依照標準ASTM B567，ISO/DOS 3543和DIN 50 983的準則

＊應用在測量許多經(jīng)典結(jié)構(gòu)的鍍層厚度，包括鎳上鍍金（Au/Ni）,環(huán)氧樹脂鍍銅（Cu/epoxy），光致抗蝕劑photoresist，銅上鍍銀（Ag/Cu），科瓦鐵鈷鎳合金上鍍錫Sn/kovar，鐵上鍍氮化鈦Ti-N/Fe，錫鉛合金Sn-Pb。

＊ Micro-Derm MP-900可以利用霍爾效應技術(shù)測量銅上鍍鎳（Ni/Cu）的厚度。

＊探頭系統(tǒng)可以用于精確測量各種樣品表面，從小零件（連接器和端子）到大零件（印制線路板）。

l Micro-Derm BBS厚度標準片（4點設定）包括：純材料的底材，表面鍍層的純材料無限厚片和兩塊經(jīng)過NIST（美國聯(lián)邦標準技術(shù)委員會）認證的標準厚度的薄片。

l 高質(zhì)量的制造技術(shù)確保盡可能精確的鍍層厚度測量。

l 設計體現(xiàn)了的易操作性和高效率。


融合了beta射線反向散射和霍爾效應測量技術(shù)。避免了因為存在兩種需要而購買了兩種儀器的麻煩。

＊緊湊的設計

＊全面的測量能力

＊經(jīng)濟的X射線熒光分析儀器的替代品

＊提高生產(chǎn)量

＊45種標準檔案記憶允許用戶快速的進行應用轉(zhuǎn)換。

＊獨特的NOVRAM 設計使得即使在備用電源斷電時仍可以保留有價值的校準檔案。

＊標準校準模式：4點，3點，2點，線性，多點和Sn-Pb.

＊特殊的多點Sn-Pb校準模式可以對不同的Sn-Pb組分進行自動補償和修正。

＊新的3點BBS模式并不需要純材料鍍膜標準片。

＊多點校正模式應用于霍爾效應測量（測量鎳厚）。