久經(jīng)考驗的技術(shù)和可靠性
智能設(shè)計特色
SediGraph III Plus 粒度分析儀的設(shè)計確保了測量的重復性和使用的便利性。使得儀器操作更加容易，日常維護更加簡單。并且能夠確保對同一樣品，在任意一臺SediGrap h 儀器上都能獲得重復性的結(jié)果。
? 高精度X 光管終身保修（7 年）
? 簡化泵系統(tǒng)，確?？焖俜治龊鸵子诰S護
? 降低噪聲，提供更加安靜的工作環(huán)境
? 維護提醒裝置，根據(jù)總測試量，提示用戶進
SediGraph III PLUS 5125 Particle Size Analyzer
全自動X光沉降粒度分析儀
在過去的四十多年中，麥克公司的SediGraph 是眾多實驗室粒度分析的標準儀器。無論是在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境中還是在實驗室里，SediGraph 憑借其的性能，能夠獲得可靠精確的測量結(jié)果。該儀器采用X-光沉降法測量粒徑分布，通過檢測樣品對X射線的吸收直接測量顆粒質(zhì)量。SediGraph 根據(jù)斯托克斯定律，通過測量顆粒在已知性質(zhì)液體中的沉降速率，能夠得出粒徑范圍在0.1μm-300μm間樣品顆粒的等效球徑。
新一代的SediGraph III Plus 粒度分析儀結(jié)合了經(jīng)典的和改進的顆粒分析技術(shù)，能夠提供具備更高重復性和精確度的顆粒粒徑信息，并且進一步加快了測試速度，在幾分鐘內(nèi)即可完成測試。