
測試項(xiàng)目:電子探針微分析
測試對象:巖石礦物鑲嵌靶、探針片等
測試周期:5-10個(gè)工作日
送樣要求:
1、靶、探針片等樣品表面平整、光滑,避免影響數(shù)據(jù)質(zhì)量;
2、提前將測試點(diǎn)位用半圓圈起,并將各點(diǎn)位直線連接以便測試時(shí)快速定位,具體請咨詢相關(guān)技術(shù)人員。
方法描述:
EPMA電子探針方法說明
長期標(biāo)樣:


電子探針是一種利用電子束作用樣品后產(chǎn)生的特征X射線進(jìn)行微區(qū)成分分析的儀器,可以用來分析樣品中微區(qū)的化學(xué)組成。除H、He、Li、Be、B等幾個(gè)較輕元素和U以后的元素以外都可進(jìn)行定性和定量分析。可以進(jìn)行點(diǎn)、線掃描、面掃描分析。廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、電子材料、生物、醫(yī)學(xué)、考古等領(lǐng)域,檢測樣品內(nèi)容包含了金屬材料、建筑材料、半導(dǎo)體材料、無機(jī)材料以及礦石樣品等。





























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