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公司介紹主營產品

千宇光學專注于偏振光學應用、光學解析、光電探測器和光學檢測儀器的研發(fā)與制造。核心事業(yè)涵蓋光電材料、光學顯示、半導體、薄膜橡塑等行業(yè)。產品覆蓋LCD、OLED、VR、AR等上中下游各段光學測試需求，并于國內研發(fā)相位差測試儀打破國外設備壟斷，目前已廣泛應用于全國光學頭部品牌及其制造商。

千宇光學研發(fā)中心由光學博士專家團隊組成，掌握獨立自主的光學檢測技術, 測試結果可溯源至國家計量標準。千宇以提供高價值產品及服務為發(fā)展原動力，通過持續(xù)輸出高速度、高精度、高穩(wěn)定的光學檢測技術，優(yōu)化產品品質，成為精密光學產業(yè)有價值的合作伙伴。

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產品簡介在線詢價

產地	國產	加工定制	是	測試光斑	3 mm
軸角度測試范圍	0 ~180°, ±90°	光譜儀參數(shù)	波長精度：±0.2 nm	尺寸	55cm?寬45cm?高 70cm
相位差測量重復性	≤0.08nm	測試波長范圍	400nm-800nm（可拓展）

PLM系列相位差測量儀采用高精度Muller矩陣可解析多層相位差，是對吸收軸角度、快慢軸角度、相位差、偏光度、色度及透過率等進行高精密測量；是結合偏光解析和一般光學特性分析于一體的設備，提供不同型號，供客戶進行選配，也可以根據(jù)客戶需求定制化機型。

偏振光學檢測設備相位差測量儀PLM-100P 產品詳情

圓偏光貼合角度/相位差/軸角度測試儀PLM-100P

測試對象：偏光片、雙折射材料、離型膜、補償膜

測試項目：

1.補償膜的波長分散性、面內補償值Re、厚度方向補償值 Rth、三維折射率、全波段透過率、光軸方向、預傾角 Beta；偏光片的透過率（單體、平行、直交）、偏光度，色度（L a,b)等

2.復合膜的貼合角測試：偏光片與波片（圓偏光）的貼合角、相位差及全波段橢圓率

3.偏光片：吸收軸角度測試，透過軸角度測試

優(yōu)勢：

• 可以測試0-20000nm的相位差范圍

• 可實現(xiàn)超低相位差測試，可解析Re為1納米以內基膜的殘留相位差

• 高相位差測試，可對離型膜、保護膜等高相位差樣品進行檢測

• 搭載多波段光譜儀,檢測項目涵蓋偏光片各光學性能，高精密高速

關鍵詞：光譜儀

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